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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 J$)lYSNE  
    zt1Pu /e  
    任务/系统说明 _kR,R"lh  
    ^L&hwXAO:  
    @_&@M~ u  
    %N!2 _uk5  
    亮点 D`=hP( y^  
    ' LT6%<|  
     * i[^-  
    sR`WV6!9  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） LTsG  
     严格分析光栅衍射效率 pKrol]cth8  
     考虑入射光的方向分布 DkP%1Crdr  
    Hu .e@7  
    说明：光源 em@\S  
    `[JX}<~i  
    rC>')`uk  
    9}`A_KzFx  
    说明：光束分束器 4_3 DQx9s  
    <~BheGmmy  
    56Q9RU(M  
    b??k|q  
    说明：检测透镜系统 q9j9"M'  
    (,<ti):  
    P=K+!3ZXo  
    RVmD&  
    说明：微型晶片 M2ig iR  
    !$'s?rnh  
    Aj06"ep  
    s9 '*Vm  
    说明：检测物镜 pb~&gliW  
    Yt"&8N]  
    f!}c0nb  
    |q?I(b4Q@  
    说明：探测器 bdiyS.a-  
    <$s G]l!\  
    %?lPS  
    ^Bihm] Aq  
    结果：3D光线追迹（只有0级） dA<PQKm  
    36D-J)-Z  
    ET4 C/nb  
    "1rZwFI0l  
    结果：3D光线追迹（所有级） zmI?p4,  
    LEMgRI`rf  
    24 S,w>j  
    b'Gn)1NE  
    结果：光线追迹 WY%LeC!t  
    T!o 4k  
     q2}<n'o+  
    IAbK]kA  
    结果：场追迹 FJ3Xeo s4|  
    EJYfk?(B  
     SE+K"faKQ  
    xUE9%qO  
    结果：线性偏振光的场追迹 7~[1%`  
    0(VQwGC[  
    =:(8F*Q  
     /ve8);cH\  
    文档和技术信息 vs|>U-Mpw~  
    ~SkdP7 )  
     x,"'\=|s*  
    w/s{{X<bF  
     8cy#[{u`;  
    QQ：2987619807 uQ#3;sFO  
     
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