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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 uGH?N  
    #2p#VQh  
    任务/系统说明 nD6G  
    ](0mjE04<d  
    sfD5!Z9#1  
     ]ya; v '  
    亮点 t'qL[r%?  
    0~WF{_0|  
    :QQlI  
     0BU=)Swku  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； \_]En43mg  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； Xq#Y*lKVD  
     9(_{`2R8  
    具体要求：光源 /Ft:ffR|R  
    n> w`26MMp  
    B;#J"6w  
    :<S<f%  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 ]/2T\w.<  
    B|Wk?w.{r\  
    np$ zo  
    ;/O#4]2*  
    +b$S~0n   
    D)b}f`  
    @E9" Zv-$  
    mqtg[~dNc  
    具体要求：分束器 Sr Ca3PA  
    0"WDH)7hJ  
    ]wn/BG)  
     (GK pA}~R  
    具体要求：参考光路反射镜 :%r S =f  
    p^)B0[P9  
    {<$b Aj  
    /%rq hHs  
    #& .]" d  
     Ww3wsyx  
    具体要求：测试光路反射镜 VRng=,  
    i?@M  
    @J 'YV{]  
     ;iYff N  
    具体要求：探测器 0S/' 94%w  
    L1m{]>{-  
    w!^~<{ Kz  
    nA7M8HB  
    结果：3D光线追迹 f{#j6wZM  
    'cZN{ZMWG  
    .10y0F L4  
    Q+q,!w8  
    结果：场追迹 []kN16F  
    s Kicn5  
    U Z_'><++  
     AasZuO_I  
    结果：移动样品的场追迹结果 1QqHF$S  
    E;Y;r"  
    f2I6!_C!+  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 h11.'Eej`  
     njPPztv/@  
    文件&技术信息 ^]C&tG0 !  
    !]` #JAL7  
     -Sv"gLB  
    X|LxV]  
     wBk@F5\<  
    QQ：2987619807 nR;D#"p%  
     
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