《
薄膜光学与薄膜技术基础》是作者多年来从事薄膜光学与薄膜技术课程教学研究成果的总结。《薄膜光学与薄膜技术基础》共分三篇13章:第一篇分为4章,讲述薄膜光学基本理论,内容包括各向同性均匀和非均匀、各向异性均匀和非均匀、吸收和导电层状介质薄膜反射和透射特性计算;第二篇分为6章,分类讲述增透膜、高反射膜、带通滤光片、截止滤光片、带阻滤光片和分光镜的膜系构成、特性描述及其应用;第三篇分为3章,比较全面地介绍了物理气相沉积、化学气相沉积和液相沉积薄膜制备方法原理、光学薄膜检测技术,以及一些金属薄膜、
半导体薄膜和介质薄膜制备实例。鉴于薄膜光学与薄膜技术的飞速发展,《薄膜光学与薄膜技术基础》在取材的深度和广度上充分考虑到现代前沿科学领域的知识内容。
4vZ4/#(x NTs7KSgZ #KpY6M-H 目录
Gwec4D 第一篇 薄膜元学基本理抢
Sb&lhgW]c 第1章 薄膜光学的电磁理论基础 1
k[|~NLB8 1.1 麦克斯韦方程 1
{,$rkwW 1.2 平面电磁波 6
P Ru&3BP 1.2.1 复矢量波动方程一一齐次矢量亥姆霍兹方程 6
-yH,5vD 1.2.2 理想介质中的平面波解 7
b'p4wE> 1.2.3 吸收介质中的平面波解 8
^q[gxuL_ 1.3 平均电磁能流密度光强 9
rxZi8w>} 1.4 电磁波谱、
光谱 10
o+ O}Te 习题 12
+g *k*e>l 参考文献 12
K`%tGVY 第2章 平面光波在两介质分界平面上的反射与透射 14
h) (*q+a 2.1 各向同性理想介质界面的反射与透射 14
*A}WP_ZQ 2.1.1 S波反射与透射 14
e79KbLV 2.1.2 P波反射与透射 16
0JyVNuHn 2.2 各向同性吸收介质界面的反射与透射 18
cWAtju?L; 2.2.1 S 波反射与透射 18
R=)55qu 2.2.2 P 波反射与透射 20
K7TzF& 2.3 非均匀介质界面的反射与透射 21
0DPxW8Y -` 2.3.1 几何光学近似条件下非均匀介质中的波传播 21
\FmKJ\ 2.3.2 任意非均匀介质界面的反射系数方程 24
VRng=, 2.4 各向异性介质界面的反射与透射 30
i?@M 2.4.1 平面对称各向异性介质中麦克斯韦方程的分量形式 31
@J'YV{] 2.4.2 平面对称各向异性介质界面的反射与透射 31
;iYff N 2.5 反射系数和透射系数随入射角的变化 36
"?}uQ5f 2.5.1 全反射与倏逝波 36
5N7H{vT_ 2.5.2 全透射 37
#E7AmmqD% 2.5.3 反射系数、透射系数振幅和相位随入射角变化 38
G 7LIdn= 2.6 反射率和透射率 39
C|-pD 2.6.1 理想介质分界面的反射率和透射率 40
Gctsp2ndW 2.6.2 吸收介质分界面的反射率和透射率 41
TYns~X_PR 2.6.3 空气与金属导体表面的反射率 43
8AFczeg[[ 习题 44
-1|iz2^N 参考文献 44
Of}|ib^t 第3章 平面光波在平界面层状介质薄膜中的反射与透射 45
m}j:nk 3.1 法向阻扰和光学有效导纳的概念 45
MmTC=/j 3.2 平面分界面单层均匀介质薄膜的反射与透射 47
j+4H}XyE 3.3 平面分界面多层均匀介质薄膜的反射与透射 53
R=j% S! 3.3.1 平面分界面多层均匀介质薄膜反射系数和透射系数计算的矩阵方法 53
F'm(8/A$ 3.3.2 多层增透膜和高反射膜的基本构成特点 55
yl&UM
qI( 3.4 非均匀介质膜层的特征短阵 61
TX8<J>x 3.4.1 一阶近似 62
8P' ana 3.4.2 二阶近似 63
gN6rp(?y 3.5 各向异性介质薄膜的分层矩阵计算方法 64
!BIOY!M 3.5.1 各向异性介质中的矩阵波动方程 64
