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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 Ge~,[If+  
    #'g^Za  
    任务/系统说明 Dpj-{q7C  
    RK;;b~  
    xtsL8-u f  
    ?+Hp?i$1  
    亮点 @4@PuWI0-  
    To^# 0  
     #'c%  
    _2; ^v`[  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)）  9^p32G  
     严格分析光栅衍射效率 yYBNH1  
     考虑入射光的方向分布 Np)ho8zU  
    @bY?$fj_u  
    说明：光源 hafECs  
    qlEFJ5;  
    >.LgsMRIKi  
    v#Sj|47  
    说明：光束分束器 \"J?@  
    ennR@pg  
    \{:%v#ZZ  
    UIz:=DJ  
    说明：检测透镜系统 U~CdU  
    +q l  
    Y[h#hZ  
    /'mrDb_ip  
    说明：微型晶片 :TlAL# s&  
    NA=#> f+U%  
    6SV7\,2M  
    ">4PePt.n  
    说明：检测物镜 \a?K?v|8  
    ,zD_% ox  
    / =-6:L  
    RrKfTiK H  
    说明：探测器 TbMdQbj}  
    .<HC[ls  
    T0YDfo  
    TZ:34\u   
    结果：3D光线追迹（只有0级） A3z/Bz4]:#  
    nW~$ (Qnd  
    )`mbf|,&t{  
    J"5jy$30'$  
    结果：3D光线追迹（所有级） ENO? ;  
    wZ$ tJQO  
    W"dU1]  
    RZW$!tyI=  
    结果：光线追迹 |PI)A`  
    :fRmUAK%  
     6k:y$,w  
    q Frt^+@  
    结果：场追迹 E(% XVr0W  
    6g}^Q?cpV#  
     \QliHm!  
    <D~6v2$  
    结果：线性偏振光的场追迹 *}>Bkq9h  
    J6eJIKK  
    )@!~8<_"  
     >6OCKl  
    文档和技术信息 u1tq2"D8  
    E2Us#a  
     cES;bwQ  
    bo&\3  
     I ca3  
    QQ：2987619807 09G9nu;&{  
     
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