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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 UB a-  
    jBS'g{y-!  
    任务/系统说明 (p^S~Ax  
    O 3G:0xF  
    nVNs][  
    'w:bs!  
    亮点 z[*zuo  
    gbJG`zC>U  
     RTZ:U@  
    Xt\Dy   
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） V>AS%lXj  
     严格分析光栅衍射效率 Zct!/u9 Q  
     考虑入射光的方向分布 \,hrk~4U;(  
    X`D+jiQ(f  
    说明：光源 (NPxab8e*  
    LGAX"/LX  
    g(nK$,c  
    ]?M)NRk%S  
    说明：光束分束器 i]dz}=j'  
    ;|;iCaD a+  
    {-J:4*`  
    a/:]"`)  
    说明：检测透镜系统 UUGe"]V^g:  
    j6H R&vIM  
    K\~v&  
    q P'[&h5Y  
    说明：微型晶片 ] ;&"1A  
    /e .D /;]  
    =D}4X1l  
    ",T` \8&@e  
    说明：检测物镜 i2`#   
    -IbbPuRq  
    ' Wtf>`  
    Y|:YrZSC  
    说明：探测器 UTvs |[  
    CB6o$U  
    fQP,=  
    Hk~k@Wft  
    结果：3D光线追迹（只有0级） Hxn<(gd G  
    +O4(a.  
    EQ/^&  
    \@8*TS  
    结果：3D光线追迹（所有级） D,E$_0  
    `On3/gU|  
    5tMh/]IeS  
    (uRZxX  
    结果：光线追迹 ^j[Ku  
    o(zTNk5d  
     =&N$Vqn  
    E0<)oQ0Xa>  
    结果：场追迹 N2[jO+6  
    >K5~:mx#3  
     'g~@"9'oe  
    K0oFPDJN  
    结果：线性偏振光的场追迹 |_, /u_  
    0U%Xm[:  
    A=y"x$%-_  
     x~z_,':  
    文档和技术信息 fx]eDA|$e  
    ZL=N[XW4'  
     yjFe'  
    BJgDo  
     gJk[Ja  
    QQ：2987619807 2kVp_=c  
     
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