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光学测量 > 干涉测量 P %vouC0W M _cm,|FF 任务/系统说明 r 9b(d]
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 O ]-8 %
pa?AKj] 亮点 ;yjw(OAI*
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g_>E5z. •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； Y -+ Kf5_[ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； |\|
v%`r2
Y< N#{)Q 具体要求：光源 8-kR {9r !B9 Yw/Ba  \FCPD.2s+ 1E4`&? 具体要求：用于准直的消色差透镜 Q4S:/"*v8 )/OI zbA3# 2pSp(@ N3  8)Vl2z C+t|fSJ d :cOdm>,  !Bg^-F:N 5*90t{# 具体要求：分束器 B_8JwMJu3 ?Lv U 7  5s4x%L (~}
M A%g-} 具体要求：参考光路反射镜 Ax O.adQE% 2sEG# /Y=  ! g|[A7<|
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 Y$|KY/)H)
3(* vZ 具体要求：测试光路反射镜 ~Xr[d07bC c2s73i z  fNyXDCl
FS!vnl8` 具体要求：探测器 :r:x|[3. AnZy
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?@3d 结果：3D光线追迹 4>B= k "N}MhcdS  b`;&o^7gMO Dv^M/z2&[ 结果：场追迹 e%9zY{ABR% /7.//klN
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(&_~eYZU 结果：移动样品的场追迹结果 ]2@lyG#<< uFvR(LDb&g  ^ZBTd5t# 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 "b)E H/ s
dn_l#$ U 文件&技术信息 Q5 o0!w "412w^5[T
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&C?4'e QQ：2987619807 dtV7 YPz4+
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