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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 \ERxr   
    /Wjc\n$'  
    任务/系统说明 F~ \ONO5  
    *ls6k`ymL  
    ipp`99  
    "RK"Pn+  
    亮点 sCzpNJ"8  
    F+Qnf'at1  
     &dmIv[LU  
    b+J|yM<`  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） %N ~c9B  
     严格分析光栅衍射效率 RMT9tXe*5  
     考虑入射光的方向分布 [ij) k@.  
    1t &_]q_  
    说明：光源 ,&=7ir14>R  
    xt pY*  
    |UWIV  
    WKlqm)m@  
    说明：光束分束器 a6./;OC  
    3!gz^[!?EN  
    N~ CQh=<  
    CkNR{?S  
    说明：检测透镜系统 .[]S!@+%  
    _rIo @v  
    I5l%X{u"N  
    4_j_!QH87  
    说明：微型晶片 $fD%18  
    .*njgAq7  
    .`+~mQ Wn  
    wUr(i*  
    说明：检测物镜 z8}QXXa  
    }(Fmr7%m  
    ?;`GCE  
    >W-xDzJry  
    说明：探测器 !J#P 'x0  
    _[-MyUs  
    jFe8s@7  
    |g^YD;9s.  
    结果：3D光线追迹（只有0级） f:~G)  
    5~DKx7P!Z  
    9(S=0<  
    :M{ )&{D  
    结果：3D光线追迹（所有级） 27c0wzq  
    NdLe|L?c  
    'R+^+urq^  
    fDB. r$|d  
    结果：光线追迹 %pOz%v~  
    lrKT?siB  
     ,~Xe#e M  
    NR_3nt^h  
    结果：场追迹 x+6z9{O  
    ]] 0M  
     +,)k@OI  
    3-:^mRPJ  
    结果：线性偏振光的场追迹 I F!xZ6X8  
    <>n|_6'$90  
    T>| hID  
     ?87\_wL/j  
    文档和技术信息 $+4 4US  
    %_Lz0L64k  
     F1$XUos9  
    6-"tQ,AZ  
     .@nfqv7{  
    QQ：2987619807 qG 20  
     
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