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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 &Xr@nt0H  
    tK9_]663  
    任务/系统说明 29:1crzx~  
    *>otz5]  
    #"tHT<8u  
    MQD%m ;[s  
    亮点 dWR0tS6vR`  
    V&7jd7 2{  
     GLI 5AbQK  
    `-)!4oJ]  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） QWt ?` h=  
     严格分析光栅衍射效率 _Wcr'*7  
     考虑入射光的方向分布 (Uo:WyVj|F  
    G$X+g{  
    说明：光源 rn1^6qy)  
    .xXe *dm%  
    4;G:.k!K  
    u\~dsD2)q  
    说明：光束分束器 XXbA n-J  
    EL_rh TWw  
    |7@[+  
    *=]hc@  
    说明：检测透镜系统 3#)I7FG  
    7^Y"K  
    G8}w|'0m  
    J%|!KQl  
    说明：微型晶片 $umh&z/  
    )vH6N_  
    r>fx5 5dw  
    <~:Lp:6 J  
    说明：检测物镜 r:h\{ DVf  
    9qIdwDRY  
    fhx_v^< X  
    D ==H{c1F  
    说明：探测器 anwMG0  
    Uloa]X=Im8  
    Wj2s+L7,  
    #X&`gDW  
    结果：3D光线追迹（只有0级） Ap}^6_YXd  
    ka_]s:>+  
    <gU^#gsGra  
    Jv  
    结果：3D光线追迹（所有级） -phwzR\(t  
    "#uXpCuw  
    HCP' V  
    xE/r:D#  
    结果：光线追迹 l7G&[\~  
    7CfHL;+m<4  
     JA!O,4  
    x!CCSM;q  
    结果：场追迹 fVCpG~&t  
    QdaYP  
     ya7/&Z )0  
    fp^!?u  
    结果：线性偏振光的场追迹 )bc0 t]Fs  
    WLr\ l29  
    xA|72!zk0P  
     _tE`W96J  
    文档和技术信息 #7S[Ch}O  
    UEeD Nl$^u  
     n[#!Q`D  
    Sp+ zP-3  
     YEGRM$'`  
    QQ：2987619807 --SlxV/x  
     
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