-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-04-29
- 在线时间1766小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 -efB8)A
a@niig 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 {5J: ]{p }8)iFP&" 建模任务 K XbD7N. pPnJf{ o.x<h"; 元件倾斜引起的干涉条纹 #xe-Yw1! @zAav> j6r.HYX! 元件移位引起的干涉条纹 Fa^I 1fk 3W.5[;} PBY^m+
文件信息 4j VFzO%. Yo a|.2f U7le> d;L
QQ:2987619807
|