切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 光学手册（上、下册，李景镇） 近代光学系统设计概论 Zemax光学设计从入门到精通(中文版) 现代光学基础（第2版 钟锡华）
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 1168阅读
    • 0回复

    [转载]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    技术专家
     
    发帖
    4615
    光币
    17455
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-07-02
    摘要 {R(/Usg!=  
    GZ<@#~1%\  
     ~YNzSkz  
    ZwxEcs+UM  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 tag)IWAiE  
     us5Zi#}  
    建模任务 `r&Ui%fk;0  
    !<h9XccN  
     wmK;0 )|H  
    |CQjgI|;  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 Gyy4)dP  
    gzK/l:  
     r.@UH-2c  
    6qV1_M#  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ?N+pWdi  
    U4a8z<l$  
     %/U'Wu{*  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表