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    [分享]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-28
    光学测量 > 干涉测量  KcT(/!  
    O]I AIM  
    任务/系统说明 @.L#u#   
    Ktk?(49  
    ^2 dQVV.  
      D?Beg F  
    亮点 P*k n}:  
    OIFjc0  
    kiF}+,z"  
     O C;~ H{  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； OTYkJEC8\N  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； 5]G%MB/|$  
     y_: {p5u  
    具体要求：光源 b0 }dy\dnQ  
    %]F/!n  
    WReHep  
    ` { Ox=+]M  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 I?1 BGaAA  
    /\e_B6pF<  
    vAP1PQX;  
    %S%UMA.  
     qbc=kP  
    {yNeZXA>  
    l>|scs;TI  
    $mT)<N ;w  
    具体要求：分束器  3B]E2  
    zZd.U\"2  
    oHfr glGX  
     `j3 OFC{7E  
    具体要求：参考光路反射镜 `)$G}7cRUH  
    44 8%yP  
    3ylSO73R  
    VOYQ<tg  
     zv"NbN  
     {.U:Ce  
    具体要求：测试光路反射镜 X6}W]  
    o]I8Ghk>/z  
    I@qGDKz;  
     qQf NT.  
    具体要求：探测器 JS03B Itt  
    O=LW[h!  
    le_a IbB"P  
    l_;6xkv4  
    结果：3D光线追迹 u[SqZftmO  
    ;wJe%Nw?  
    r?~_^  
    8_wh9   
    结果：场追迹 AcJrJS)~  
    yFd.tQs  
    @8w[Zo~  
     tYgHJ~1L*  
    结果：移动样品的场追迹结果 =i}lh}(  
    gKQs:25  
    P B-x_D  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 CL`+\ .  
     v2r|) c,h  
    文件&技术信息 n2_;:=  
    "J*>g(H53  
     }Z\S__\9  
    M*cF'go  
     cDYO Ju.  
    QQ：2987619807 uF[*@N  
     
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