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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 /o*r[g7<  
    Q *![u5#  
    任务/系统说明 c8v+eyn  
    ?H#]+SpOcv  
    zZ3,e L  
    lUJ/ nG0l  
    亮点 [k ZvBd  
    4=9To|U*  
    %fGS< W;  
    U+3,(O  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; + G#qS1  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 > nDx)!I  
    (Eq0 |"cj  
    具体要求:光源 &B1d+.+  
    ,a9<\bd)  
    o$FqMRep  
    ,Drd s"H  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 9[N+x2q  
    K'+GK S7.  
    }#ZQ\[  
    8zP{Cmm  
    RLOB  
    J*Dj`@`4`g  
    , |CT|2D>  
    &~ QQZ]q6  
    具体要求:分束器 HaXlc8  
    In#V1[io  
    +|Z1U$0g  
    !([Q1r{u  
    具体要求:参考光路反射镜 =W"BfG  
    `c ~Va/Yi  
    "K5n|{#  
    *G7$wW:?  
    OM*N)*  
    /Y_F"GQ  
    具体要求:测试光路反射镜 g^OU+7o  
    3/+9#  
    $=uyZTYF)}  
    )T/"QF}<T  
    具体要求:探测器 p&ytUT na  
    hPLQ)c?   
    B.vg2N  
    P/5bNK!  
    结果:3D光线追迹 ]S<y,d-  
    ( >zXapb2  
    P*_!^2  
    e;\g[^U  
    结果:场追迹 -&I%=0q  
    p(in.Xz  
    p8o ~  
    Wly-z$\  
    结果:移动样品的场追迹结果 XP~bmh,T,  
    6"U&i9  
    [,e[~J`C  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 lp3 A B  
    5<\&7P3y  
    文件&技术信息 7Gd)=Q{uur  
    "v@$CR9<T  
    ESp)%  
    NXb_hF  
    o<ak&LX`9  
    QQ:2987619807 < ek_n;R  
     
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