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摘要 F2X0%te ID/F 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 [`
sL?&a R:B^ 建模任务 o.I6ulY8 s.8{5jVG r&FDEBh 元件倾斜引起的干涉条纹 ']+Uu'a =hl }.p 4[N^>qt = 元件移位引起的干涉条纹 W^"AU;^V56 tJN<PCG6" '(/7[tJ 文件信息 *?MGMhE NIw\}[-Z0E |fo0
QQ:2987619807
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