举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
.2:S0=xt< RLE
\{ M/Do: ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
c ,RY
j WAVL .6562700 .5875600 .4861300
pj9s=}1 ' APS 1
y5lhmbl: e GLOBAL
:s'hXo NOSEQUENTIAL
RI64QD UNITS MM
Hs6}~d OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
kv'gs+,e 0 AIR
Cu +u'&U! 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
Luu.p < 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
: yC|Q) 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
07tSXl5! 1 CC -1.04500000
0}y-DCuQ 1 AIR
H g;; > 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
?e+$?8l[3 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
/0I=?+QSo 2 AIR
/N82h`\n END
maTZNzy u9R:2ah&K RSOL 10 20 2 0 123
BY^5z<^. PLOT
GLIP;)h1 G@;I^_gN BLUE
-$m?ShDd PUP 1 200
Q.Ljz
Z n32.W?9 OBI INDEX 0 1
-6u#:pVpU TRACE P 0 0 200
@:"GgkyDl# [e+$jsPl OBI INDEX 0 0
:Y ;\1J<b1 RED
mjz<,s`D TRACE P 0 0 200
r 2L =gI GBsM?A: OBI INDEX 0 -1
;BMm4 7< GREEN
/i)1BaF PUPIL 1 200
uuMHD{}?} TRACE P 0 0 200
^U4|TR6mub END
_z3Y B 
lm; G8IP` B 8ycr~ 评估光线分布的方法：
fCxF3m(O 1.查看在最终表面上的足迹图
AE"E($S` 在Edit Window中输入：
SMdkD]{g a \PvRW*I PUPIL 1 400
>av.pJ(> RED
d@72z r OBI IND 0 0
/o_h'l|PS PLOT 2 1 0 0
MjHjL~ Tg TRACE P 0 0 400
dnP3{!"b OBI IND 0 1
].eY]o}= BLUE
Xqac$%[3 TRACE P 0 0 400
`b{.K, OBI IND 0 -1
?) ~j>1"S GREEN
GC gpe(cQ TRACE P 0 0 400
dn1Tu6f;| END
%aszZP 
_Vq7Gxy$R ohA@ Zm8O KQ x<{-G6 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
3[jk}2R';p cs%NsnZ OBI INDEX 0 1
CXs i GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
*ppb 4R;CW OBI INDEX 0 0
KrFV 4J[ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
XTZI ! OBI INDEX 0 -1
*0^t;A+ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
'\2lWR]ndd Nv
iPrp>c FOR RECTANGLE
Qp?n0WXZ SIZE 5 5
'd" \h# VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
(pjmE7 `"P PLOT
d.7Xvx0Yww 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
M]>JI'8 
_5nQe
! A_t<SG5
3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
+"] 'h~W 输入格式：
3o'SY@ 'W 
A/U tf0{3"
