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摘要 B*htN #k3t3az2{ 高NA物镜广泛用于光学光刻,显微镜等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考虑光的矢量性质。 使用VirtualLab对这种镜头进行光线追迹和场追迹分析非常方便。通过场追迹,可以清楚地展示不对称焦斑,这源于矢量效应。相机探测器和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性,可以让用户深入了解矢量效应。 ]]}tdn _ c`x7u}C \.XLcz xUF_1hY 建模任务 6.t',LTB _md=Q$9!m TwyM\9l7 概观 yBLK$@9 k7tYa;C (><zsLs& 光线追迹仿真 ,(a5 @H$f = sAn,ri •首先选择“光线追迹系统分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作为仿真引擎。 3cj3u4y yV)m"j •点击Go! _wb0'xoK" •获得3D光线追迹结果。 RkFD*E$ T+LJ*I4
~.PP30' UDf9FnG}L 光线追迹仿真 bg|!'1bD`5 G
;?qWB, TJ?g% •然后,选择“光线追迹”(Ray Tracing)作为仿真引擎。 0;,IKXK6X •单击Go! W{XkVKe1a •结果,获得点列图(2D光线追迹结果)。 5)1+~ B 9Qj2W OEdJc\n_R h72UwJ2rw 场追迹仿真 l? #xAZx&_ a:SQ16_? "Clz'J]{ •切换到场追迹并选择“第二代场追迹”(Field Tracing 2nd Generation)作为仿真引擎。 4X
NxI1w) •单击Go! Np)3+!^1" ~
aZedQc mN0=i(H< L{g E'jCC 场追迹结果(摄像机探测器) n)8Yj/5 m$>iS@R wh 0<Uv •上图只显示整合了Ex和Ey场分量的强度。 D)='8jV7 •下图显示整合了Ex,Ey和Ez分量的强度。 x)5V.q Ez分量:由于在高NA情况下相对较大的Ez分量,可以看到明显的不对称性。 xu%'GZ,o9 z?8~[h{i%
y_F}s9wj (g/7yO(s 场追迹结果(电磁场探测器) t[.W$1= #;9H@:N t7#lsd`_ •所有电磁场分量均使用电磁场探测器获得。 M\/XP| 7 ?`sy%G
~HLRfL? 文件信息 kL{;.WsB '|K.k6
L0Vgo<A _45cH{$sA ,^T]UHRO QQ:2987619807 Yt1mB[&f^
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