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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 LMf_wsp  
    c rPEr  
    任务/系统说明 Z5re Fok  
    5-M E Oy(  
    t<M^/xe2  
    %e2,p&0G  
    亮点 )UA};Fus  
    GndU}[0J  
     _jOu`1w  
    Vu '3%~  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） (+d7cln  
     严格分析光栅衍射效率 79|=y7i#  
     考虑入射光的方向分布 &FF%VUfQJ  
    V&U1WV/  
    说明：光源 >NWrT^rk  
    =  *7K_M&  
    q~68)D(  
    V9*Z  
    说明：光束分束器 g5X;]%:  
    m?DI]sIv#  
    @:\Iw"P  
    >58N P1[k  
    说明：检测透镜系统 68 % = V>V  
    F+mn d,3  
    9P;}P! W  
    &~ of]A  
    说明：微型晶片 N t]YhO  
    r>4HF"Nm  
    YqhZndktX  
    (- `h8M  
    说明：检测物镜 p|!5G&O,  
    !"~x.LX \  
    [IT*>;b+?  
    w& yK*nBK  
    说明：探测器 F?#^wm5TZ  
    e 4-  
    P_S^)Yo  
    Bw _^"e8X  
    结果：3D光线追迹（只有0级） l"70|~  
    $+CKy>  
    ~d]X@(G&  
    {cmY`to  
    结果：3D光线追迹（所有级） UnSi=uj  
    "M#A `b  
    28,Hd!{  
    -]$q8 Q(hM  
    结果：光线追迹 B:Y"X:Y  
    iI T7pq1  
     WWf#in  
    oYOR%'0*m+  
    结果：场追迹 Qh*"B  
    {m%]`0  
     6Ih8~Hu  
    $*N^ bj  
    结果：线性偏振光的场追迹 je_:hDr  
    ^pgVU&-~]/  
    KrVP#|9%"  
     =.T50~+M  
    文档和技术信息 ykAZP[^'  
    zt&"K0X|  
     &CP]+ at  
    gY!+x=cx0  
     %?<Y&t  
    QQ：2987619807 $K& #R-  
     
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