切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1443阅读
    • 0回复

    [转载]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5797
    光币
    23137
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2020-07-02
    摘要 #.UooFk+Y  
    v-J*PB.0p  
     ;?1H&  
    N&U=5c`Q'  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Wo2TU!  
    aErms-~  
    建模任务 kMAQHpDD  
    r4k =i4  
    nellN}jYsM  
    o {Sc  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 1w/1k6`0  
    N%%2!Z#  
    ?Ko)AP  
    rlmzbIu I9  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 d76k1-m\o  
    O7 %<(  
    H%> E6rVB  
     
    分享到