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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 T[4xt,[a  
    e(wc [bv  
    任务/系统说明 ~Bl,_?CBr  
    #_^ p~:  
     dF `7]  
    Y nnK]N;\x  
    亮点 E 14DZ  
    G-i2#S   
     m?wQk:Y1  
    4x ?NCD=k  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） AyQ5jkIE^{  
     严格分析光栅衍射效率 u$tst_y-  
     考虑入射光的方向分布 uKzx >\}?1  
    P, ZQ*Ju  
    说明：光源 uPl7u 1c  
    Q"s6HZ"YI  
    Ak3^en  
    G\tN(%.f  
    说明：光束分束器 a;dWM(;Kw  
    .WSn Y71  
    W/A@qo"  
    < e3] pM  
    说明：检测透镜系统 mvH}G8  
    L+ew/I>:  
    j&dCP@G  
    ,X|FyO(p  
    说明：微型晶片 lI46 f  
    Y->sJm  
    UxMy8} w!y  
    27R4B O  
    说明：检测物镜 V|A.M-XLv4  
    8Y%  
    `6-flc0r  
    aNM*=y`  
    说明：探测器 SeZ+&d  
    ?VxQ&^|  
    hQ>$ "0K  
    )+v5 H  
    结果：3D光线追迹（只有0级） OLF6["0Rn  
    |:SV=T:  
    RPMz&/k  
    )/f#~$ws  
    结果：3D光线追迹（所有级） f-^*p  
    ~YNzSkz  
    Z}zka<y6K6  
    B^M L}$  
    结果：光线追迹 U(+QrC:  
    ?mV2|;  
     orWF>o=1  
    6(\-aH'Ol  
    结果：场追迹 _@?I)4n|  
    1Z_]Ge<a  
     ej7N5~!,s  
    i`6utOq  
    结果：线性偏振光的场追迹 r_ m|?U %  
    aA*h*  
    s,C>l_4-  
     )jwovS?V  
    文档和技术信息 #WUN=u   
     eJ[+3Wh  
     }j6|+  
    _Q\rZ l  
     uFuH/(}K[  
    QQ：2987619807 "AqLR  
     
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