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光学测量 > 干涉测量 s@c.nT%BYL k%S;N{Qh@ 任务/系统说明 v<wR`7xG
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K!a4>Du{ 亮点 8rwXbYx
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r=o\!sh[ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； iAAlld1 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； A J`R2
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-w#Hy>E 具体要求：光源 Skn2-8;10 lp=8RbQYC  +W -,74A | zaYIVE[ 具体要求：用于准直的消色差透镜 IR<`OA f<T"# G$5 sF=8E8qa  'K0 =FPB/@ <h"*"q|9 j%y)%4F8  !e"TWO*X uI*2}Q 具体要求：分束器 S@'yuAe*G 9:l@8^_o  }1 /`<m
6+;B2;*3 具体要求：参考光路反射镜 )(&WhZc Z $_P *Bk)  u(`,7 o "
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*`HE$k! 具体要求：测试光路反射镜 F;&a=R!. `?PpzDV7Y  Ef2#} %>
xN a Dzu" 具体要求：探测器 [ sT}hYh+ Q41eYzAi  ;| :^zo mCY+V~^~kz 结果：3D光线追迹 H)${" MiX*PqNTM  :$#"; t| @9wug!, 结果：场追迹 wv eej@zs @6roW\'$
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o|v_+<zD! 结果：移动样品的场追迹结果 gZ^NdDBO ,X2CV INb}  4X5Tyv(Dp 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 iB:](M d'r
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