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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 a2o+ tR;H  
    !3?HpR/nV  
    任务/系统说明 ,v>P05  
    Q 4_j`q  
    v3.JG]zLpP  
    ,#D &*  
    亮点 >|uZIcs 6  
    =;^2#UxXA&  
    .i@e6JE~;  
    M^k~w{   
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) q$>At} 4  
     严格分析光栅衍射效率 /':kJOk<[  
     考虑入射光的方向分布 I9k o*f  
    GP`_R  
    说明:光源 #Z (B4YO  
    k((_~<$2K  
    *.W ![%Be  
    ;]vE"Mx$  
    说明:光束分束器 hZc$`V=R  
     8(5}Jo+  
    lE$X9yIt  
    Hco [p+  
    说明:检测透镜系统 <Cn-MOoM  
    ewY+a , t  
    cFD(Ap  
    z/6eP`jj  
    说明:微型晶片 V\X.AGc  
    /_aFQ>.4n  
    nwHi3ojD:  
    OpUC98p?@  
    说明:检测物镜 to]1QjW-  
    !);'Bk9o  
    6\/C]![%  
    iI&J_Y{1a_  
    说明:探测器 | u7vY/  
    h6 8sQd  
    /&cb`^"U^  
    ON] z-  
    结果:3D光线追迹(只有0级) X0Xs"--}  
    9.D'!  
    q<D'"7#.  
    8L6!CP_!  
    结果:3D光线追迹(所有级) *siS4RX2  
    r;I 3N+  
    $iupzVrro  
    *|a_(bQ4@  
    结果:光线追迹 `=vL?w^QS  
    SA)}---"  
    _{C:aIl[2  
    ixE72bX  
    结果:场追迹 Ql3hq.E  
    bj ZcWYT  
    j<Lj1 P3  
    x.xfMM2n  
    结果:线性偏振光的场追迹 7M=`Z{=9  
    PIsMx-i0  
    W;eHDQ|  
    -[".km  
    文档和技术信息 XGbtmmQG  
    E[)`+:G]  
    q} U^H  
    Jp=ur)Dj  
    DnMfHG[<  
    QQ:2987619807 t+|c)"\5h  
     
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