举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
ulJX1I=|p RLE
BiZ=${y
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
9A7@
5F WAVL .6562700 .5875600 .4861300
z5X~3s\dP APS 1
.+([ GLOBAL
3TZ*RPmFRm NOSEQUENTIAL
|fY/i]
Ax UNITS MM
c$QX)V OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
EK$Kee}~ 0 AIR
;u(Du-Os! 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
?`Y\)'} 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
,*@AX> 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
?P7]u>H 1 CC -1.04500000
gxGrspqg 1 AIR
Q!FLR>8 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
X5*C+ I=2 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
O!Z|r? 2 AIR
WmQ01v END
irZFV
Px>va01n RSOL 10 20 2 0 123
pBC<u PLOT
h`}3h<
8 -sMyt HH. BLUE
B,(Heg PUP 1 200
.~gl19#:T <d7V<&@o= OBI INDEX 0 1
**[Z^$)u(
TRACE P 0 0 200
(:+>#V)pZ kV Rn`n0 OBI INDEX 0 0
;*[9Q'lI* RED
\ M/6m^zS TRACE P 0 0 200
,s^<X85gp\ "XLe3n OBI INDEX 0 -1
)2E%b+" GREEN
#9LzY
PUPIL 1 200
d'9:$!oz TRACE P 0 0 200
FCc=e{ END
il:nXpM!
2n`Lg4=
Sb:T*N0gS 评估光线分布的方法:
0X(]7b&~R 1.查看在最终表面上的足迹图
BXUF^Hj% 在Edit Window中输入:
oT|m1aGE p'{xoV PUPIL 1 400
2PSTGG8JV RED
xqHL+W OBI IND 0 0
Y+/lX 6' PLOT 2 1 0 0
!=*.$4 TRACE P 0 0 400
Cv=GZGn- OBI IND 0 1
~tGCLf]c\ BLUE
|H ;+1 TRACE P 0 0 400
G7* h{nE OBI IND 0 -1
ER{3,0U GREEN
T_OF7? TRACE P 0 0 400
[ev-^[ END
XvSIWs
Z]:BYX' B">yKB:D}t []&(D_e" 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
=<<3Pkv7@ oaDsk<(j;R OBI INDEX 0 1
Vul+]h[!h GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
C/v}^#cLD OBI INDEX 0 0
[B?z1z8l GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
i!MwBYk OBI INDEX 0 -1
hWcTI{v GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
LN!W(n( I*1S/o_xI FOR RECTANGLE
".2A9]_s SIZE 5 5
G"S5ki`o VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
C 7nKk/r PLOT
}&G]0hCT! 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
]X" / yAn
amB@N6* }BN\/;<A 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
"'eWn6O( 输入格式:
r7)@M%A
B[xR-6phW