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    [推荐]马赫-曾德尔干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-08-06
    摘要 M^3pJ=;5  
     LH]<+Zren  
    干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 :UDT! 5FNO  
    MPI=^rc2  
    建模任务 NQ"`F,T  
    K6X}d,g  
    U-0A}@N  
    元件倾斜引起的干涉条纹 LCf)b>C*  
    SFQYrY  
    i>}aQ:&^0  
    元件移位引起的干涉条纹 =vc8u&L2  
    ~qj09  
    qTD^Vz V  
    文件信息 xQK;3b  
     G.[,P~yy.  
    1?j[ '~aE  
    QQ：2987619807
     
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