-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-12-12
- 在线时间1894小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 j:de}!wc )|59FOWg 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 pDq^W@Rq U:etcnb4w> 建模任务 ]`CKQ>
o 5sA>O2Rt>
bSeL"
元件倾斜引起的干涉条纹 SoM
]2^ y$r?t0 btB(n<G2# 元件移位引起的干涉条纹 @4 g O\f:Pg ;k63RNT,M& 文件信息 e5"-4udCn $J;=Ux)$ f4aD0.K.g|
QQ:2987619807
|