qPGuo5^ 3.5.2 各向异性介质薄膜的矩阵波动方程 66
+_l^ #?o, 3.5.3 均匀各向异性介质薄膜矩阵波动方程的解 70
q%YV$$c 3.5.4 单轴各向异性介质薄膜的特征矩阵 72
XL}"1lE 3.5.5 非均匀各向异性介质薄膜矩阵波动方程的数值解 74
W-~n|PX8+ 3.5.6 单层各向异性介质薄膜的反射与透射 75
(7FW9X; 习题 79
Mz]:}qmFA 参考文献 79
:nY2O 第4章 膜系设计图示法 81
Kn;D?ioY 4.1 矢量法 81
[V8fu
qE> 4.2 导纳图解法 87
e$)300 o 4.2.1 单一等效界面等反射率导纳圆图和等相位导纳圆图 87
9O.Y OiW 4.2.2 单层膜系等折射率导纳圆图和等相位导纳圆图 89
(@0O 4.2.3 多层膜系等折射率导纳圆图 92
,3i,P(?( 4.3 金属膜导纳圆图 97
Ey[On^$ 4.4 膜系层间电场分布 99
p>=[-(mt 习题 100
o]n!(f<(* 参考文献 101
>gll-&;t 第二篇 光学等膜分类反应用
!9iGg*0dx 第5章 增透膜 102
&;TJ~r#K 5.1 表面反射对
光学系统性能的影响 102
UYP9c}_,4 5.2 基底介质非相干叠加的透射率 104
`6Qdfmk= 5.3 透射滤光片组合透射率 106
K5t0L!6<+ 5.4 均匀介质增透膜 107
"6ECgyD+E! 5.4.1 单层均匀介质增透膜 107
G9P!_72 5.4.2 多层均匀介质增透膜 108
/t<@"BoV 5.5 非均匀介质增透膜 113
d%@~mcH> 5.6 入射角变化对透射率的影响 115
vl Ez9/H 5.7 增透膜应用实例液晶显示增透膜 117
:G w~7v_ 习题 118
s)
O[t 参考文献 118
lK'Rn~ 第6章 高反射膜 120
owpWz6k7 6.1 反射镜组合的反射率 120
Ty(@+M~- 6.2 周期多层膜系的反射率 121
D#A~Nbc 6.2.1 周期多层膜系的特征矩阵 121
#:x4DvDkR 6.2.2 周期多层膜系的反射率和透射率 122
-5l6&Y 6.3 [HL]m类型的周期多层膜 123
f$HH:^# 6.4 (0.5L) H(0.5L)m类型的对称周期多层膜 126
1k%k`[VC 6.5 周期多层膜构成的宽带高反射膜 128
0H_!Kg 6.6 中远红外区域的多层高反射膜 129
W/ay.I 6.7 软X 射线区域的多层高反射膜 131
%?C8mA'w 6.8 金属反射镜 134
o_M.EZO 6.8.1 常用金属反射镜 134
?jQ](i& 6.8.2 金属一介质反射镜 136
X .F^$ 6.9 影响反射特性的因素 137
p{)5k 6.10 高反射镜应用实例 143
^E`(*J/o 6.10.1
激光高反射镜 143
?YM4b5!3T 6.10.2 光刻机系统193nm 高反射膜 144
X@)z80 6.10.3 DLP/LCoS 技影薄膜宽角度高反射镜 145
RF!a// 习题 146
DciwQcG 参考文献 146
M@1r:4CoKH 第7章 带通滤光片 149
{Hmo1|_S| 7.1 带通滤光片的特性描述 149
Y<"7x#AB! 7.2 带通滤光片的基本构型一一法布里一咱罗干涉仪及其变形 150
YNrp}KQ 7.3 法布里一咱罗干涉仪透射率计算 151
}V;+l8 7.3.1 单层薄膜反射与透射计算的有效界面法 151
:1q4"tv| 7.3.2 膜系透射定理 153
'uDjFQX 7.3.3 法布里一躏罗干涉仪的透射率计算 155
jDM
w2#< 7.3.4 法布里础罗干涉仪透射特性分析 156
