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光学测量>显微 SdEb[ i9#`F.7F 任务/系统描述 MkluK=$ 1xFhhncf
?kT~)k @=aq&gb 亮点 8V53+]c$Y `Tm8TZd66
*aSR KY kBDe*K.V 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 %r}KvJgd 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 FZ}C;yUPD 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 U4mh! %]P@G^Bv 说明:光源 R!M|k%( o^.s!C%j :67d>wb T_;G))q' 说明:透镜系统 XN 0RT>@ *FG4!~<e jy)9EU= ,y{fqa4 说明:样品结构 >f9]Nj C*6bR? I9 KG./<"c #ui%=ja[:~ 说明:探测器 n6-!@RYr -QHzf&D? J~ gkGso ,r)d#8 结果:3D光线追迹 \2VZkVO9 IEKX'+t'
E(K$|k_> q~A|R 结果:场追迹矩形光栅 ~TmHnAz \=:g$_l M`g Kt(3 Sv]"Y/N 结果:场追迹锯齿形光栅 $F'~^2 xVmUmftD K
{N;k- 文件&技术信息 c\?/^xr'!} K Qy\l+\gM
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