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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 s$3WJ'yr  
    Ib}~Q@?2  
    任务/系统说明 Z~{0x#?4%  
    ugy:^U  
    aYmN' POi  
    9O{b8=\}  
    亮点 k:yrh:JhB  
    m\"X%Y#  
    CkeqK  
    y,F|L?dIq  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) G0mvrc-(  
     严格分析光栅衍射效率 [+3~wpU(p  
     考虑入射光的方向分布 pKzrdw-!  
    "t >WM  
    说明:光源 knABlU  
    ^@-qnU lH  
    !#TM%w  
    O|e/(s?$  
    说明:光束分束器 p9Y`_g`  
    q6T>y%|FZ  
    z#Cgd-^7.#  
    'iikcf*)C  
    说明:检测透镜系统 A5 <T7~U  
    JPmZ%]wA  
    qG8-UOUDt  
    omZ bn  
    说明:微型晶片 }Zp5d7(@w  
    V5up/6b,1  
    MngfXm  
    2O+fjs  
    说明:检测物镜 "*oN~&flc  
    x)prI6YMv\  
    G_5E#{u  
    ibxtrt=  
    说明:探测器 Z*kZUx7I<  
    ?t"bF:!  
    N,?D<NjXl  
    MtXd}/  
    结果:3D光线追迹(只有0级) Mb\[` 4z  
    uTIl} N  
    :qxd s>Xm  
    kOLS<>.  
    结果:3D光线追迹(所有级) J%ue{PL7  
    F^}n7h=qk  
    A]%hM_5s  
    gLQbA$gB  
    结果:光线追迹 ;h#nal>w@S  
    b1t7/q  
    L}.V`v{zc  
    xOXCCf/  
    结果:场追迹 F<^93a9  
    fH[:S9@  
    K0\Wty0  
    VsR`y]"g  
    结果:线性偏振光的场追迹 pTzfc`~xv  
    }RY&f4&GV,  
    x|IG'R1:Y  
    )`gE-udR  
    文档和技术信息 ey3;rY1  
    lL6qK&;  
    G)wIxm$?0  
    i4*!t.eI  
    >6cENe_@t  
    QQ:2987619807 6P:H`  
     
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