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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 96S$Y~G# &  
    }=B~n0  
    任务/系统说明 j{johV+`8  
    l](!2a=[  
    E@6gTx*  
    h(^c5#.  
    亮点 -zWNQp$  
    omznSL  
    0+[3>Ny 0  
    ?a*w6,y.  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) 8kC$Z)  
     严格分析光栅衍射效率 .V\~#Ro$G  
     考虑入射光的方向分布 n/`!G?kvI  
    tvBLfqIr  
    说明:光源 *>HS>#S  
    XB@i{/6K  
    8C[eHC*r  
    wn|;Li  
    说明:光束分束器 eCWF0a  
    :S}ZF$ $j%  
    _z1Qr?cY  
    4"\x#  
    说明:检测透镜系统 K7C!ZXw~  
    {NcJL< ;tS  
    Aar]eY\  
    TU;AO%5  
    说明:微型晶片 #DARZhU)  
    \t`VqJLyu  
    4E_u.tJ  
    t~)4f.F:  
    说明:检测物镜 }@/Ox  
    `t44.=%  
    \Ui8gDJ8y5  
    1]Cb i7  
    说明:探测器 t,'J%)j  
    -SLk8x  
    !vVW8hbp  
    h~qv_)F_  
    结果:3D光线追迹(只有0级) T!Tp:&O-  
    LE~vSm^#  
    V|F/ynJfA  
    (kyRx+gA  
    结果:3D光线追迹(所有级) /x]^Cqe  
    .gN ziDO  
    \ So)g)K  
    e>6W ^ )  
    结果:光线追迹 E{QjmlXQ<  
     Hyenn  
    *_m ER`  
    <%W&xk  
    结果:场追迹 MiKq|  
    7]Hf3]e>/  
    ^CM@VmPp  
    B*E"yB\NV  
    结果:线性偏振光的场追迹 uhnnjI  
    Nf2lw]-G4  
    2yD ?f8P4  
    Z-pZyDz  
    文档和技术信息 1|s` z  
    @HnahD  
    x^i97dZS^"  
    T00sYoK  
    Cs,Cb2[  
    QQ:2987619807 {5HQ=&  
     
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