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摘要 )<L?3Jjt5 >&|/4`HSB
(<yQA. M =(,dI[v 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 h='@Q_1Sb \fC}l
Ll 建模任务 q%FXox~b BeM|1pe.
?tYc2R9x6" jhE3@c@pT 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ACH!Gw~ -KCQ!0\F
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u=3" oz?6$oE(bt 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 oFS)3. btB> -pT
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