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摘要 <aL$d7 W?XvVPB
N-_2d*l 3 "z@qG]#5 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 olK%TM[Y TO3Yz3+A 建模任务 Tvf]OJ9N !{Y$5)Xh`]
G^)|c<'M i>b^n+74> 由于组件倾斜引起的干涉条纹 e:NzpzI"v mQo]k
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