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摘要 {c\oOM<7 AeY$.b 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 w-'D*dOi l\sS? 建模任务 ^Azt.\fMX Wq{d8|)1 o3i,B),K 元件倾斜引起的干涉条纹 L VU)W^ (w#slTFT iA%'
;V 元件移位引起的干涉条纹 {Ukc D+.Y K?FX<PT o! 2n}C 文件信息 u_p7Mcb ){Ciu[h hP4)8 >
QQ:2987619807
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