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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 ;CvGIp&y  
    %*gO<U4L]  
    任务/系统说明 kzmt'/L8  
    SH(kUL5  
    VsmL#@E  
    dL\8^L  
    亮点 {L=[1  
    x3P@AC$\  
     3(&.[o Z  
    4sAshrUf  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） %b?Pasf.  
     严格分析光栅衍射效率 U<t-LF3  
     考虑入射光的方向分布 9?:S:Sq  
    vq s~a7E-P  
    说明：光源 W"*R#:Q  
    s6D-?G*u%8  
     n=&c5!  
    Gw./qu-W  
    说明：光束分束器 cDx^}N!  
    :9#`| #uh  
    v<SEGv-  
    l#"alU!<^  
    说明：检测透镜系统 i#lo? \PO>  
    J4vKfxEg  
    uaKB   
    Z]Y4NO;  
    说明：微型晶片 M BT-L  
    1+jYpYEQW  
    j+9 S  
    Wy4^mOv  
    说明：检测物镜 zFn&~lFB  
    [!le 9aNg  
    ) b10%n^  
    2X*<Fma3C  
    说明：探测器 W,~1KUTc  
    ~D5MAEazS  
    #H`y1zm  
    a%!XLyq  
    结果：3D光线追迹（只有0级） [Mz;:/  
     62jA  
    C6w{"[Wv=X  
    vR$5ItnT  
    结果：3D光线追迹（所有级） t {"iIz_S  
    ?nW#qy!R  
    b..$5  
    'EV  *-_k  
    结果：光线追迹 @>5<m'}2  
    ~-`02  
     d*$<%J  
    tTH%YtG  
    结果：场追迹 QNXxpoS#  
    3(+#^aw  
     S=p u  
    l*Ei7 |Z  
    结果：线性偏振光的场追迹 ]5f M?:<l  
    qJU)d  
    + nS/jW  
     XL^N5  
    文档和技术信息 Zk UuniO  
    AnY)T8w  
     &|}IBu:T  
    ]?(F'&  
     AJfi,rFPg  
    QQ：2987619807 Ki/5xK=s  
     
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