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摘要 iVn4eLK^v \L(cFjLIl 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 g~y0,0'j1\ ]5"k%v|
"u7[[.P) ;yomaAr 建模任务 &~P4yI;, -i:WA^yKgw Pl/ dUt_ " _2k3 元件倾斜引起的干涉条纹 cDY)QUmi AhN3~/u%7
RH;ulAD6(~ S{;Pga*Px 元件移动引起的干涉条纹 _M`ZF*o=c _J!^iJ
<3{MS],<< jXE:aWQht 走进VirtulLab Fusion TM(y%!\ 'NlhLu
BS##nS-[ ,XO@ZBOM VirtualLab Fusion工作流程 )*]A$\Oc[ rpRyB9 −基本源模型[教程视频] fQa*> **j;
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] US ALoe '|SO7}`;Q
+Umsr nXRa_M(z8 VirtualLab Fusion技术 =8T!ldVxES mF;mJq<d
9Y,JYc# RJWO h 文件信息 cuQ!"iH U9:)qvMXe
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