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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 h/T^+U?-<  
    Knd2s~S  
    任务/系统说明 xW`,@a }  
    -Xm/sq(i)%  
    5u(B]_r.  
    lRIS&9vA3  
    亮点 u$A*Vsmr  
    FQc8j:'  
     B?;!j)FUtt  
    s@Q, wa(  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） )ad-p.Hus  
     严格分析光栅衍射效率 Gag=GHG  
     考虑入射光的方向分布 G}MJWf Hl  
    U _QCe+  
    说明：光源 Vn4y^_H  
    W{z7h[?5,  
    )U>JFgpIW  
    HY (|31  
    说明：光束分束器 a!n |/9 6  
    S"*M9*8  
    P, (#' W  
    '?WKKYD7N  
    说明：检测透镜系统 pA ,xDs@37  
    C(t >ZR  
    Het5{Yb.  
    7hg)R @OC  
    说明：微型晶片 .{pc5eUf  
    @vy {Q7aM  
    \NIj&euF  
    +\@) 1  
    说明：检测物镜 8efQ -^b.  
    5]c'n  
    GIo7- 6kvm  
    w=ZSyT-i  
    说明：探测器 KF'DOXBw>  
    `pB]_"b  
    zcn> 4E)  
    0N" VOEvG  
    结果：3D光线追迹（只有0级） m2j&v$  
    "4 Lt:o4x  
    >= G{.H  
    ~Ogtgr  
    结果：3D光线追迹（所有级） GI]sE]tZ  
    d[cqs9=\  
    v>e%5[F  
    O.ce"5Y^  
    结果：光线追迹 C(RZ09,.S  
    9|;"+jlt  
     !uoQLiH+  
    n!nXM  
    结果：场追迹 'G6M:IXno  
    # p?7{"Ep  
     6}Iu~| 5  
    I U Mt^z  
    结果：线性偏振光的场追迹 c^4^z"Mo`  
    4| 6<nk_  
    3G4N0{i  
     t[L_n m5-  
    文档和技术信息 BA1|%:.   
    U\crp T`  
     @L p;p$G`  
    AK7IPftlH  
     XAn{xN pz  
    QQ：2987619807 lur$?_gt  
     
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