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光学测量>显微 T"H"m4{' 6X'0 T} 任务/系统描述 <6.`(isph wU'+4N".
N?rE:0SJ h]i vXF* 亮点 PQ_A^ 95 W+GBSl
UnVa`@P^:G 4yTgH0(T 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ]!"7k_ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 kene'
aDm 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 @>ys,dy W"\`UzOLQ 说明:光源 pfc"^Gi8 \TzBu?,v8 NuF?:L[
R $dNdd9m 说明:透镜系统 nRX'J5Q
m< 4;32f` /i_FA]Go ZjY?T)WE9 说明:样品结构 pIpdVKen ?%ltoezf 58mpW`Q +S#Xm4 说明:探测器 PD^ 6Ywn>s !H)!b#_ /VEK<.,aMv %)d7iT~M 结果:3D光线追迹 =?]S8cth ZhRdml4U2
|#xBC+ C^_m>H3b 结果:场追迹矩形光栅 iN0'/)ar
Zf??/+[ &N/dxKZcc hhU\$'0B- 结果:场追迹锯齿形光栅 !"hzGgOOX Ed-3-vJej6 spQr1hx< 文件&技术信息 6N Ogi {5ehm
nsq7dhq V+U89j1g k%sxA QQ:2987619807 ApggTzh@
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