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光学测量＞显微 1P&c:n 2v yB [( 任务/系统描述 spgY &OI; NaLec|6<t
 1 vi<@i, G^oBu^bq~ 亮点 7@MVInV9
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 X+Xjf( HuCH`|v- 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 G+=&\+{#4 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 7w YSP&$ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 )}vQ?n[:' 7G!SlC
X}W 说明：光源 wvsTP32] =] &R6P>  JYs*1< bvs0y7M=' 说明：透镜系统 Yw4c`M yL ]MRE^Je\h  >\[sNCkf
w=y!|F 说明：样品结构 5c`DkWne% ,NPU0IDG>  zZGPA j SO3WOR`3 说明：探测器 vD^^0-Pk6 /w`{]Ntgu  "pQM$3n( ':kBHCR7 结果：3D光线追迹 '9]%#^[Q _hK 7hvM>
 -9\O$ I-3 Ds$FO}KD{ 结果：场追迹矩形光栅 NhS0D=v6 iMYvC w/t6  CSR 6
9c4 6| 结果：场追迹锯齿形光栅 _)ZAf% f?  0 A/GWSmF {.DI[ @.g 文件&技术信息 YLJH?=2@ n +`( R]Q
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z@{|Y;s QQ：2987619807 g=:%j5?.e
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