切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 光学手册（上、下册，李景镇） 光学元件微纳制造与精密检测技术 Zemax光学设计从入门到精通(中文版) 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 782阅读
    • 0回复

    [推荐]光学断层扫描干涉法 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    在线infotek
    技术专家
     
    发帖
    4689
    光币
    17821
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-09-23
    摘要 >6+K"J-@  
    v2sU$M  
    扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。 }}1Q<puM  
    qKC*j DW  
     %'z3es0  
    _6 `4_<c=  
    建模任务 Jo<6M'  
    ;$< ek(i7  
     UV.9 KcN.  
    K6 7? d  
    结果 MNC!3d(D\R  
    zK?[dO  
    ]E^f8s0#V  
    DA~ELje^j  
    文件信息 |vzWSm  
    <vDm(-i3  
     NhX.yLb$   
    KL]!E ~i  
     9YhsJ~"Q  
    QQ：2987619807 ?F{xDfqw  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表