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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 96Tc:#9i  
    R?Q@)POW  
    任务/系统说明 '* +]&~b  
    U jC$Mi`O  
    %Ya-;&;`  
    1!/ U#d"  
    亮点 |400N +MK  
    +6!.)Ea=  
     1Ly?XNS  
    X!n-nms  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） x c-=;|s  
     严格分析光栅衍射效率 'C~NQ{1TV  
     考虑入射光的方向分布 *4^!e/  
    ,F J9C3  
    说明：光源  IjDG  
    `\&qk)ZP  
    {nbD5 ?   
    eN%Ks  
    说明：光束分束器 zu}h3n5  
    }@Oy kN  
    &,fBg6A%  
    #cQ[ vE)y  
    说明：检测透镜系统 `ge{KB;*n#  
    }d)>pH  
    cJm!3X  
    KTk%N p  
    说明：微型晶片 e@L'H)w,  
    T.HI $(d  
    mB#`{|1[  
    Vd|5JA}<"  
    说明：检测物镜 A{;b^ IK  
    /wCeeG,<  
    P!m~tu}B  
    6[c LbT0  
    说明：探测器 2u6N';jgZ  
    yaA9* k  
    8\y%J!b  
    -b(:kAwStk  
    结果：3D光线追迹（只有0级） q[b-vTzI  
    -2tX 15,  
    @}x)>tqD  
    P,~a'_w:|D  
    结果：3D光线追迹（所有级） cCU'~  
    C|W_j&S65  
    X<(h)&E  
    4%p5X8|\ih  
    结果：光线追迹 _hMVv&$  
    NeHR% a2~  
     6yTL7@V|B  
    t3Q;1#Zf  
    结果：场追迹 $&k2m^R<  
    _e8@y{/~Fd  
     *H&a_s/{Nb  
    =o_d2 Ak  
    结果：线性偏振光的场追迹 IVkKmO(qO  
    dlK#V)  
    Roy`HU ;0a  
     p0$K.f| ^  
    文档和技术信息 f;pR8  
    -j]r\EVKS  
     !U,qr0h  
    xwT"Q=|kW  
     R`ZU'|  
    QQ：2987619807 F!`.y7hY@  
     
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