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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 $(JB"%S8c  
    B`1"4[{  
    任务/系统说明 ,8/Con|o  
    n\G88)Dv`V  
    qp)a`'Pq  
    }6#u}^gy  
    亮点 QXg9ah~  
    9Vh>ty1|_  
     U9:w^t[Pp  
    :L'U>)k  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） Q@HW`@i  
     严格分析光栅衍射效率 |E =8  
     考虑入射光的方向分布 ZB@Bj>,b p  
    +rcDA|  
    说明：光源 SB}0u=5  
    z=/xv},  
    g (:%E  
    %\ef Mhn  
    说明：光束分束器 C^W9=OH  
    k),!%6\(  
    LtIw{* 3  
    pk5W!K  
    说明：检测透镜系统 vE=)qn=a  
    [sF z ;Py]  
    }'.k  
    ZlxJY%o eu  
    说明：微型晶片 s)<^YASg  
    @ %}4R`S0  
    9u&q{I  
    ;DXcEzV  
    说明：检测物镜 %e,X7W`'2  
    u{SJ#3C5  
    c5f8pa *  
    .o?"=Epo  
    说明：探测器 ck"lX[d1  
    nC;2wQ6aO  
    Jfs$VGZP;  
    WP b4L9<  
    结果：3D光线追迹（只有0级） 2A^>>Q/,u  
    ]J aV +b'O  
    =|_{J"sv  
    43p0k&;-7  
    结果：3D光线追迹（所有级） k@i+gV%  
    FBCi,_ \4  
    UNB'Xjp}@  
    M]JD(  
    结果：光线追迹 f6d:5 X_  
    [EX@I =?  
     8ezdU"  
    6)B6c. 5o  
    结果：场追迹 q\fZ Q  
    ;E{k+vkqy  
     hb_J. Q  
    @! gJOy  
    结果：线性偏振光的场追迹 ZI8*PX%2  
    r6#It$NU  
    SK @%r  
     cGVIO"(VP  
    文档和技术信息 vg6 ' ^5S7  
    qek[p_7  
     HpD<NVu  
    |*w}bT(PfR  
     :XP/`%:  
    QQ：2987619807 \k69 S/O  
     
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