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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 d,6 Z  
    c_ vj't  
    任务/系统说明 ?4(uwX p  
    N1zB; -0t  
    ID E3>D  
    Z?O aY4  
    亮点 c7L#f=Ot?  
    O jr{z  
     K({+3vK  
    -Q<3Q_  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） 2BsMFMIw1  
     严格分析光栅衍射效率 HBV~`0O$  
     考虑入射光的方向分布 o5 @ l!NQ  
    `GUj.+u  
    说明：光源 9{^:+r  
    `BdZqXKG  
    W5<1@  
    n,bZj<3t  
    说明：光束分束器 !!%vs 6  
    \[% [`m  
    -r_z,h|  
    ~^w;`~L  
    说明：检测透镜系统 S%R:GZEf_  
    90Jxn'>^  
    =Bu d!  
    o{(-jhR  
    说明：微型晶片 c{ +Y $  
    0jro0f'  
    ~^UQw? ;  
    ?r"m*fY%  
    说明：检测物镜 6,ylk f3  
    ]Z&2  
    .ss/E  
    B!jT@b{  
    说明：探测器 hIuK s5`  
    hS OAjS  
    X48Q{E+  
    MR:Co4(  
    结果：3D光线追迹（只有0级） &$ia#j{l  
    .-k\Q} D  
    hvnZ 2x.?d  
    Sx5r u?$.  
    结果：3D光线追迹（所有级） k$9oUE,  
    ygW,4Vz7J  
    rgWGe6;!  
    (@vu/yN  
    结果：光线追迹 _8)9I?jH  
    ^PMP2\JQA  
     N5Eb.a9S  
    sF :3|Yy0  
    结果：场追迹 | y\B*P  
    l 'fUa  
     m/5:-xL31  
    NmthvKhH   
    结果：线性偏振光的场追迹 m,K0BL  
    U~azI(1"W  
    L NmsvU  
     B5hk]=Ud  
    文档和技术信息 1C6H\;  
    CTv-$7#  
     d}GO(  
    @@9#od O  
     +O`0Mc$%'  
    QQ：2987619807 \::<]  
     
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