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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量 %"$@%"8;3  
     -7]Xjb5  
    任务/系统说明 C*6S@4k  
    _GtBP'iN  
    p='-\M74K  
    *wbZ;rfF  
    亮点 ?(zoTxD  
    (&\aA 0-}H  
    Uu p(6`7  
    &Vk; VM`5  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; PH4%R]{8{  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 MQ/ A]EeL  
    q 2? X"!  
    具体要求:光源 rw%l*xgX  
    k!XhFWb  
    mry N}  
    kAzd8nJ'  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 d.<~&.-$  
    <I*x0BM=  
    ?:rx1}:F  
    J]/}ojW3  
    V~{ _3YY  
    SpTdj^]4>  
    ni CE\B~  
    *gsAn<  
    具体要求:分束器 KU&G;ni2  
    @$@mqHI}  
    y>VcgLIB  
    /i|z.nNO  
    具体要求:参考光路反射镜 $6f\uuTU2"  
    f`<FT'A  
    sYbH|}  
    wzcai 0y*  
    WT3gNNx|  
    S9sR#  
    具体要求:测试光路反射镜 w2gf&Lc\  
    1'w:`/_  
    n(Y%Vmy  
    3HV%4nZLf  
    具体要求:探测器 tV;% J4E'  
    cSP*f0n,eo  
    LwJ0  
    l3i,K^YL  
    结果:3D光线追迹 _uxPx21g}  
    "AueLl)  
    >%b\yl%0  
    >O9 sk  
    结果:场追迹 H6kf K5,  
    ;I6s-moq_  
    `|e!Kq?#Q  
    H:&?ha,9  
    结果:移动样品的场追迹结果 UV7%4xM5v  
    dXvt6kF  
    P!g-X%ngo  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 P~CrtTss  
    9>*c_  
    文件&技术信息 my\&hCE  
    [2Mbk~  
    ,i}|5ozj4  
    RNJ FSD.  
    +JdZPb  
    QQ:2987619807 N_wp{4 0/  
     
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