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摘要 |0p'p$% |"v{RC0
+9CUnRv :X*LlN 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 GJPZ[bo YU(*kC8 建模任务 ^/vWK\- tb3fz")UC
yG$@!*| -74T C 由于组件倾斜引起的干涉条纹 }4%)m l&xD3u^G
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