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摘要 9~DoF]TM iKa}@U 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 m&DDz+g jYet!l
gOZ$rv^g IBY3QG 建模任务 9}Tf9>qP>M lztPexyXZ _cx}e!BK# 仿真干涉条纹 Xi_>hL+R( wHk4BWg- KUVsCmiT 走进VirtualLab Fusion '|< |