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摘要 nwOT%@nw biJ"@dm
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&R\t<X9 n lLq:(zMH 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 b'1n1L kf3 u',}R 建模任务 WJp9io[GM umt*;U=
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s#v[Y 由于组件倾斜引起的干涉条纹 r~&[Gaw 8CR b6
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