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摘要 r)4GH%+?fv +-s$Htx
yniXb2iM MXVQ90 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 8ztVv v--Qbu 建模任务 xOKLc!J ||xiKg
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kk jV}tjwq 由于组件倾斜引起的干涉条纹 t\GoUeH] RWX?B
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iQ/t 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 >ocDh~@aP 55%j$f
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