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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 RSWcaATZN  
    ,9/5T:2  
    任务/系统说明 #7z|mVzH  
    vrrt@y  
    ]O!s 'lC  
    6 `puTL?  
    亮点 Z}cIA87U  
    RLKj u;u  
     ~y\:iL//E  
    A1JzW)B  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） v}il(w;O  
     严格分析光栅衍射效率 ! sYf<  
     考虑入射光的方向分布 x% XT2+  
    kP,7Li\  
    说明：光源 ?ei%RWo  
    _Dq Qfc%  
    <lld*IH  
    ch,|1}bi  
    说明：光束分束器 r<FQX3  
    E#h~V5Tf  
    52<~K  
    `Wf5  
    说明：检测透镜系统 q`loOm=y  
    2lz {_9  
    o`U|`4,  
    M]ap:  
    说明：微型晶片 =WRO\lgv.  
    Dsb(CoWw  
    W]LQ &f  
    _bQL[eXd  
    说明：检测物镜 6D*chvNA;  
    +L6" vkz  
    a @SUi~+3  
    ?Leyz  
    说明：探测器 rsSue_Q  
    RSH/l;ii  
    (n=Aa;  
    i ^S2%qz  
    结果：3D光线追迹（只有0级） g5TkD~w"  
    }vsO^4Sjc  
    6e:P.HqjA  
    H0tF  
    结果：3D光线追迹（所有级） 83?1<v0%  
    l4 `^!  
    "w^Nu6  
    =L16hDk o  
    结果：光线追迹 V* Qe5j9  
    104!!m  
     <rMv0y+r  
    .WO/=# O  
    结果：场追迹 p)z-W(  
    4@))OD^x  
     g$gS7!u,  
    @$ftG  
    结果：线性偏振光的场追迹 5h(jeT8"  
    fn?VNZ`J  
    l qXc  
     ,7I},sZj   
    文档和技术信息 ~1d!hq?/q  
    THr8o V5  
     :s-EG;.  
    -Qg,99M  
     Uir*%*4:  
    QQ：2987619807 () <`t}FQ  
     
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