如何分析部分
干涉成像系统 (光刻机系统)
z.
xRJ t++\&!F 在光刻应用中,所使用的
光源不是完全相干的,如何在晶片上分析部分相干成像系统中的掩模?
zM<yd#`yt8 在这里给大家分享一个案例, 希望可以帮到大家。
rvBKJ!b0 Q?-u J1J P%Wl`NA P 这里是一步一步的如何在
ZEMAX 中操作:
https://sot.com.sg/coherent-imaging/ hV"2L4/E zjwo"6c> 这里是案例的ZEMAX
文件: 备注: 我用的ZEMAX 是20年版本, 如果您版本过低,可能无法正常打开, 请谅解!
X$ 76#x =lS@nRH 如果不能打开文件, 请告知我, 我转发给你。
4I3)eS%2 2%t!3F: 回帖是对我分享的一个鼓励, 谢谢回帖!