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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 GpxGDN3?  
    VwtGHF'  
    任务/系统说明 AGrGZ7p]  
    MS,H12h  
    B(b[Dbb  
    y~U+MtSf#  
    亮点 o&I 0*~ sN  
    5Ko "-  
     EKwS~G.b!  
    s?OGB}  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） .%~ L  
     严格分析光栅衍射效率 @A$%baH0  
     考虑入射光的方向分布 etGquW.  
    NP%ll e,l  
    说明：光源 f ( UcJx  
    u%ih7v!r\  
    D.$EvUSK<.  
    ub.pJJlC  
    说明：光束分束器 d7KeJ$xy}p  
    sM~CP zMa  
    )Tb{O  
    oqE h_[.  
    说明：检测透镜系统 `.[hOQ7  
    _k6N(c2Nd  
    /Rt/Efu  
    -pkeEuwv{  
    说明：微型晶片 t}*teo[  
    & qd:o}  
    nC>#@*+jK  
    Z < uwqA  
    说明：检测物镜 i-niRu<  
    'HOcK8}b  
    =X% D;2  
    #gsAwna3  
    说明：探测器 _);1dcnR  
    .fQDj{  
    5'oWd e  
    G?jY>;P)  
    结果：3D光线追迹（只有0级） N}Q,  
    -4GSGR'L&y  
    (S9"(\A  
    ts9N$?0:V  
    结果：3D光线追迹（所有级） "q]v2t  
    @h ^5*M  
    1l1X1  
    {9C(\i +  
    结果：光线追迹 W>1\f0'  
    |mci-ZT  
     hoU&'P8  
    Snh\Fgdz  
    结果：场追迹 Of:e6N  
    oZOFZ-<  
     D0"+E*   
    A.z~wu%(  
    结果：线性偏振光的场追迹 BB>7%~3f  
    @^;\(If2  
    Xwx;m/  
     )Dqv&^  
    文档和技术信息 w8@MUz}/#  
    cl)MI,/>  
     yChC&kX Z+  
    kMwt&6wS  
     urtcSq&H'  
    QQ：2987619807 S6]D;c8GE  
     
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