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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 ~n}k\s~|4  
    Hi]cxD*`  
    任务/系统说明 t20PP4FWM  
    _j_x1.l  
    hQNe;R5  
    Xv@SxS-5l  
    亮点 'EFyIVezg9  
    gl&5l1&  
     6ksAc%|5  
    4~U'TE @  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） e6_ZjrQf  
     严格分析光栅衍射效率 ;E ec5w1  
     考虑入射光的方向分布 -Z-IF#%  
    16SOIT  
    说明：光源 {D g_?._d  
    +/D>|loRC  
    Bvt@X   
    `<[6YH_  
    说明：光束分束器 N$[$;Fm:  
    M# 18H<]  
    RmrL^asg  
    ddVa.0Z!<  
    说明：检测透镜系统 `]P pau  
    o->\vlbD  
    wM_c48|d  
    34!dYr%  
    说明：微型晶片 e|4&b@  
    OiDhJ  
    1N2,mo?2  
    4d:{HLX,  
    说明：检测物镜 ASPy  
    &uUo3qXQ5l  
    2 &Nb  
    bxK(9.  
    说明：探测器 PA w-6;  
    :fk2]{KTL  
    U}SXJH&&E  
    ;6 +}z~  
    结果：3D光线追迹（只有0级） 1}ZKc=Pfu  
    d2s OYCKe  
    >u%]6_[  
    }IEb yb  
    结果：3D光线追迹（所有级） p$7#}s  
    3?E8\^N\n  
    {K#NB_*To  
    :R):b  
    结果：光线追迹 7j7e61 Ax  
    ``ekR6[8c  
     2k6 X,  
    L}#0I+Ml7  
    结果：场追迹 2wqk,c[]  
    *c[2C  
     "!K'A7.^  
    v&FF|)$  
    结果：线性偏振光的场追迹 NrDi   
    6a}"6d/sTL  
    Da$r`  
     wiX~D  
    文档和技术信息 FI8Oz,  
    0tk#Gs[  
     56hA]O29O  
    M\b")Tu{0  
     Ch )dLPz@  
    QQ：2987619807 W\f9jfD  
     
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