如何分析部分
干涉成像系统 (光刻机系统)
WAq!_xE oD<aWZ"Z 在光刻应用中,所使用的
光源不是完全相干的,如何在晶片上分析部分相干成像系统中的掩模?
-So$f-y 在这里给大家分享一个案例, 希望可以帮到大家。
zD^*->`p gug9cmA/Q7 "t0l)P*C} 这里是一步一步的如何在
ZEMAX 中操作:
https://sot.com.sg/coherent-imaging/ At<D36,^" pSa
pF)1> 这里是案例的ZEMAX
文件: 备注: 我用的ZEMAX 是20年版本, 如果您版本过低,可能无法正常打开, 请谅解!
) KvGJo)(" C*X=nezq 如果不能打开文件, 请告知我, 我转发给你。
L0\~K~q i8w/a 回帖是对我分享的一个鼓励, 谢谢回帖!