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摘要 $3Sm? RHI?_gf&
m4 c2WY6k "6WE6zq 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 _nIt4l7 <a(739IF 建模任务 e1H2w?
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)^g/>0i uF@DJX}> 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ZGS4P 0$ RPTIDA))
@(m?j1!M mN"g~o* 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 gGbJk&E X<:Zx#J?i
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