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光学测量 > 干涉测量 >layJt Q<KvBgmT 任务/系统说明 ~5 *5 ;Y;qg
#SX8=f`K5 lK4M.QV
?\ 亮点 E[*Fz1> +Wx{:
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o1?< ^~$)F_`" •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; *=wYuJ# •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; 9(L)&S{4K x,otFp 具体要求:光源 ^.hoLwp. X*,%&6O* :LQ5u[g$\ .'rW.'Ft 具体要求:用于准直的消色差透镜 TzntO9P+ U
R%4@ ,N
e;kI j8n4fv-)f gCN$} |<Gl91 g"L|n7_b Q\WC+,_% 具体要求:分束器 ^kgBa2 7 r} P<iX hTM[8 ~<^ 8-lOB 具体要求:参考光路反射镜 PZm:T+5H 3 HIz9F( c=
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" 3`#6ACF
jC3Vbm&ZZ ~\cO"(y5:O 具体要求:测试光路反射镜 g(Io/hyj ZWm8*}3]7_ Ik[s Ht-t1q 具体要求:探测器 Qq@G\eRo 4_UU<GEp r 3M1e+'fc sz9G3artK& 结果:3D光线追迹 A5+rd{k/ h8X g`C\ +R\vgE68 >rP#ukr5 结果:场追迹 b-Z4
Jo
G Bcjx>#3?L
UDc$"a}ds{ 3GmeD/6 结果:移动样品的场追迹结果 Hh4 n +e-,ST&w( 4:sjH.u< 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 x%< VN'Wq7>6 文件&技术信息 Y];Ycj; ooj~&fu
H Y ynMP )%X;^(zKM 0vGyI> QQ:2987619807 ^Q{Bq
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