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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 egcJ@Of  
    *k)v#;B  
    任务/系统说明 Vsh7>|@  
    88\0opL-  
    X=O}k&  
    Q>qx? g  
    亮点 U40adP? a  
    zrD];DP  
    l AF/O5b  
    6q^Tq {I  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) .kO!8Q-;%  
     严格分析光栅衍射效率 ,})x1y  
     考虑入射光的方向分布 ^+Ho#]  
    29P vPR6  
    说明:光源 T8|aFoHCK  
    TG ,T>'   
    |BrD:+  
    e_3KNQ`kA  
    说明:光束分束器 x|B$n } B  
    pAwmQS\W  
    !FwR7`i  
    iwb]mJUA  
    说明:检测透镜系统 @Y2"=QVt  
    >Xz P'h  
    B{IYVviiP  
    1 o5DQ'~n  
    说明:微型晶片 CS[[TzC=5  
    2K/+6t}  
    e~7h8?\.q  
    ofe SGx  
    说明:检测物镜 BzFD_A>j;_  
    f@@2@# 5B  
    jn+NX)9  
    }T!2IaAB  
    说明:探测器 z:PH _N~  
    /+pPcK  
    wFr}]<=Mi  
    ^fj):n5/  
    结果:3D光线追迹(只有0级) [H#*#v  
    <a>\.d9#)7  
    4fe$0mye  
    JI1O(  
    结果:3D光线追迹(所有级) ![O@{/  
    Y,1sNg  
    8 jom)a  
    .BLF7> M1  
    结果:光线追迹 f@roRn8p?  
    z!09vDB^  
    {,r7dxI)`  
    mi~ BdBv  
    结果:场追迹 @&f3zq  
    oYWcX9R  
    C9oF*{  
    Kgi| 7w  
    结果:线性偏振光的场追迹 i?^C c\gH  
    U'i L|JRF  
    o!Vs{RRu}  
    :P$I;YY=A  
    文档和技术信息 r.e,!Bs  
    ,z}wR::%  
    Ck,.4@\tK  
    $mA+ 4ISK  
    B!jINOg  
    QQ:2987619807 A:"J&TbBx  
     
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