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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 [>dDRsZ  
    ,^e2ma|z  
    任务/系统说明 Brs6RkRf  
    (kO(R#M  
     YC 6guy>  
    RICm$,  
    亮点 \e4AxLP  
    t|oIzjKE/  
     \='LR!_  
     D~"a"  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） Dom]w.W5  
     严格分析光栅衍射效率 pJe!~eyHm  
     考虑入射光的方向分布 ef7 U7   
    0/] h"5H3  
    说明：光源 EMe1!)  
    FXT^r3  
    A/a=)s u  
    ,S d j"C  
    说明：光束分束器 H0OO +MCe  
    )b]!IP3  
    [[T6X9  
    hC"'cUrcN  
    说明：检测透镜系统 iTdamu`L  
    'vt Jl  
    7=yM40  
    ;|XX^  
    说明：微型晶片 >G!=lLyR  
    + @fEw  
    xPm{'J+b~  
    O95gdxc  
    说明：检测物镜 i^:#*Q-co  
    M1/(Xla3  
    /8]K}yvR  
    Q}\\0ajS)  
    说明：探测器 9xJtDdy-O  
    cX1?4e8  
    Q'=7#_  
    Jjj;v2uSK  
    结果：3D光线追迹（只有0级） |9 5K  
    p9G+la~;VM  
    Q'^'G>MBJ  
    ul_E{v  
    结果：3D光线追迹（所有级） 5#|&&$)  
    C=Fu1Hpb  
    _\IA[-C+O  
    !jB}}&Ii  
    结果：光线追迹 W.{+0xx  
    ?1r;6  
     7]?y _%kT  
    MaPhG<?  
    结果：场追迹 Xsanc@w)^C  
    eV(.\Lj  
     qB@N|Bb  
    on8$Kc  
    结果：线性偏振光的场追迹 )Z4iM;4]  
    OB=bRLd.IR  
    CTg79 ITYk  
     P}Mu|AEG  
    文档和技术信息 G2n. NW#d4  
    '6\w4J(  
     .%J<zqk-  
    X xwcvE  
     .1^ Kk3  
    QQ：2987619807 h*<`ct xL  
     
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