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    [推荐]光学断层扫描干涉法 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-09-23
    摘要 xM/B"SG2  
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    扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 &a>fZ^Y=k  
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