切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1166阅读
    • 0回复

    [转载]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    4615
    光币
    17455
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-07-02
    摘要 LyT[  
    J+nUxF;EE  
    m@c\<-P  
    MM/D5g  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 =(as{,j  
    8|S}!P"  
    建模任务 $s9YU"  
    RATW[(ZA  
    AI*1kxR  
    m^YYdyn]M  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 5cSqo{|En  
    cY%6+uJ1  
    /HM 0p  
    !L55S 0 3  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 _*dUH5  
    p>0n~e  
    ,mvU`>Ry  
     
    分享到