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光学测量>显微 km=d'VvnI >$/PfyY7@# 任务/系统描述 0,M1Q~u%. q)F@f /
wF.S ,| NNTUl$ 亮点 (\A~SKEX J69B1Yi
-+H?0XN g>&b&X&Y_ 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ^1jZwP;5eW 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 D/<;9hw 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 cq,8^o& e<E]8GAF 说明:光源 5a^b{=#Y R;3T yn+ /)LI1\o 1cvH 说明:透镜系统 ]*\m@lWu 9i`sSi8
w.0:#4 t9Y?0O}/ 说明:样品结构 a?gziCmS?C 9?i~4&EY W:TF8Onw <7X6ULQ 说明:探测器 l99{ eD z&W5@6")` W4V
!7_ kE*OjywN 结果:3D光线追迹 Xx;4 ry[NR$L/m
qFwJ%(IQ [(D^`K<b 结果:场追迹矩形光栅 0X:
:<N@ j ?gscQ3 k2t#O%_f =j$!N# L 结果:场追迹锯齿形光栅 O9Fg_qfuT_ Q?7:XbN O%R*1
P9 文件&技术信息 GJB=5nE gZ&' J\
tc4"huG xZpGSlA I6B4S"Q5< QQ:2987619807 " +n\0j;
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