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摘要 _gGI&0(VM R?/!7 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 hJ>Kfm c6;326aDq 建模任务 ;?*`WB nQ$4W Ji#"PE/Pt 元件倾斜引起的干涉条纹 /F(wb_! MKnG:)T<?l #JOWiO0> 元件移位引起的干涉条纹 w6PKr^ YV6@SXy ,D6hJ_: 文件信息 FRSz3^A w qG=>eRR 7eM:YqT/#
QQ:2987619807
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