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摘要 dkVF B4Ko,=pg 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 7o_1PwKS6 hd^?mZ 建模任务 c07'mgsU .jA'BF. >slD.rb] 元件倾斜引起的干涉条纹 Up*1j:_O @ qy
n[C FrT.<3 元件移位引起的干涉条纹 '#LbIv4 ZfsM($|a `K5Lp>=R 文件信息 _IYd^c )WuU?Tn& t.Q}V5t{g
QQ:2987619807
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