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摘要 =SAU4xjo ;kJu$U
)Y8",Ig XZ/[v8 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 "aFhkPdWn $7'gRb4 建模任务 n3`&zY +~ #U7xgq/
kGUJ9Du wO>L#"X^v 由于组件倾斜引起的干涉条纹 P\&! ] o1/lZm{\~n
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