bOp54WI-g 7.3.5 特殊带通滤光片信噪比的计算 164
R
#]jSiS 7.4 窄带和中等带宽滤光片 164
l%R50aL 7.4.1 法布里踊罗干涉滤光片 164
h0Z{,s} 7.4.2 窄带平顶多腔带通滤光片 172
y;?ie]3G 7.4.3 诱导带通滤光片 174
{ x0 t 7.5 超窄带带通滤光片 183
8.=\GV 7.6 宽带带通滤光片 185
hd V1nS$ 7.7 带通滤光片的角特性 186
"P@>M) -9Z 7.8 极远紫外及软X 射线区域带通滤光片 190
&M/0g]4p 7.9 多通道窄带带通滤光片 192
Q zZ;Ob]' 习题 193
,vqr<H9e 参考文献 193
XMB[h 第8章 截止滤光片 196
IPSF]"}~ 8.1 截止滤光片的特性描述 196
j/T>2|dA& 8.2 吸收型截止滤光片 197
=$8nUX` 8.3 干涉型截止滤光片 198
kPBV6+d~ 8.3.1 1/4波长周期膜系的透射特性 198
L\{IljA 8.3.2 周期对称膜系的光学等效导纳和等效相位 199
e^YHJ>@ 8.3.3 [(0.5H)L(0.5H)]和[ (0.5L) H(0.5L)]类型对称膜系的光学等效导纳和等效相位 201
d%I"/8-J 8.3.4 [(0.5H)L(0.5H)Jm 和[(0.5L) H(0.5L)]m类型周期对称膜系的透射率 203
$N']TN 8.3.5 透射带内波纹的压缩 208
wfvU0]wk} 8.3.6 截止带的展宽 210
0n ~ Zz 8.3.7 透射带的展宽和压缩 212
yL^UE=#C_ 8.4 金属介质膜截止滤光片 218
+(D$9{y 8.5 热反射镜、冷反射镜和
太阳能电池覆盖膜 218
qa(>wR"mT 习题 221
CxhY$%C (L 参考文献 221
Q(d9n8 第9章 带阻滤光片 223
iGDLZE+? 9.1 带阻滤光片的特性描述 223
kL7#W9 9.2 周期对称膜系构成的带阻滤光片 223
ffXyc2o 9.2.1 单个周期对称膜层的等效导纳和等效相位 224
G'zF)0oD 9.2.2 多层膜透射率的不变特性 224
#eU.p&Zc 9.2.3 周期对称多层膜通带内波纹的压缩 227
C.^Ven 9.2.4 四种介质周期对称膜系构成的带阻滤光片 230
XS0xLt= 9.3 非周期对称多层膜构成的带阻滤光片 231
HBys 9.4 正弦周期折射率带阻滤光片 232
V]c;^ 9.4.1 正弦周期折射率带阻滤光片的基本构成特点 233
@\oz4^ 9.4.2 正弦周期折射率带阻滤光片设计的傅里叶变换方法 234
cWGDee( 习题 241
}),w1/#5u8 参考文献 241
b96%") 第10章 分光镜 243
<D&)OxEn\ 10.1 中性分光镜 243
&~UJf4b|A 10.1.1 金属膜中性分光 244
i`/+,< 10.1.2 介质膜中性分光 245
rV({4cIe9R 10.1.3 金属介质膜中性分光 247
]`g<w# 10.2 双色分光镜 249
3Y)PU= 10.3 偏振分光 254
@cRZk`|1n 10.3.1 偏振特性的描述 254
xR"M*%{@0 10.3.2 平板偏振分光镜 255
ri C[lB 10.3.3 棱镜偏振分光 258
;U:
{/ 10.3.4 宽角宽带偏振分光 259
$qF0ltUQ 10.4 消偏振分光 262
bi ozZ 10.4.1 偏振分离的描述 263
Z=4{Vv* 10.4.2 介质膜消偏振分光设计实例 267
-IlJ^Al4 10.4.3 金属一介质膜消偏振分光设计实例 271
FVv8-- 10.4.4 其他消偏振分光设计方法 273
04J}UE]Ww 10.5 分光中的消色差问题 280
