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光学测量 > 干涉测量 %"$@%"8;3 -7]Xjb5 任务/系统说明 C*6S@4k _GtBP'iN
p='-\M74K *wbZ;rfF 亮点 ?(zoTxD (&\aA 0-}H
Uu p(6`7 &Vk; VM`5 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; PH4%R]{8{ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; MQ/
A]EeL q 2?X"! 具体要求:光源 rw%l*xgX k!XhFWb mryN} kAzd8nJ' 具体要求:用于准直的消色差透镜 d.<~&.-$ <I*x0BM= ?:rx1}:F J]/}ojW3 V~{
_3YY SpTdj^ ]4> ni CE\B~ *gsAn<
具体要求:分束器 KU&G;ni2 @$@mqHI} y>VcgLIB /i|z.nNO 具体要求:参考光路反射镜 $6f\uuTU2" f`<FT'A sYbH|} wzcai
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WT3gNNx| S9sR# 具体要求:测试光路反射镜 w2gf&Lc\ 1' w:`/_ n(Y%Vmy 3HV%4nZLf 具体要求:探测器 tV;%J4E' cSP*f0n,eo L wJ0 l3i,K^YL 结果:3D光线追迹 _uxPx 21g} "AueLl) >%b\yl%0 >O9sk 结果:场追迹 H6kf
K5, ;I6s-moq_
`|e!Kq?#Q H:&?ha,9 结果:移动样品的场追迹结果 UV7%4xM5v dXvt6kF P!g-X%ngo 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 P~C rtTss 9>*c_ 文件&技术信息 my\&hCE [2Mbk~
,i}|5ozj4 RNJFSD. +JdZPb QQ:2987619807 N_wp{4 0/
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