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摘要 'pOtd7Vr Mn+;3qo{6 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 KU[eY} ,J?Hdy:R 建模任务 !]Z> T5$ T{u!4Yu *zX*k7LnV 元件倾斜引起的干涉条纹 @YmD 79 le`&VdE^ QZk:G+$ 元件移位引起的干涉条纹 Y?hC/6$7 z^9Yoqog ]B0>r^ 文件信息 haW8zb0z /E(H`;DG y|b|_eE?{
QQ:2987619807
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