举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 YoC{ t&rY
RLE {?X#E12vf
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE k@}?!V*l
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 R1,.H92
APS 1 %w9/gD
GLOBAL }uZtAH|
NOSEQUENTIAL ;Gf,I1d}{
UNITS MM o<1a]M|
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 +V2\hq[{
0 AIR BH`%3Mw
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 K;ncviGu
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 a"ct"g=
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR b\{34z,
1 CC -1.04500000 QmHj=s:x\
1 AIR $!?tJ@{
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 B7'rbc'
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR p?@R0]
2 AIR x6n( BMr
END !UzMuGj
QaVxP1V#U
RSOL 10 20 2 0 123 ]t2zwHo#
PLOT ]TE(:]o7V
c@|!0
U%j
BLUE zcqv0lM '
PUP 1 200 wP|Amn+;
0fOx&"UAB
OBI INDEX 0 1 HQ187IwpTm
TRACE P 0 0 200 s(2/]f$
1')_^]
OBI INDEX 0 0 8D
H~~by
RED BB$(0mM^
TRACE P 0 0 200 #
dA-dN
v0aV>-v
OBI INDEX 0 -1 l_q=@y
GREEN *A^`[_y
PUPIL 1 200 :m&cm%W]ts
TRACE P 0 0 200 v47S9Vm+
END B@+&?%ub:
|>'.(
(GCe D-
评估光线分布的方法: W{El^')F
1.查看在最终表面上的足迹图 ;q"Yz-3
在Edit Window中输入: 9Z[EzKd<~'
}CM</
PUPIL 1 400 hx.ln6=4
RED Yl$R$u)
OBI IND 0 0 `SfBT1#5G
PLOT 2 1 0 0 |_h$}~;
TRACE P 0 0 400 @$*LU:[
OBI IND 0 1 q,Nhfo(
BLUE u4KP;_,m
TRACE P 0 0 400 &^7^7:Y=?
OBI IND 0 -1 > N bb0T
GREEN %U
uVD
TRACE P 0 0 400 \3hj/
END G~+BO'U9'G
v'e5j``=
ob_*fP
/19ZyQw9
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 ZzO^IZKlC
Ovhd%qV;Y
OBI INDEX 0 1 vVyX[ZZ
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS xb (Cd
OBI INDEX 0 0 @ L=dcO{r
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS qib4DT$v-6
OBI INDEX 0 -1 c $fYK
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS xX:N-
HZl//Uq
FOR RECTANGLE 'V`Hp$r
SIZE 5 5 RG8Ek"D@
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 sy(8-zbI
PLOT DGJt$o=&@
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 bm\Zp
sQ
aP:@
pIhy3@bY
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 \2^_v'
>K
输入格式: v?L`aj1ox
\s@7pM=(