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摘要 .q%WuQw +Vm}E0Ov 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 : YXX8|> Gnfd;.
(. 建模任务 E=e*VEjy IPgt|if^ Pl=ZRKn 元件倾斜引起的干涉条纹 R_sr?V|" 62 O.?Ij `S6x<J&T\/ 元件移位引起的干涉条纹 LXbP 2 3gv|9T S`#w+C#EW 文件信息 =x<ge _Y RoU55mL .Xce9C0SW
QQ:2987619807
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