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摘要 OnC|9 _+S`[:;a 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 x1]^].#Eo bPAp0}{Fu
?0WJB[/ 5v=%pQbY 建模任务 v-3In\T=^ ZTWbe 4T`u?T] @3K)VjY7 元件倾斜引起的干涉条纹 d%\{, p}hOkx4R\
p-GlGEt_X *T*=~Y4kE 元件移动引起的干涉条纹 D%N^iJC,9 aIpDf|~
suN{)" KtU I(*$` 走进VirtulLab Fusion ^1BQejD ``)ys^V
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ioNP( −基本源模型[教程视频] p3`'i
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] 5vj;lJKcd` Ig t:M[
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8C#R r9sW:cM:e 文件信息 ^\Nsx)Y; r`pg`ChHv
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