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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 y7Hoy.(  
    60xL.Z   
    任务/系统说明 !&{"tL@.  
    '*G8;91u  
    `2M*?.vk  
    +Ur75YPh  
    亮点 c? Mbyay  
    ]na$n[T/I  
     mPo.Z"uy7  
    e0]%ko"  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） j@/p: fk  
     严格分析光栅衍射效率 Z~;rp`P  
     考虑入射光的方向分布 P<LmCY m  
    59X XmVg  
    说明：光源 ofs'xs1C  
    wZ_"@j<  
    *y|zF6  
    0W)|n9  
    说明：光束分束器 G#1W":|`  
    [<wpH0lNoy  
    5? f!hB|6  
    \GZ|fmYn  
    说明：检测透镜系统 nL]eGC  
    R.YUUXT  
    O;0VKNn['  
    D&OskM60  
    说明：微型晶片 R_ )PbFw  
    V \/Qik{h  
    3XDuo|(  
    I |"'  
    说明：检测物镜 I [n|#N  
    ^AoX|R[1%  
     *qFl&*h}  
    y=AF EP  
    说明：探测器 N7_(,Gu*R  
    j_z@VT}y  
    4,BJK`{  
    VeOM `jy  
    结果：3D光线追迹（只有0级） =o'g5Be<F  
    xWM?E1@  
      Xi w  
    ?6h~P:n.  
    结果：3D光线追迹（所有级） UUF]45t>  
    '-3K`[  
    B;2#Sa.  
    m[BpV.s  
    结果：光线追迹 Q% ^_<u  
    Zqb*-1Qw"*  
     \C{Zqo,  
    j3u!lZ}U  
    结果：场追迹 Y' 5X4Ks|  
    RMdU1@  
     \S{ihS@J  
    uuL(BUGt-  
    结果：线性偏振光的场追迹 VKg9^%#b`[  
    <;cch6Z  
    fUZCP*7>  
     p&D7&Sb[  
    文档和技术信息 "~Zdv}^xS  
    $x#qv1  
     ac1(lD  
    \tCK7sBn  
     F*-'8~T  
    QQ：2987619807 6X$nZM|g,  
     
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