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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 ]_$[8#kg  
    |l!aB(NW  
    任务/系统说明 vKR[&K{Z|  
    Yr|4Fl~U  
    Qg/rRiV  
    E(|>Ddv B&  
    亮点 yCo.cd-  
    ,"ql5Q4  
    5LMw?P.<  
    @%SQFu@FJ  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) K,UMqAmk  
     严格分析光栅衍射效率 >R=|Wo`Ri  
     考虑入射光的方向分布 jj>]9z  
    A%-6`>  
    说明:光源 BJ0?kX@  
    FgO)DQm  
    LgYq.>Nl9  
    aQ~s`^D  
    说明:光束分束器 1YMh1+1  
    J=yTbSN\v  
    nj4/#W  
    c[e}w+ uB  
    说明:检测透镜系统 ']oQ]Yx0  
    J8D,ZfPN`d  
    .e5Mnd%$M  
    &.ACd+Cd  
    说明:微型晶片 \j.:3X r  
    }1xo-mUg,  
    O H7FkR  
    8XbT`y  
    说明:检测物镜 B-ESFATc  
    xLn%hxm?,  
    $ulOp;~A%  
    /7LR;>Bj  
    说明:探测器 |'2d_vR  
    hzC>~Ub5  
    },[}$m %  
     C.QO#b  
    结果:3D光线追迹(只有0级) M:V_/@W.  
    F5#YOck&,  
    5(8@%6>ruj  
    ~_ a-E  
    结果:3D光线追迹(所有级) 2BobH_ H  
    tI{_y  
    =":,.Ttq41  
     LIdF 0  
    结果:光线追迹 3ANQaUC  
    ,2)6s\]/b  
    I O> yIU[  
    c"xK`%e  
    结果:场追迹 9{uO1O\  
    ;=UsAB]  
    rN{ c7/|  
    kNL\m[W8$  
    结果:线性偏振光的场追迹 WN<zkM~3  
    Xry4 7a )  
    %%wNZ{  
    9g?(BI^z  
    文档和技术信息 ]:\dPw`A  
    6aV_@no.C  
    v9UD%@tZ  
    jA/w|\d!  
    ]+$?u&0?w  
    QQ:2987619807 ZAf7Tz\U  
     
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