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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 #H]c/  
    ENy$sS6[D  
    任务/系统说明 J -z <&9  
    B8~bx%)3T  
    GmH`ipi  
    AfpC >>=@  
    亮点 'Ll'8 ps  
    nyL$z-I)  
     2 b80b50  
    i8A-h6E  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） v, !`A!{D  
     严格分析光栅衍射效率 ](^FGz  
     考虑入射光的方向分布 uhU'm@JZ  
    73l,PJ  
    说明：光源 uN=f( -"  
    PXF u  
    O4cBn{Dq9  
    eExI3"|Q  
    说明：光束分束器 T>|Y_3YO_a  
    N, ,[V  
    x~ID[  
    u s8.nL/  
    说明：检测透镜系统 u{cb[M  
    n?QglN  
    >*EJ6FPO  
    n-{.7  
    说明：微型晶片 +k V$ @qH  
    JfRLqA/  
    ?e\u_3- 9  
    LbuhKL}VN  
    说明：检测物镜 q ,+29  
    XUA%3Xr  
    YIF|8b\  
    `neo.]  
    说明：探测器 11%Zx3  
     81!gp7c  
    Bkg./iP5x  
    ]GDjR'[z  
    结果：3D光线追迹（只有0级） :1;"{=Yx}  
    a1EQ.u  
    \hdil`{>  
    p^w_-( p  
    结果：3D光线追迹（所有级） :`c@&WF8  
    jW{bP_,"  
    xwj{4fzpk{  
    +U iJWO  
    结果：光线追迹 U,lO{J[T  
    S263h(H  
     ,BR W=  
    cUO$IR)yL  
    结果：场追迹 fOdX2{7m  
    BY':R-~(  
     eh8lPTKil  
    & x$ps  
    结果：线性偏振光的场追迹 GcG$>&,  
    Z*IW*f&0>1  
    1k`gr&S  
     1@9M[_<n5  
    文档和技术信息 6n;? :./  
    5=b6B=\*~  
     Q n.3 B  
    |pBvy1e4)  
     AW'$5 NF>  
    QQ：2987619807 RY1-Zjlb<  
     
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