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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 MaY_*[  
    G/# <d-}_  
    任务/系统说明 Al8Dw)uG{  
    SG\ /m'F  
    0)b1'xt',  
    ]S@T|08b  
    亮点 ;}U]^LT=  
    tx9 %.)M:n  
    XXA'B{@Y)  
    !> +Lre@  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) - ry  
     严格分析光栅衍射效率 p=> +3  
     考虑入射光的方向分布 fS|e{!iI"  
    5WRqeSGh  
    说明:光源 MmvOyK NZF  
    Vh?vD:|  
    &K9RV4M5  
    kJOZ;X=9/  
    说明:光束分束器 uaKbqX  
    W?E,"z  
    w_@{v wM$A  
    n7Eh!<  
    说明:检测透镜系统 _eBNbO_J  
    jCNR63/  
    ;'V[8`Z@  
    Vraz}JV  
    说明:微型晶片 Ps\4k#aOv  
    !.O[@A\.-  
    7]5~ml3:  
    bDh4p]lm  
    说明:检测物镜 )z z{~Cf  
    v*JKLA  
    z@\mn  
    E)jd>"  
    说明:探测器 A=|a!N/  
    G"u4]!$/  
    #Y-_kQV*  
    l?J[K  
    结果:3D光线追迹(只有0级) cyHbAtl  
    :PY8)39@K  
    ~-lUS0duh  
    ]|w~{X!b4  
    结果:3D光线追迹(所有级) p= x &X~  
    8L/XZ)  
    upk_;ae  
    u R5h0Fi  
    结果:光线追迹 G^SJhdO(Q  
    iS.gN&\z^  
    nC??exc  
    &K[~Ab_  
    结果:场追迹 `H*mQERb  
    4A(h'(^7A  
    &c&TQkx  
    c>/7E-T  
    结果:线性偏振光的场追迹 2Y[n  
    &;JeLL1J  
    Zj ^e8u=T  
    "ixea- 2  
    文档和技术信息 w7pX]<?R"  
    Ujvm|ml  
    ]S9Z5l0  
    zn^ G V  
    0ZI}eZA j  
    QQ:2987619807 u =~`5vA  
     
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