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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 GW@;}m(  
    34O `@j0-3  
    任务/系统说明 F#Ryu~,"  
    8I?Wt W  
    6r0krbN  
    K(rWNO  
    亮点 6dt]`zv/  
    HYZ5EV  
     CS5?Ti6  
    ".V$~n(  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） -H@:*  
     严格分析光栅衍射效率 z&)A,ryW0  
     考虑入射光的方向分布 %#:{UR)E  
    qp }Cqi  
    说明：光源 %QGC8Tz  
    ,j{,h_Op  
    hGe/ ;@%  
    J.b9F:&}  
    说明：光束分束器 AaOu L,l  
    *uf'zQ<9  
    Q7\w+ANf0  
    wLH>:yKUU  
    说明：检测透镜系统 A*2jENgci  
     hoUD;3  
    ZR B)uA)5=  
    ay ;S4c/_  
    说明：微型晶片 ["93~[[^  
    VcO0sa f`  
    - q1?? u  
    vhW2PzHFRi  
    说明：检测物镜 mbxZL<ua  
    4#xDgxg\f  
     I<mV+ex  
    TH&U j1  
    说明：探测器 n u[ML  
    L-WT]&n_  
    z6=Z\P+  
    gnOt+W8  
    结果：3D光线追迹（只有0级） wPd3F.<$  
    6:[dj*KGmT  
    Lv;^My  
    4{U T!WIi  
    结果：3D光线追迹（所有级） 'Ym9;~(@R  
    D9=KXo^  
    wr/"yQA]  
    |O|V-f{l  
    结果：光线追迹 x.!V^HQSN  
    {0wIR_dGX  
     O|{d[eX  
    4K#>f4(U`g  
    结果：场追迹 5h=}j  
    vjGo;+K  
     Q:G4Z9Kt  
    kW Ml  
    结果：线性偏振光的场追迹 W.f/pu  
    i(%W_d!  
    _?m(V=z>  
     XH4  
    文档和技术信息 J s@hLP `  
    UT~4x|b:O  
     ;;OAQ`  
    MDZ640-Y  
     A Ru2W1g  
    QQ：2987619807 TCwFPlF|  
     
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