举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 $3[cBX.=
RLE EIYM0vls(
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE L$Leo6<3a
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 GY",AL8f
APS 1 \=@r1[d
GLOBAL Qr<%rU^{.
NOSEQUENTIAL V%0.%/<#5
UNITS MM ={b
]
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 x ?V/3zW
0 AIR R`**!ku
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 PPqTmx5S
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 _eQP0N
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR R|CY4G
j
1 CC -1.04500000 Fm;)7.%
>
1 AIR
{''|iwLr
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 5j{@2]i
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR ommKf[h%i
2 AIR L@z !,r,
END YEQW:r_h.S
%)/f; T6
RSOL 10 20 2 0 123 ,Mhe:^3
PLOT @gqw]_W
N#u8{\ |8]
BLUE h3kHI?jMWG
PUP 1 200 ILi5WuOYX
fMQ*2zGu95
OBI INDEX 0 1 :xw3b)KS
TRACE P 0 0 200 Ft7a\vn*B
t>wxK
,
OBI INDEX 0 0 SznE:+
RED gr
5]5u
TRACE P 0 0 200 ?&"^\p
_onp%*
OBI INDEX 0 -1 +2zuIW.
GREEN 4Z}bw#
PUPIL 1 200 B\_u${C
TRACE P 0 0 200 BJ9sR.yX62
END Y(y9l{'
A(n=kx
^2r}_AX
评估光线分布的方法: ?nZ <?
1.查看在最终表面上的足迹图 ~+#--BhV
在Edit Window中输入: |"yf@^kdC
]|N4 #4
PUPIL 1 400 j/9QV
RED ,0Zn hS)kq
OBI IND 0 0 8'lhp2#h
PLOT 2 1 0 0 4VNb`!e
TRACE P 0 0 400 b.4Xn0-M
OBI IND 0 1 Q==v!"Gi|
BLUE <M,H9^l3
TRACE P 0 0 400 yb{Q, Dz
OBI IND 0 -1 R9l7CJM@
GREEN h_~|O[5|)
TRACE P 0 0 400 8A:^K:Q
END EB>B,#
^
6.lb\
yK077zH_
}E5#X R
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 jRG\C=&(x
%kx
^/DH
OBI INDEX 0 1 cH;TnuX
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS n`)7Y`hBhP
OBI INDEX 0 0 (kC} ,}
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS Blbq3y+Sq
OBI INDEX 0 -1 kV ,G,wo
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS 5ttMua <G?
3fxNV<
FOR RECTANGLE irsfJUr[V
SIZE 5 5 Hl3)R*&'J
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 v'@b. R,
PLOT Q0cY/'>4
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 3}4p_}f/[4
L"foL
gt_XAH
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 <'[Ku;m
输入格式: *J_iXu|
%X9b=%'+