举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 =n8M'
RLE NK%Ok
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE Zk31|dL
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 hE4qs~YB!
APS 1 B}N1}i+
GLOBAL LO38}w<k
NOSEQUENTIAL =RofC9,
UNITS MM U8<C4
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 TT&%[A+
0 AIR "Sw raq
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 !3z
;u8W
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 LeNSjxB
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR )C rsm&
1 CC -1.04500000 -NA2+].
1 AIR @r\{iSg&g.
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 df&.!7_R`
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR "2PT]!
2 AIR oZi{v]4
END }gd'pgN"t
nB4+*=$E+-
RSOL 10 20 2 0 123 Xv 7noq|
PLOT *thm)Mn
Fn{Pmo*rs
BLUE /.sho\a
PUP 1 200 vr_Z0]4`C9
`A8ErfA
OBI INDEX 0 1 EWOa2^%}Z\
TRACE P 0 0 200 D4~]:@v~n
4Ujy_E?^
OBI INDEX 0 0 h]j>S
RED }?sC1]-j&
TRACE P 0 0 200 Uyd' uC
;f)AM}~^Q
OBI INDEX 0 -1 =RQI5nHdw
GREEN `X<a(5[vV3
PUPIL 1 200 `^h:}V
TRACE P 0 0 200 '@HCwEuz
END Jw{duM;]
wGxH
j@{dsS:6
评估光线分布的方法: W mx3@]<
1.查看在最终表面上的足迹图 [c v!YE
在Edit Window中输入: @\W-=YKLg
D/hq~- g
PUPIL 1 400 2W#^^4^+
RED /NxuNi;5
OBI IND 0 0 j}6h}E&dEr
PLOT 2 1 0 0 DD`DU^o<
TRACE P 0 0 400 5gb:,+
OBI IND 0 1 jWdZ]0m
BLUE >=.3Vydi1
TRACE P 0 0 400 !-ZY_
OBI IND 0 -1 S27s Rxfr
GREEN ,RP 9v*
TRACE P 0 0 400 :@-.whj
END jINI<[v[
Sf@xP.d
z:1t
vG
(*AJ6BQWa
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 lr@w1*
`g0^W/j
OBI INDEX 0 1 t]?{"O1rC
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS }c>vk
OBI INDEX 0 0 kO$n0y5e
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS n^*,JL9@
OBI INDEX 0 -1 {CNJlr@z
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS O2"V'(
[a?bv7Kz
FOR RECTANGLE @Bn4ZFB@
SIZE 5 5 KL$> j/qT
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 p"j&s
PLOT 14*6+~38m&
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 ef/43+F^x
QS1lg
)<qL8#["U
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 Z'Pe%}3
输入格式: .L]5,#2([
+wQ}ZP&