举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
{6iHUK RLE
+1Pu29B0 ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
4MRN{W6 WAVL .6562700 .5875600 .4861300
=Ds&ArG APS 1
Ryn@">sVI GLOBAL
Lbu,VX NOSEQUENTIAL
!'-./LD") UNITS MM
:|Bzbn=N2 OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
z5W;-sCz 0 AIR
|T{ZDJ+ 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
w[J.?v&^ 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
7eG@)5Uy 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
Tvw(Sq}; 1 CC -1.04500000
*oAnG:J+M 1 AIR
._<gc;G 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
XQcE
ZJ2 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
Rk}=SB- 2 AIR
i|fkwV,5 END
LP) IL~ hroRDD RSOL 10 20 2 0 123
fa,;Sw PLOT
\oO&c mWuhXY^Q BLUE
<n0j'P>1 PUP 1 200
f0g&=k{OD n;k
B_i*l OBI INDEX 0 1
]CgZt'h{ TRACE P 0 0 200
$B`bsJ ~AR0 ,lak OBI INDEX 0 0
S.^x)5/,,T RED
[}y"rs`! TRACE P 0 0 200
/_r{7Gq. C12y_E8Un OBI INDEX 0 -1
b2YOnV GREEN
%j ?7O00@ PUPIL 1 200
K\$z,}0 TRACE P 0 0 200
|sDp>.. END
YrTjHIn~w
AmcBu" -3C$br 评估光线分布的方法:
(Jk:Qz5 1.查看在最终表面上的足迹图
yJw4!A 1! 在Edit Window中输入:
cQ/T:E7$` ^7C,GaDsn PUPIL 1 400
v9Ez0 :) RED
Yq:TWeZD OBI IND 0 0
1JN/oq; PLOT 2 1 0 0
=4Wjb TRACE P 0 0 400
\>4x7mF! OBI IND 0 1
zxvowM BLUE
iPrAB* TRACE P 0 0 400
{1W,-% OBI IND 0 -1
|R (rb-v GREEN
="]y^&(L( TRACE P 0 0 400
j,#R?Ig END
a4N8zDS
]yA_N>k2K .?.Q[ic H$]FUv8 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
=JB1 ]b{| #NWc<Dd OBI INDEX 0 1
">S.~'ds GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
cin3)lm OBI INDEX 0 0
+K[H!fD GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
tNCKL.yU OBI INDEX 0 -1
l
#
F.S5i GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
1PT0<C- w~VqdB FOR RECTANGLE
L@6T~ SIZE 5 5
c (0Ez@ VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
R~(_m#6`: PLOT
)9>E} SU/ 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
?:sQ]S/Er
!u|s|6{\ ]}dAm S/ 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
<2 S?QgR, 输入格式:
ZNG{:5u,
:KJZo,\