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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 .M2&ad :  
    |sa7Y_  
    任务/系统说明 9 Zm<1Fw  
    2hJ3m+N^  
    =7fh1XnW  
    v s|6w w  
    亮点 #\BI-zt  
    }dJ ~Iy  
    3SDWR@x&  
    zI!R-Nb  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) }27Vh0v  
     严格分析光栅衍射效率 q&Wwt qc9  
     考虑入射光的方向分布 RCYbRR4y  
    [E (M(w':  
    说明:光源 \)ZX4rs{8  
    YBIe'(p  
    NB5B$q_'#  
    Wmxw!   
    说明:光束分束器 )]> '7] i  
    So%1RY{ )  
    a=.db&;vY  
    n "KJB  
    说明:检测透镜系统 E)wT+\  
    14 'x-w^~k  
    9~'Ip7X,!  
    "Vp: z V<S  
    说明:微型晶片 F>kn:I"X)  
    S aet";pf`  
    H0 n@kKr  
    8sF0]J[g{  
    说明:检测物镜 b%f2"e0g  
    NvHy'  
    gc7:Rb^E5t  
    GnrW {o  
    说明:探测器 u|>U`[Zpj  
    ; 9&.QR(  
    -sH.yAvC6  
    0*IY%=i  
    结果:3D光线追迹(只有0级) V'f5-E0  
    B m@oB2x)  
    'a/6]%QFd!  
    G%8)6m'3  
    结果:3D光线追迹(所有级) RyQ\5^z  
    4i\aW:_'i  
    `(Q_ 65y  
    VfC[U)w*vm  
    结果:光线追迹 _B7?C:8Q-  
    f.84=epv  
    NT9- j#V  
    _E<O+leWf  
    结果:场追迹 u:H 3.5)%  
    y#Za|nt  
    i 2} =/  
    <\9Ijuq}k  
    结果:线性偏振光的场追迹 h-+a;![  
    HD8"=7zJk  
    =']};  
    8j+:s\  
    文档和技术信息 p9 ,\{Is  
    9k+&fyy  
    J(&M<<%  
    ny_ kr`$42  
    OG?j6q hpl  
    QQ:2987619807 a2=uM}Hsp  
     
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