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摘要 B \?We\y ;',hwo_LBf 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 R@*mMWW, /.PjHTM< 建模任务 )P&>Tc?;z A4;EtW+F `PML4P[ 元件倾斜引起的干涉条纹 tA#7Xr+ :[icd2JCw] j7L uN 元件移位引起的干涉条纹 .Up\ 0|b 80qSPitj "},0Cs 文件信息 $P<T`3Jg 50MdZ;R-3 SvR:tyF
QQ:2987619807
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