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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 RXM}hqeG  
    uw_H:-J  
    任务/系统说明 691G15  
    )qmFK .;%  
    N^lAG"Jao[  
    u-kZW1wrQ  
    亮点 w3d34*0$  
    +SyUWoM  
    yu=piP  
    q4) Ey  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) #J\s%60pt  
     严格分析光栅衍射效率 zLL)VFCJW  
     考虑入射光的方向分布 ]Ym=+lgi  
    XwtAF3oz  
    说明:光源 g*F~8+]Y  
    ly[lrD0Kn.  
    )&Mq,@  
    >d97l&W  
    说明:光束分束器 Uh}+"h5  
    v[VC2D  
    )L >Q;'  
    vnL?O8`c  
    说明:检测透镜系统 J]dW1boT@  
    /w0w* n H  
    BR3wX4i\  
    z<i,D08|d  
    说明:微型晶片 #v+;:  
    QypZH"Np  
    /eb-'m  
    y`6\L$c  
    说明:检测物镜 9ZhDZ~)p,  
    =6fB*bNk]  
    c`ftd>]  
    L@?e:*h  
    说明:探测器 I )5<DZB9  
    :WO{xg  
    e+{BJN vz  
    .'&V#D0  
    结果:3D光线追迹(只有0级) }qL~KA{&  
    }1Z6e[K?  
    PV(4$I}  
    k/@Tr :  
    结果:3D光线追迹(所有级) h"r!q[MN o  
    =gs~\q  
    /e(W8aszi  
    K'V 2FTJI  
    结果:光线追迹 3 1k  
    D?mDG|Z  
    ,WGc7NN`  
    bJPJ.+G7  
    结果:场追迹 - zQ<Z E  
     HD H  
    ;t!9]1  
    Fv A8T 2-v  
    结果:线性偏振光的场追迹 KGD'mByt"  
    ~?d>fR:X  
    E<k ^S{  
    C bQ4Y  
    文档和技术信息 UBIIo'u  
    gs>A=A(VYf  
    nd.hHQ  
    #QS?s8IrW  
    MnS+nH!d  
    QQ:2987619807 O+b6lg)q  
     
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