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光学测量>显微 )~gIJW x!7r7|iV 任务/系统描述 = l:k($%% y}is=h3
| UB)q5I &8yGV i 亮点 ^cE {Uv 6=qC/1,l
fP6\Ur U ^nv) 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 `,]_r4~ ~ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 e"*1l>g 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 >?_}NZ,y 59p'U /| 说明:光源 ;Qi!~VsP; |ICn/r~ mkfDDl2 GP }/#*opcv 说明:透镜系统 T1R~^x1 ?|pP&8r ti$60Up Z"qJil} 说明:样品结构 UG_PrZd KFRf5^ % gK( G1 cr|]\ 说明:探测器 3)L#V
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2knSS =v'Aub 结果:3D光线追迹 +'+Nr< _n!>*A!
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