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摘要 cl8_rt a\&(Ua 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 =EcIXDzC> 1( ?CNW[
W?^8/1U cCh0?g7nV 建模任务 -?aw^du uZ/7t(fy fmnRUN= W7*_ T] 元件倾斜引起的干涉条纹 BK(pJNBh A&|Wvb=
hnsa)@ =nvAOvP{? 元件移动引起的干涉条纹 @cu}3> tB ,.
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- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] Et}C`vZ+Ve HzD> -f
^_*jp[!`b$ ;.nP%jD VirtualLab Fusion技术 P~Te+ -jX} YQ 8j
j8[`~pb ]cF1c90% 文件信息 t+=1 2{9;f _.d}lK3$2
#1QX!dK+ 3x"@**(Q di3 B=A>3 QQ:2987619807 r@*=|0(OrK
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