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光学测量>显微 A1p~K*[[ X)!XR/? 任务/系统描述 CC=I|/mBM L"'=[O~
Dd1k? fDs T@W,K 亮点 :=B.)]F.) vt5w(}v(
pl>b 6 | 7SHllZ 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 J6CSu7Voa 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 XdJD"|,h 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 \r
IOnZ.WK ,&,%B|gT] 说明:光源 +~V_^-JG&
!U?C_ Ze%S<xT!O p1'q{E+o* 说明:透镜系统 D N!V".m`J C+/EPPi +(DzE
H | z/91v#}. 说明:样品结构 zmQQ/7K 5{yg Z><+4
' x9F* $G 说明:探测器 ~EmK;[Z N$>Ml!J P>q~ocq< (A2ga):Pk 结果:3D光线追迹 IsT}T}p,t :Jyr^0`J
GdC=>\] !QdX+y<re 结果:场追迹矩形光栅 ~<u\YIJ Fdl0V:< yx#!2Z0hw gGNo!'o 结果:场追迹锯齿形光栅 KOR*y(* 8 R[j'<gd. ;ZJ. 7t' 文件&技术信息 ih("`//nP %d:cC:`
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