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成像系统>包括光栅 egcJ@Of
*k)v#;B 任务/系统说明 Vs h7>|@ 88\0opL-  X=O}k & Q>qx?
g 亮点 U40adP? a
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AF/O 5b 6q^Tq {I 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） .kO!8Q-;% 严格分析光栅衍射效率 ,})x1y 考虑入射光的方向分布 ^+Ho#] 29P vPR6 说明：光源 T8|aFoHCK TG ,T>'  | BrD:+ e_3KNQ`kA 说明：光束分束器 x|B$n } B pAwmQS\W  !FwR7`i iwb]mJUA 说明：检测透镜系统 @Y2"=QVt >X z P'h  B{IYVviiP 1 o5DQ'~n 说明：微型晶片 CS[[TzC=5 2K/+6t}  e~7h8?\.q ofe SGx 说明：检测物镜 BzFD_A>j;_ f@@2@#
5B  jn+NX)9 }T!2IaAB 说明：探测器 z:PH _N~ /+pPcK  wFr}]<=Mi ^fj):n5/ 结果：3D光线追迹（只有0级） [H#* #v <a>\.d9#)7  4fe$0mye JI1O( 结果：3D光线追迹（所有级）  8 jom)a .BLF7>
M1 结果：光线追迹 f@ roRn8p? z!09vDB^
 {,r7dxI)` mi~ BdBv 结果：场追迹 @ &f3zq oYWcX9R
 C9oF*{ Kgi| 7w 结果：线性偏振光的场追迹 i?^C c\gH U'i L|JRF  o!Vs{RRu}
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