切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 光学设计仿真实验指导 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 现代光学设计及应用(Zemax) CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 1711阅读
    • 0回复

    [转载]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6617
    光币
    27234
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-07-02
    摘要 $t[FH&c(  
    V~3a!-m\  
     eF$x1|  
    .W%)*&WH\  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 "%w u2%i  
     ?dg [:1R}  
    建模任务 m+[Ux{$  
    97*p+T<yp  
     ydA8wL  
    lTgjq:mn  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 ""G'rN_=Bi  
    U?Zq6_M&  
     $7ZX]%<s  
    JX;G<lev  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 WSB 0~+  
    <iC(`J$D  
     Z@S3ZGe  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表