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摘要 5Veybchy " /x&52~X5- 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 !:|D[1m mQ:5(]v 建模任务 9K#U<Q0b' vrXNa8,L u]t#Vf-$u 元件倾斜引起的干涉条纹 ;5=5HYx% :4S~}}N wTVd){q`. 元件移位引起的干涉条纹 .4,l0Nn`W gOn^}%4.I %<'PSri 文件信息 NSQf@o
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QQ:2987619807
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