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摘要 N83g=[ 1,(uRS#bk 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。
>TQnCG= s5D<c'- 建模任务 n;0x\Q|S ;sfk@ec iVqa0Gl+} 元件倾斜引起的干涉条纹 TP?HxO_C Fc.1)yh. Sp^jC
Xu 元件移位引起的干涉条纹 z\r|5Z .qG*$W2f (H-Y-Lk+ 文件信息 J<=k
[Q m9m]q&hx E1V;eoK.D
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