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摘要 M,b^W:('4 $1$T2'C~+ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 *X4$'LSx1 z7P]g
C$\ 建模任务 wk"zpI7L >ey-j\_v Du2v,n5@ 元件倾斜引起的干涉条纹 @UidQX"b {l -V J6Q}a7I# 元件移位引起的干涉条纹 ep3iI77/ L7lRh=D .xp|w^ 文件信息 t,yzqn
d4#Ra% w+0Ch1$
QQ:2987619807
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