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摘要 D:S6Mu
B[2h
D| 8sjp4 +A.a~Stt 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 %$!R] B) T5X'D(\| 建模任务 HT1dvC$COo xhp-4
OGD8QD zN8&M<mTl 由于组件倾斜引起的干涉条纹 n+A'XBHk N";dG 3
6#lC(ko' i32_ZB Z?y 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Ot8S'cB1,$ d
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