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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 V.:A'!$#  
    ,$$$_+m\  
    任务/系统说明 wkA!Jv%  
    |Eu~= J7@  
    # HYkzjb  
    1s[-2^D+EM  
    亮点 yVzg<%CR^  
    S]O Hv6  
     ZNeqsN{  
    Fg_s'G,`  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） ~1sl.8tF  
     严格分析光栅衍射效率 *?Ef}:]  
     考虑入射光的方向分布 RQNi&zX/  
    >irT|VTf  
    说明：光源 1G.gPx[  
    tta0sJ8 i  
    [d>yo_iB  
    *Bsmn!_cB{  
    说明：光束分束器 >Fk `h=Wd  
    @$Kq<P  
    J5 ( D7rp#  
    z}8L}:  
    说明：检测透镜系统 iDc|9"|Tf3  
    6FMW g:{  
    _O9H. _E  
    eH/\7)z  
    说明：微型晶片 pY#EXZ#   
    2_b'mepV  
    ^oO5t-9<!  
    qFbUM;  
    说明：检测物镜 WVK-dBU  
    &novkkqY  
    u(WQWsN  
    5THS5'  
    说明：探测器 UC/2&7 ?  
    ) '`AX\  
    yUwgRj  
    Ltd?#HP  
    结果：3D光线追迹（只有0级） y@\Q@ 9  
    166c\QO  
    u;qMo`-  
    \+Ln~\Sv  
    结果：3D光线追迹（所有级） ptni'W3  
    2BA9T nxC  
    H<7DcwXv  
    s Xk?.A_D  
    结果：光线追迹 cGzYW~K  
    ;Jn0e:x`E  
     ^|i\d \  
    mX.3R+t  
    结果：场追迹 _Ge^ -7  
    #_\MD,(  
     33*d/%N9  
    x$ J.SbW  
    结果：线性偏振光的场追迹 U3+ _'"  
    pQ^,.[[  
    TKu68/\)  
     &W<>^C2v  
    文档和技术信息 j*~dFGl)  
    6aZt4Lw2\  
     RR"W O  
    xZ=FH>Y6'  
     (X_,*3Yxk  
    QQ：2987619807 Hu(flc+z"  
     
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