2RF^s.W 习题 281
(3[z%@I 参考文献 282
H$ftGwS8 第二篇 薄膜扶术基础
zJ+8FWy:S 第11章 薄膜制备技术 283
wpA`(+J 11.1 真空技术简介 283
:[@k<8<] 11.1.1 真空的基本知识 283
&2-L.Xb 11.1.2 真空的获得 284
<?D[9Mk$ 11.1.3 真空的测量 286
Q "oI])r 11.2 薄膜制备方法物理气相沉积 289
^ yh'lh/ 11.2.1 蒸镀法 289
o!Ev;'D 11.2.2 溅射法 300
Cp^@zw*/ 11.3 薄膜制备方法化学气相沉积 306
+,:^5{9{ 11.3.1 化学气相沉积的原理 307
m`4R]L] 11.3.2 常压化学气相沉积 308
x#~ x;) 11.3.3 低压化学气相沉积 308
3:"]Rn([P 11.3.4 等离子体增强化学气相沉积 309
3$vRW.c\q 11.3.5 光化学气相沉积 310
\JG8KE=j 11.3.6 金属有机化学气相沉积 311
~,D@8tv 11.3.7 原子层沉积 312
m6eZ_&+u 11.4 薄膜制备方法一一液相沉积 313
%2'A
pp 11.4.1 化学镀 313
>$gG/WD?KR 11.4.2 阳极氧化法 314
6#}93Dgv4 11.4.3 溶胶一凝胶法 314
c8)/:xxl 11.4.4 电镀 315
*BD=O@ 11.4.5 LB 膜制备技术 315
r
_,_5
@0e 11.5 光刻蚀 316
)Fd
HV;K 11.5.1 光刻工艺 316
UE _fpq 11.5.2 光刻胶 317
j9qREf9) 11.5.3 掩模 318
E'1+ Yq 11.5.4 曝光 318
~mV"i7VX 11.5.5 刻蚀方法 318
Bhqft;Nuh 11.5.6 无掩模刻蚀 321
|CgnCUv+ 11.5.7 刻蚀图形及折射率 323
2c<&eX8" 习题 323
vgn@d,v 参考文献 324
:H. 第12章 光学薄膜检测技术 326
<1w/hy&mWN 12.1 光谱分析技术基础 326
-]Cc 12.1.1 光度计和光谱仪的基本构成 326
zJa)* N 12.1.2 紫外一可见光分光光度计和傅里叶变换红外光谱仪 330
, xx6$uZ 12.2 薄膜透射率和反射率测量 333
4@ILw 12.2.1 透射率测量 333
O#nR>1h 12.2.2 反射率测量 334
2y0J`!/) 12.3 薄膜吸收和散射测量 338
y`e4;*1 12.3.1 吸收测量 338
l=`L7| ^/d 12.3.2 散射测量 342
Kzy/9 12.3.3 薄膜表面轮廓及粗糙度测量 344
e{({|V ' 12.4 光学薄膜常数测量 347
|(
(zTf 12.4.1 光度法 348
8pM>Co! 12.4.2 全反射衰减法 354
Gx?+9CV 12.4.3 椭圆偏振法 357
QVZD/shq 12.5 光学薄膜激光损伤阔值检测 358
{-9jm%N 12.5.1 光学薄膜激光损伤机理 359
nU+tM~C%a 12.5.2 影响光学薄膜激光损伤阔值的因素 360
J
)BI:]m 12.5.3 激光损伤阂值测量方法 362
-7WW[
w 12.5.4 提高光学薄膜损伤阂值的途径 366
Nd:R"
p*8 12.6 薄膜微结构和化学成分检测 368
C2]Kc{4 12.6.1 薄膜微结构 368
HDM<w+ZxX 12.6.2 薄膜微结构检测 371
"_L?2ta 12.6.3 雕塑薄膜 372
ZWc+),X 12.6.4 薄膜化学成分检测 373
K.tlo^#^B[ 12.7 薄膜非光学特性测量 375
)/4(e?%= MB);!qy