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摘要 .6@qU} K1vm
[Ne 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 d#?.G3YmK 0cd`. ZF 建模任务 )^G&p[G
P[l? s@WF[S7D 元件倾斜引起的干涉条纹 [c{/0* rQW&$M qac4GZ 元件移位引起的干涉条纹 Rh:@@4< E"E Bj7<s yAge2m]<B 文件信息 ~@3X&E0S QasUgZ aNqhxvwf
QQ:2987619807
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