举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 >Cf]uiR
RLE n'R
8nn6^
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE .Oim7JQ8
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 nhy3E
APS 1 +]AE}UXZoh
GLOBAL i1sc oxX3\
NOSEQUENTIAL q!FJP9x
UNITS MM .!Z.1:YR
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 yJgnw6>r2
0 AIR 8Y4YE(x5
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 [OMKk#vW
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 A]>0lB
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR bbnAF*7s8
1 CC -1.04500000 &18} u~M
1 AIR K;YK[M1!
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 4S9AXE6
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR ] e&"CF
2 AIR aeg5ij-]u@
END 5#iv[c
9@^/ON\O
RSOL 10 20 2 0 123 c !5OK4+Z
PLOT ) .#,1
S__ o#nf`%
BLUE Kp!P/Q{
PUP 1 200 2o{Fp7l
e+2!)w)[
OBI INDEX 0 1 !iZ*Z Pu
TRACE P 0 0 200 &;,w})
f)*}L?
OBI INDEX 0 0 R*QL6t
RED C
YnBZ
TRACE P 0 0 200 rj,Sk~0Q
BPC$ v\a
OBI INDEX 0 -1 [5:F
GREEN ~r=u1]z
PUPIL 1 200 m,8A2;&,8
TRACE P 0 0 200 Q%@l`V)Rs
END KaO8rwzDN
om@` NW
Y5(`/
评估光线分布的方法: P 0,]Ud
1.查看在最终表面上的足迹图 v6iV#yz3(
在Edit Window中输入: 0;V2>!
G*Qk9bk9
PUPIL 1 400 yzXwxi1#
RED eZf-i1lJ
OBI IND 0 0 G&:YgwG
PLOT 2 1 0 0 3~M8.{
U#V
TRACE P 0 0 400 /eZAAH
OBI IND 0 1 EjvxfqPv
BLUE hcM 0?=
TRACE P 0 0 400 e}aD<EG
OBI IND 0 -1 L(}T-.,Slr
GREEN I'J=I{p*
TRACE P 0 0 400 [NJ!
END pNE!waR>
011 _(v
Pbz-I3+66
,TP^i 0
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 AvhmN5O=
y?Fh%%uNr
OBI INDEX 0 1 u9'4q<>&
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS <r9J+xh*p
OBI INDEX 0 0 U9kt7#@FDK
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS >b<br
OBI INDEX 0 -1 pH)V:BmJ
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS 2<U5d`
#|2w^Kn
FOR RECTANGLE Le#bitp
SIZE 5 5 t3G%}d?
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 2 }+V3/
PLOT Y#C=ku
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 YAd.i@^
[ bE9Y;
`W{Ye=|[d#
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 7nfQ=?XNK
输入格式: L
+-B,466
O!uX:TE|Q