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光学测量>显微 O#Y;s;)i" -pEt= 任务/系统描述 (
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>a;0<Ui&Q pxC:VJ; 亮点 $&IF#uDf rjsqXo:9
JG6"5:: Y:UDte[Lb 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 hH Kd+QpI 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 g=iPv3MG 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 P]V/<8o.53 C'5b)0km 说明:光源 HCj/x<*F PEA<H0 66RqjP '2 @N^?I*|u 说明:透镜系统 }t.J;(ff: gZkjh{rQ _g{*;?mS lJZ-*"9V 说明:样品结构 W>jgsR79M { zGM[A 4n1-@qTPF~ FUy!j|W6f 说明:探测器 H# P)n
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M &dA{ <. ?[Gj?D.Wc 8Ter]0M& 结果:3D光线追迹 /eFudMl <hG] f%
Y"eR&d ?r< F/$/ 结果:场追迹矩形光栅 ~Ey)9phZK gZ{q85C.> a+wc"RQ
| fK-tvP0}* 结果:场追迹锯齿形光栅 LojEJ =lyP &u {~cG'S Y% 文件&技术信息 #
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%M?A>7b YGAB2`!U oXKH,r QQ:2987619807 =^nb-9.
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