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光学测量>显微 .$?s :t Oj<2_u 任务/系统描述 b@5bN\"x$ W'6*$Ron
o'yR^` J .El&Dev 亮点 3xj<ATSe gA.G:1v
}3vB_0[r SXgpj 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 44S<(Re 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 d)dIIzv 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Mu{mj4Y{ v&uIxFCR 说明:光源 qWr`cO~hc )B8[w # Dy;x\a {_Ke'"
k 说明:透镜系统 a{]1H4+bQ |w\D6d]o Z1q'4h=F. E9
q8tE} 说明:样品结构 F,4Q WL$WWA08_ 9]hc{\ 8mx5K-/,y^ 说明:探测器 s$`evX7D :Z`4ea"w t}TtWI rWa7"<`p 结果:3D光线追迹 }g(aZ '!En,*'IS
Lw-j#}&6E S:
/ShT 结果:场追迹矩形光栅 \Lh,dZ}d V1j&>-]]9*
rro,AS} 6G1Z"9<2* 结果:场追迹锯齿形光栅 ~r|.GY h=)Im) U6_1L,W 文件&技术信息 !%5{jO1 /\Q{i#v
Gb~q:&IUr 62Jn8DwAT IO,kP`Wcx QQ:2987619807 i?|K+"=D
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