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光学测量>显微 ;T3}#Q*qC ;7U"wI_~c 任务/系统描述 >A>_UT_" xp%LXxj
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(V<pz2\ 亮点 ;nw}x4Y[ K`8$+JDP+
KvmXRf*z o+g\\5s 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ~F13}is 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 $D;-;5[-/r 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 nVoP:FHH %
|G"ZPO? 说明:光源 ?6 _U>d{ M9Qx F
,+!|~1 'tY y_ 说明:透镜系统 ^~W s4[Guo Rf TG
5E) ;Swj`'7 [m6%_3zV 说明:样品结构 CO{AC~ cB_3~=fV DEt;$>tl
5 7'RU\0QG 说明:探测器 N >k,"=N/ r<pt_Cd /_i]bM7W zv~b-Tp 结果:3D光线追迹 (``|5;T\ Oee>d<
[='<K Bi|-KS.9 结果:场追迹矩形光栅 \4n9m
hD,@>ky &?M'(` ~ Y*YV/E. 结果:场追迹锯齿形光栅 pXf5/u8& N[wyi&m4 ZqfoO!Ta 文件&技术信息 '
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