-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-08-07
- 在线时间1825小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 P{oAObP% 66ohmP@04Z 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 -wr(vE, ;[5r7
jHU 建模任务 L`K;IV%; Ky9W/dCR ;El <%{( 元件倾斜引起的干涉条纹 ,ECAan/@ K;kM_%9u Gbb\h 元件移位引起的干涉条纹 |4SW[>WT: LdWc
X`K G%hO\EO 文件信息 emWGIo ~$aTM_4 ( tn<
VK.
QQ:2987619807
|