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摘要 #c5 NFU}9 1"r6qYN!> 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 .c'EXuI7), JVA JLq 建模任务 .(tga&] uj$b/I>.' )1a3W7 元件倾斜引起的干涉条纹 DWep5$>&K O2E6F^.pYw j+:q:6 = 元件移位引起的干涉条纹 %+iJpRK)7 7d?'~}j v\#69J5.>) 文件信息 e,qc7BJzK >3
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