举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
Q|DVB RLE
<Va7XX%> ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
bvxol\7 ; WAVL .6562700 .5875600 .4861300
<Z nVWER APS 1
_V.MmA GLOBAL
P1r)n{; NOSEQUENTIAL
y.xyr"-Q UNITS MM
nRE(RbRe OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
tRl01&0S 0 AIR
wX!q dII) 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
nmH1Wg*aW 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
4R(H@p%+r2 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
THVF(M4v 1 CC -1.04500000
&}:]uC 1 AIR
>l0y
ss)I 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
WRBCNra 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
-E$(<Pow~\ 2 AIR
i7%v2_ END
~$WBc qo ]FQO@y RSOL 10 20 2 0 123
Xxz_h* PLOT
ef Moi 'v <T3 v|\6~H BLUE
`X:o]t@ PUP 1 200
;v*J:Mn/= $+P6R`K OBI INDEX 0 1
Asy&X TRACE P 0 0 200
]gw[
~ [f1'Qb OBI INDEX 0 0
I*SrKZb RED
wm'a)B? TRACE P 0 0 200
+sW;p?K7eO lWR". OBI INDEX 0 -1
*%nV<}e^_= GREEN
=hP7Hea(N PUPIL 1 200
9i=HZ\s3 TRACE P 0 0 200
&(Yv&jX END
G[bWjw86O ]RvFn~E!s Hdn%r<+c 评估光线分布的方法:
z>6hK:27 1.查看在最终表面上的足迹图
y37c&XYq 在Edit Window中输入:
_oILZ, OxC8xB;` PUPIL 1 400
)Z=S'm
k4_ RED
AW R OBI IND 0 0
l9P=1TL PLOT 2 1 0 0
;h-W&i7 TRACE P 0 0 400
UyUz_6J OBI IND 0 1
\Zgc
[F BLUE
0p31C7! TRACE P 0 0 400
MmbS["A OBI IND 0 -1
:;g7T -_q GREEN
*B3 4 TRACE P 0 0 400
auai@)v6 END
9K6G% V#P`FX %*A|hK+G:W }t FRl 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
y"L7.B o?O> pK OBI INDEX 0 1
WSKubn?7B GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
(>R OBI INDEX 0 0
B*3<(eI GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
Wp
|qv OBI INDEX 0 -1
j(>~:9I` GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
'O+)[D >* )fmfY FOR RECTANGLE
Gm.sl}, SIZE 5 5
I;g>r8N-Bu VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
~x-v%x6 PLOT
QB"Tlw( 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
J/(^Z?/~P! {2v,J]v_[ tYk!Y/O} 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
;]PP+h 输入格式:
itn<