举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 2\Vzfca
RLE eAkj pc
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE [ET03 nZ
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 , 8NY<sFh
APS 1 [,Io!O
GLOBAL ~"E@do("
NOSEQUENTIAL oCBZ9PGkK
UNITS MM bN6FhKg|
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 E6{|zF/3'
0 AIR [f'V pId8
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 A{5^A)$
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 poqcoSL"}
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR a)+;<GZ~
1 CC -1.04500000 /e^q>>z
1 AIR =kp-[7
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 R89;<,Ie
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR *Txt`z[|
2 AIR !+;'kI2
END nV|H5i;N7
+Mb;;hb
RSOL 10 20 2 0 123 Fxu'(xa
PLOT ;T Af[[P
f\W1u#;u)
BLUE JsfX&dX0
PUP 1 200 -.8 nEO3
w&eX)!
OBI INDEX 0 1 )Q_^f'4
TRACE P 0 0 200 6dG:3n}
<+1d'VQ2
OBI INDEX 0 0 XY[uyR4Z
RED Oy:;v7
TRACE P 0 0 200 }n+#o!uEf
W0]W[b,:u$
OBI INDEX 0 -1 ; ]*
%wX
GREEN ]]\\Y|0
PUPIL 1 200 <1HbjRw
TRACE P 0 0 200 os<B}D[
END Jww LAQ5
fdIO'L_
ggr\nY
评估光线分布的方法: j Y>BU&
1.查看在最终表面上的足迹图 '%@fW:r~
在Edit Window中输入: B|Y6;4?
"XWrd[Df
PUPIL 1 400 TA=VfA B
RED ?mdgY1
OBI IND 0 0 l.ri]e
PLOT 2 1 0 0 B'( /W@
TRACE P 0 0 400 y$=$Yc&Ub
OBI IND 0 1 nE!h&}(
BLUE >[]@Df,p
TRACE P 0 0 400 YQb43Sh`
OBI IND 0 -1 @Sxb}XI!f
GREEN fVlTsc|e
TRACE P 0 0 400 VKW9Rn9Qg
END }g1V6`8&
Byx8`Cx1
3g!tk9InG
_~?N3G
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 FL}k0
o`hVI*D
OBI INDEX 0 1 D -Goi-4
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
jpcbW
OBI INDEX 0 0 'l+).},
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS 3<ikMUq&
OBI INDEX 0 -1 ZT>?[`Vgc
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS v7?sXW
KkVFY+/)
FOR RECTANGLE %SW"{GnO^
SIZE 5 5 s8,{8k
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 |D `r o
PLOT BU-m\Kf)
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 Xr54/.{&@
)24c(
][ri
A
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 zmV5k
输入格式: UZ8
vZ
|a7W@LVYD