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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 }Wk^7[Y  
    NsPAWI|4  
    任务/系统说明 '3p7ee&  
    q&DM*!Jq  
    ]+"25V'L  
    }&*wJ]j`L  
    亮点 Kl Kk?6 >  
    zu,F 0;De  
     RXi/&'+H  
    iL$~d@AEn  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） d3[O!4<T  
     严格分析光栅衍射效率 } SNZl`>  
     考虑入射光的方向分布 wv7XhY}  
    -MK9IO]i  
    说明：光源 <hV%OrBz-  
    @^2?97i c  
    L0Ycf|[s,  
    JK/gq}c  
    说明：光束分束器 anzt;V.;Y  
    oSl@EI  
    RPB%6z$  
    ^H(,^cVN  
    说明：检测透镜系统 F"ua`ercI  
    =pCO1<wR  
    ^[6S]Ft(  
    S;8gX1Uf  
    说明：微型晶片 }e K.\_t=  
    xU!eT'Y  
    FK+`K<  
    Q1'4xWu  
    说明：检测物镜 TPF5?  
    E]0}&YG  
    CX}==0od  
    \3WQ<t)W  
    说明：探测器 BY5ODc$  
    ~-tKMc).X  
    g}OZ!mKd  
    p.|M:C\xL  
    结果：3D光线追迹（只有0级） ?/1Eu47  
    mUdj2vB$+'  
    KCl85Wi'  
    vveL|j  
    结果：3D光线追迹（所有级） Rn_FYP  
    >X_5o^s2s  
    d=DQS>Nz  
    _'0C70  
    结果：光线追迹 p9-s'F|@i  
    'Z8=y[l  
     %F}i2!\<L  
    $.F.xYS9IJ  
    结果：场追迹 DLH|y%"  
    l 2ARM3"  
     d` X1cG  
    mv{bX|.  
    结果：线性偏振光的场追迹 c0v6*O)  
    z=6zc-$y 9  
    l{mC|8X  
     ( u^`3=%n  
    文档和技术信息 x~u"KU2B  
    WyU\,"  
     \~> .NH-  
    U BWUq  
     z'9U.v'M)  
    QQ：2987619807 2_Gb K-  
     
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