-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-11-17
- 在线时间1888小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 + ~~ Z0.[ bM5CDzH(#X
@Kp1k> ov L^)qe^%3 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 K-6p'| "f<#.}8 建模任务 g}YToOs 3;A$<s
{KsVK4\r c&b/Joi7@ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 &urb!tQ>& NA\ x<
0$l&i=L JSRg?p\ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 s&0*'^'O[S R}hlDJ/m-
 d=F)y~&'
|