举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
\QMRuR. RLE
e_t""h4D
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
{$qLMx'; WAVL .6562700 .5875600 .4861300
5wy3C APS 1
%D<>F&h GLOBAL
N:e5=;6s NOSEQUENTIAL
(Q][d+} / UNITS MM
K Fn[ OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
{P
$sQv 0 AIR
Ab)X/g-I@ 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
6#Afj0 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
]c$)0O\O 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
kmF@u@5M 1 CC -1.04500000
~BD 80s:f 1 AIR
4A~1Z,"%v( 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
f-l(H="e 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
3Ay<2v 2 AIR
|$.`4h? END
Qj',&b tG(!d$^ RSOL 10 20 2 0 123
T!Eyq,] PLOT
z !:%Hbh= KMogwulG BLUE
t73" d#+ PUP 1 200
G[z4 $0f <gbm
1iEe OBI INDEX 0 1
wYLJEuS| TRACE P 0 0 200
f"g-Hbl5 5Uha,Q9SA OBI INDEX 0 0
};s8xGW:k3 RED
DE _<LN
TRACE P 0 0 200
_h8|shyP 0}iND$6@a OBI INDEX 0 -1
"jMSF@lr GREEN
gj-MkeI) PUPIL 1 200
1o%E(*M4I TRACE P 0 0 200
a\?-uJ+ END
&3%V%_
)r.4`5Rc Ht=h9}x"g 评估光线分布的方法:
G [$u`mxV^ 1.查看在最终表面上的足迹图
k86j&
.m_ 在Edit Window中输入:
tunjV1 ,] 4<Q^/-W PUPIL 1 400
brt1Kvu8( RED
2qxede OBI IND 0 0
AI\|8[kf0 PLOT 2 1 0 0
bAZx*qE= TRACE P 0 0 400
nN$aZSb` OBI IND 0 1
97SOa.@ BLUE
&R;Cm]jt TRACE P 0 0 400
>%{H>?Hn OBI IND 0 -1
p`2w\P3;) GREEN
^L"ENsOs TRACE P 0 0 400
Y+0HC2(o END
rf]'VJg#3
GFppcL@a o+I'nFtnI Qvl3=[S 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
nb ,+!)+ $F/Uk;*d! OBI INDEX 0 1
b!3Y<D* GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
8-cCWoc OBI INDEX 0 0
?'I pR GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
bfl%yGkd/| OBI INDEX 0 -1
#<EMG|&( GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
D*o5fPvFO *
j]"I=D FOR RECTANGLE
*Y/}EX!F SIZE 5 5
\1R<GBC4 VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
2~(\d\k PLOT
rVF7!|& 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
mO(A'p "b
dAkJ5\=* CZ4Nw]dtR 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
yhJA{nL= 输入格式:
IP=."w
u#r[JF9LP