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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 &."iFe  
    _kef 0K6  
    任务/系统说明 ?:Uv[|S#>  
    6]K_m(F  
    'j#*6xD  
    em%4Ap  
    亮点 XO.jl"xu  
    9+Np4i@  
     fDv2JdiU  
    @LF,O}[2J  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） }T(D7|^R  
     严格分析光栅衍射效率 <sb~ ^B  
     考虑入射光的方向分布 P) Jgs  
    n\mO6aJ  
    说明：光源 b/+u4'"  
    f\|w '  
    o_izl \  
    D+rxT: d  
    说明：光束分束器 )1?y 8_B  
    *7uH-u"5d  
    rD*jp6Cl  
    xG~P+n7t5$  
    说明：检测透镜系统 Snj'y,p[  
    l{*@v=b(  
    b6,iZ+]  
    Ouk ^O}W6  
    说明：微型晶片 uy>q7C  
    k =>oO9`  
    7`*h2 mgY  
    ; 5*&xz  
    说明：检测物镜 !z\h| wU+  
    8SMxw~9$  
    S\CCrje  
    2=*H 8'k  
    说明：探测器 M H|Og84  
    'p^t^=dQ  
    y6g&Y.:o  
    g_;\iqxL  
    结果：3D光线追迹（只有0级） fBU`k_  
     on4HKeO  
    tm|ZBM  
    Sj3+l7S?  
    结果：3D光线追迹（所有级） y'3rNa]G1  
    =}~hWL  
    #$.;'#u'so  
    %Tfbsyf%f  
    结果：光线追迹 J"0`%'*/  
    ?e%ZOI  
     dn& s*  
    6,pnw  
    结果：场追迹 FUiRTRIYe  
    0 j^Kgx  
     4j-Xi  
    -{("mR&]  
    结果：线性偏振光的场追迹 ko!)s  
    AzPu)  
    0Fq} N  
     &eJfGt5  
    文档和技术信息 irZ])a  
    F|`Hm  
     R8K&R\  
    R7%#U`Q^A  
     zOJ%}  
    QQ：2987619807 \P[Y`LYL  
     
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