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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 _[rFnyC+0V  
    UJO3Yn  
    任务/系统说明 Nu7>G  
    OIK x:&uIk  
    >pu4G+M  
    |d0ZB_ci  
    亮点 [!uzXVS3  
    {aAd (~YZ  
     l'I:0a 4T  
    >XtfT'  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） "_/ih1z]  
     严格分析光栅衍射效率 (z sG!v  
     考虑入射光的方向分布 jG>W+lq  
    [}szM^  
    说明：光源 GDSV:]hL  
    !hVbx#bXl  
    Snk+ZQ-  
    3(e_2v  
    说明：光束分束器 !E$$ FvL  
    A}ZZQ  
    t:2DB)  
    z~Q=OPCnY  
    说明：检测透镜系统 oU|G74e6  
    W>#yXg9  
    exq5Zc%  
    &tH?m;V  
    说明：微型晶片 nI6 gd%C  
    =~ Uhr6Q  
    ~,/@]6S&Y  
    d+,!>.<3  
    说明：检测物镜 VcKB:(:[  
    }{R*pmv$bN  
    ,l~<|\4,wv  
    lcl|o3yQ  
    说明：探测器 v+LJx    
     GK/Po51  
    HAjl[c  
    )- W1Wtom  
    结果：3D光线追迹（只有0级） u"h/ERCa  
    xr'1CP  
    MZGhN brd  
    s|p I`  
    结果：3D光线追迹（所有级） 3en 9TB  
    oPi>]#X  
    BwT[SI<Sg  
    IV,4BQ$  
    结果：光线追迹 i}vJI}S.$  
    l@);U%\pS  
     r *K  
    @jn&Wf?  
    结果：场追迹 LGt>=|=bj  
    ~&RTLr#\*M  
     x*Z'i<;B  
    ~xd?y*gk;  
    结果：线性偏振光的场追迹 AYnPxiW|  
    Om*QN]lGq  
    wsmgkg  
     os5$(  
    文档和技术信息 V|u2(*  
    6nTM~]5.  
     e(7#>O%1  
    !Ubm 586!  
     [1rQ'FBB^1  
    QQ：2987619807 =e6p v#  
     
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