-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-07-21
- 在线时间1977小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 [3Rj?z"S s`RJl V
@g~sgE}# k#xpY!'7 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Kf#!IY][ GwBQ
pNjy 建模任务 MVZ>:G9: |U
$-d^ZJ
K5&C}Ey1 /&7Yi_]r 由于组件倾斜引起的干涉条纹 4a!7|}W AW5g (
u,:`5*al{ NCt sx /C 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 KTt$Pt/. (14kR
 ^~ $&
|