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摘要 !{Q:(B#ec v_z..-7Dq+ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 U=kx`j> *qPdZ 建模任务 Uvh~B^6 Y$`eg|$ 0iJ!K;A2% 元件倾斜引起的干涉条纹 rBD(2M ?GO
SeV ym|NT0_0 元件移位引起的干涉条纹 FjZc#\^9 4mN].X[, Zk=*7?!! 文件信息 oTCzY Y KdT[*- E dn[cH7
QQ:2987619807
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