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光学测量 > 干涉测量 x:MwM? -eF-r=FR 任务/系统说明 vF$(
Y/ Gg'!(]v
h8`On/Ur_8 rwLKY.J] 亮点 9m)$^U>oz ?K[Y"*y2
,XEIg mcd{:/^? •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; zK5&,/ •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; wkx9@?2* &Uam4'B6- 具体要求:光源 %(W&(eN spfW)v/T! ,yltt+e f
X[xZGV, 具体要求:用于准直的消色差透镜 6v3l^~kc' Z|n|gxe /=p[k^A &<e18L7a Z8$BgP >SDQ@63E? w/*G!o-< 5,gT|4|B\g 具体要求:分束器 u?`{s88_mF =l43RawAmu -n 9&W x8@ 4lxj 具体要求:参考光路反射镜 T-a>k.}y ?A|JKOst] ~x,_A>a }?,?2U,8:
P_A@`eU0 RlL]p`g 具体要求:测试光路反射镜 IrL%0&*hS 6NX#=A (BLxK)0<" ^_ch%3}Im 具体要求:探测器 [L+*pW+$\. AE77i,Xa \:J=tAC -r sbSt ?_ 结果:3D光线追迹 P$U"y/ ,N(Yjq"R $,~Ily7w U)8yd,qG[% 结果:场追迹 P5?VrZy N 5*Qnb8
Vr},+Rj %N-aLw\ 结果:移动样品的场追迹结果 ?{ExBZNa FJZ'P;3 i=#`7pt%'a 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 B$2b=\ cRf F!EV 文件&技术信息 6
^3RfF^W o^~ZXF}
*eoH"UFYQ# Fy{yg]O" .+1I>L QQ:2987619807 ~QbHp|g
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