切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1445阅读
    • 0回复

    [转载]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5797
    光币
    23137
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-07-02
    摘要 ]~aj  
    [UA*We 1  
    -N*[f9EJB  
    Jy)=TJ!y  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 HG;;M6  
    8>9Mh!t}(I  
    建模任务 ?$|tT\SFV  
    2y - QH  
    -G.N  
    [)Nt;|U  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 _y~6b{T  
    s<zN`&t  
    f~NS{gL*  
    7|5kak>=  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ,VS\mG/}s  
    $@L;j  
    AioW*`[WjA  
     
    分享到