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摘要 B-aJn8>/ ,\E5et4 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 ,4kipJ!,yK kl9<l*
(JeRJ4 8^"P'XQ 建模任务 f{f|frs ^HNccr r;OE6}L> T
eBJ 元件倾斜引起的干涉条纹 w}Xy;0c _D."KU|
0+"P1/ ~n!7 ?4%U 元件移动引起的干涉条纹 u"M^qRhD wfc+E9E
_JXb|FIp ($:JI3e[; 走进VirtulLab Fusion %'<m[wf^ o PVUNi: h
C$fQ[@ h*?/[XY VirtualLab Fusion工作流程 4p_@f^v~QH [[d@P%X& −基本源模型[教程视频] n"Q fW~ U
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] 1dX)l YM]ZL,8
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x CF+:9PG 文件信息 [P"R+$"
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vx QQ:2987619807 BFyVq
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