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摘要 }Rf}NWU)| iX0]g45o 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 0:7v/S!: +xoyKP! 建模任务 pe`TH::p /h.:br?M#P =%:n0S0C" 元件倾斜引起的干涉条纹 D;16}D ^+.+IcH j\i;'t}8g 元件移位引起的干涉条纹 %RfY`n ^?sSsHz !3b|*].B 文件信息 [="g|/M) +R{A'Yl[( 8gu'dG =
QQ:2987619807
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