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摘要 i]8HzKuiW .P\wE"; 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 "?|sC{'C4j {J2*6_ 建模任务 3]BK*OqJ w66iLQ\@ ahNpHTPa 元件倾斜引起的干涉条纹 (tV/.x*G ~:r:?PwWG q]3bGO; 元件移位引起的干涉条纹 3z9}cOFq]z v*'dA^Q bCY8CIF 文件信息 yTWP1 PSz|I8
c \ Tf845
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