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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 +!Ltn  
    ;n@C(hG  
    任务/系统说明 &|4Uo5qS=Z  
    t<7WM'2<y  
    d7P @_jO6  
    ,+RO 5n  
    亮点 r?TK@^z  
    f#t^<`7  
     S#9SAX [  
    6. jZy~  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） #j JcgR<  
     严格分析光栅衍射效率 &1{k^>oz  
     考虑入射光的方向分布 "m3Y))a  
    |gz ,Ip{  
    说明：光源 B@=<'/S\7  
    E0Djo'64  
    12a #]E  
    [ lW "M  
    说明：光束分束器 !;gke,fB  
    o;mIu#u  
    Q(6(Scp{  
    t["Df;"O  
    说明：检测透镜系统 q9!9OcN2  
    Anv8)J!9u  
    3c3Z"JV  
    zTB9GrU  
    说明：微型晶片 E'8Bw7Tz  
    q1Sm#_7  
    O| ]Ped9  
    gxM8IQ  
    说明：检测物镜 to 6Q90(  
    DeA'D|  
    [R>   
    cloI 6%5r  
    说明：探测器 CE,O m^  
    sCQup^\  
    \<B6>  
    S(i(1Hs.  
    结果：3D光线追迹（只有0级） a7\L-T+  
    9 Zm<1Fw  
    e,&%Z  
    Nh9!lBm*]  
    结果：3D光线追迹（所有级） v s|6w w  
    g{hA,-3  
    !^fR8Tp9  
    3SDWR@x&  
    结果：光线追迹 {Ch"zuPX  
    }27Vh0v  
     H$amt^|zQ4  
    m 1i+{((  
    结果：场追迹 PV6 *-[  
    0t?<6-3`/  
     lhl 0  
    :s '"u]  
    结果：线性偏振光的场追迹 YO$b#  
    ?]D+H%3[$i  
    $S8bp3)  
     kZ-~ ;fBe  
    文档和技术信息 G@EjWZQ  
    l0\>zWLZZ9  
      _np>({  
    0Y*gJ!a  
     #4 &N0IG  
    QQ：2987619807 */dh_P<Yj  
     
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