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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 z  +c8G  
    ;wHyX)&X $  
    任务/系统说明 r.]IGE|  
    L'e|D=y  
    PmE 8O  
    CQ{pv3)  
    亮点 QqC-ztz  
    !@h)3f]`1G  
     I 'ha=PeVn  
    Rx@0EPV  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） (V}?y:)  
     严格分析光栅衍射效率 (F#2z\$;  
     考虑入射光的方向分布 !Ks<%; rb  
    |lIgvHgg  
    说明：光源 `Gg,oCQg  
    (s51GRC  
    wO]H+t  
    yx<-M  
    说明：光束分束器 5^{2 g^jH6  
    MMQ\V(C  
    R$2\Xl@qQF  
    y=}o|/5"  
    说明：检测透镜系统 c&g*nDuDj  
    F_iZ|B  
    0c&DSL}6  
    2\"T&  
    说明：微型晶片 T'5MO\  
    Xk:_aJ  
    :?gp}.  
    d263#R  
    说明：检测物镜 !#4b#l(e6  
    &'m&'wDt:  
    > =Na,D  
    2FM}" g<8  
    说明：探测器 ZQsVSz( 1  
    ;YrmT9Jx6  
     cj|Urt  
    DH])Q5  
    结果：3D光线追迹（只有0级） =_$Hn>vO  
    6"2IV  
    0>3Sn\gZ(  
    );xTl6Y9  
    结果：3D光线追迹（所有级） Vo(bro4ZQi  
    rL/H{.@$`  
    A ? [Wfq|  
    xeRoif\4c  
    结果：光线追迹 I7;|`jN5K  
    ,UxAHCR~9  
     \ Ju7.3.  
    WFfn:WSWU  
    结果：场追迹 M ~6 $kT  
    T=[ /x=  
     !wo  
    fjqd16{Q  
    结果：线性偏振光的场追迹 (J.U{N v  
    *$Z?Owl7  
    &iaS3x  
     GjX6noqT  
    文档和技术信息 6&"GTK  
    I(qFIV+H R  
     whQJWi=ck  
    V17!~  
     ufocj1IU  
    QQ：2987619807 |u#7@&N1  
     
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