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光学测量＞显微 Ty`-r5 *D \0.K,o 任务/系统描述 Kg4QT/0VA 5,F;j<F
 TF BYY{Y kxwNb xC 亮点 @)9REA(U
i?ZA x4D
 !nec 7 PPUEkvH
W 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 5 ){tBK| 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 "4 'kb 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 '
be P q!ee g 说明：光源 l*$WX=h6n K|`+C1!  V]r hr \M+MDT& 说明：透镜系统 :lgHL3yl \BLp-B1s  %,33gZzf
]PeLcB 说明：样品结构 )\8URc| J qpoquWZ  Ynvj; aPp rMQ5 说明：探测器 $2Ka u 1 1Wv{xML"  ojX%R U Nfr:`$k 结果：3D光线追迹 ^SEc./$ ~D*b3K 8X
 X2i*iW< |pBMrN+is 结果：场追迹矩形光栅 &j3`
)N nl aG<L#  n;%y
w2k<)3 g~ 结果：场追迹锯齿形光栅 Ah*wQow  t
@;WgIp(& " <qEXX 文件&技术信息 tL1P<1j_ +a #lofhv
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Rl1$?l6R f QQ：2987619807 e$HQuA~Q;
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