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光学测量>显微 ;#85 _/ <R7{W"QTA) 任务/系统描述 e"t0 rScA EfEgY|V0
LeLUt<4~ +& B?f 亮点 ,p d-hu &s+l/;3
[A7TSN P\j\p
= 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 UH!(`Z\C 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 r@4A%ql< 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 y|6n:<o XGB\rfvS 说明:光源 &>zH.6%$ NfvPE ]S *6/IO&y1a )%K<pIk 说明:透镜系统 Y"mFUW4 efXnF*Z L]kBY2c "U}kp#) 说明:样品结构 vha9,5_ IEhD5? +l7)7qKx ;bE/(nz M 说明:探测器 q6>eb .$&^yp :0r,.) ,.<mj !YE 结果:3D光线追迹 ~!$"J}d}< U!(.i1^n
3+ 6Ed;P (Mk7"FC7 结果:场追迹矩形光栅 ~m6=s~Vn $,}jz.R@ 0nb%+],pX nQiZ6[L 结果:场追迹锯齿形光栅 <o%T] B->AY.&j bXs=<`> 文件&技术信息 >of34C"DI d6J/)nl
4CM'I~ Ixa0;nxj ;QBS0x\f@ QQ:2987619807 DG;7+2U
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