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摘要 Psf'^42(v aPlEM_escS 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ,gk'8] H0&wn#);6R 建模任务 MS#"TG/) %J-:%i BPv+gx(>k 元件倾斜引起的干涉条纹 {HY3E}YJL ]h1.1@ >xc ! (lF#MG} 元件移位引起的干涉条纹 6p
}a! Es#:0KH].v i/*)1;xsk 文件信息 BegO\0%+ oJNQdW[ HqsqUS3[
QQ:2987619807
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