切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1466阅读
    • 0回复

    [转载]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    5937
    光币
    23838
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-07-02
    摘要 * -uA\  
    gySCK-(y  
    8J|2b; Vf  
    U9"g;t+/   
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Qw>~] d,Z  
    _L?MYkD  
    建模任务 j.=&qYc0"  
    @^P<(%p  
    ?APzb4f^W  
    #+CH0Z  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 6Qtyv  
    O2xbHn4  
    ` 1Ui  
    zF: :?L~  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 g0({$2Q7R  
    J9aqmQj('  
    o3b=)E  
     
    分享到