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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 fmnRUN=  
    V+=*2?1  
    任务/系统说明 c3zT(FgO>N  
    K/wiL69  
    V5yxQb  
    oDW<e'Jm  
    亮点 68p\WheCal  
    %Rd~|$@>x  
    /OhaERv  
    6VH90KAT  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) 'HQ7 |Je  
     严格分析光栅衍射效率 2H?I'<NoC  
     考虑入射光的方向分布 {{.sEi*  
    "#-Nqq  
    说明:光源 vZ[ $H  
    ,5eH2W  
    nE]~E xr  
    iHE0N6%q  
    说明:光束分束器 *R_'$+  
    *Z]5!$UpC  
    ?AV&@EX2C  
    CJMaltPp&  
    说明:检测透镜系统 P"R97#C  
    z-KrQx2  
    jiA5oX^g  
    H _Zo@y~J  
    说明:微型晶片 =2RhPD  
    +A8=R%&b)[  
    U^M@um M  
    h1^9tz{  
    说明:检测物镜 ?%\mQmjas  
    % ~#!NX  
    vp\PYg;x  
    *[d~Nk%Y$  
    说明:探测器 F=oHl@  
    .k# N7[q=  
    Lnh':7FQJx  
    ,}9f(`  
    结果:3D光线追迹(只有0级) -"~L2f"?  
    )"(V*Z  
    *.kj]BoO  
    P$p@5hl  
    结果:3D光线追迹(所有级) sg3h i"Im  
    KI E k/]<H  
    o"'iX UJ  
    PHQ{-b?4t  
    结果:光线追迹 `t{D7I7  
    'R^iKNPs  
    wzD\8_;6N  
    O24Jj\"  
    结果:场追迹 -M"IVyy@  
    E4Y "X  
    w) =eMdj\o  
    kx|me~I  
    结果:线性偏振光的场追迹 r#LnDseW  
    wENzlXeOP  
    $z= 0[%L  
    @4;HC=~  
    文档和技术信息 ^Vag1 (hdq  
    |.1qy,|!X  
    E9^(0\Z I  
    n`P`yb\f$  
    uVN.=  
    QQ:2987619807 $ I#7dJ"*  
     
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