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摘要 Kemw^48ts
W+wA_s2&D
'# NcZy +i ?S 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 M$4k; !1T\cS#1% 建模任务 A,CW_ [u@Jc,
G2 ]H6G$M J2q,7wI# 由于组件倾斜引起的干涉条纹 c5q9LQ/ DBLk!~IF
#?MY&hdU9 :a8 YV!X 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 w&$d* E c$S{^IQ
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