举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 wlVvxX3%
RLE V}:'Xgp*N
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE \HG$V>2
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 :c<*%*e
APS 1 !a[$)c
GLOBAL 6Ahr_{
NOSEQUENTIAL ,s? dAy5
UNITS MM +2y&B,L_Wh
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 p`p?li
0 AIR NL-_#N$
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 8^T2^gs
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 gvo?([j-m
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR ^4UcTjh
1 CC -1.04500000 {Zwf..,
1 AIR LE|<O
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 ' =}pxyg
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR YkI9d&ib+
2 AIR $WClpvVj
END >[P%Ty);
os_WYQ4>j
RSOL 10 20 2 0 123 R8uj3!3^
PLOT pz @km
sDAK\#z
BLUE Gc^t%Ue-H)
PUP 1 200 [Q:f-<nH
J7m`]!*t
OBI INDEX 0 1 , QA9k$`
TRACE P 0 0 200 9'X@@6b*'
J% AG`
OBI INDEX 0 0 a7=YG6[
RED yU!GS-
TRACE P 0 0 200 dq2@6xd
XLocg
OBI INDEX 0 -1 ^(g_.>
GREEN S;h&5.p
PUPIL 1 200 UEN56@eCNf
TRACE P 0 0 200 1x;@~yU
END ,\}k~ U99
yF;?Hg
_eh3qs:
评估光线分布的方法: _j>L4bT
1.查看在最终表面上的足迹图 g41<8^(
在Edit Window中输入: }{t3SGs J
<b'1#Pd>0
PUPIL 1 400 N5ci};?
RED FSe5k5
OBI IND 0 0 T,Fm"U6[(
PLOT 2 1 0 0 EO"6Dq(
TRACE P 0 0 400 cTy'JT7
OBI IND 0 1 F#KF6)P
BLUE [!Ao,rt?Vg
TRACE P 0 0 400 ?f f
[$ab
OBI IND 0 -1 +8eVj#N
GREEN tbS#^Y
TRACE P 0 0 400
.=CH!{j
END p $XnOh
I[%M!_+
IG&B2*
G-ZhGbAI7
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 Eny!R@u7q
oo\IS\
OBI INDEX 0 1 d#4 Wj0x
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS !x6IV25
OBI INDEX 0 0 yE<,Z%J[n
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS 0yKhp:^
OBI INDEX 0 -1 xmOM<0T
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS m$)YYpX
1S&0
FOR RECTANGLE >gF-6nPQ
SIZE 5 5 _=6vW^s
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 b70AJe=
PLOT my]P_mE
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 `{Hb2
}L5
ZDfS0]0F
k5q(7&C
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 |MVV +.X
输入格式: 'Z y{mq\
u!M&;QL