举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
P?@o? RLE
fg/hUUl ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
Z&n#*rQ7[ WAVL .6562700 .5875600 .4861300
@O|`r(le APS 1
I%{ 1K+V/ GLOBAL
.hjN*4RY
NOSEQUENTIAL
@ V_i%=go UNITS MM
o7^0Lo5Z? OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
iI;np+uYk 0 AIR
8Y_lQfJa 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
(+}44Ldt 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
wScr:o+K>L 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
cUO$IR)yL 1 CC -1.04500000
3_>=Cv} 1 AIR
tF\_AvL_8 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
-wVuM.n(Z 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
*J{E1])<a 2 AIR
l5D4?`| END
(w vU;u 4wWfaL5" RSOL 10 20 2 0 123
4ves|pLET PLOT
Tfx-h)oP3 53?Ati\Y) BLUE
fu?u~QZ8 PUP 1 200
CF
v ]wS t^2$ent OBI INDEX 0 1
Gzwb<e
y TRACE P 0 0 200
4O:HT m DQ&\k'"\ OBI INDEX 0 0
!%B-y9\ RED
\Y`psSf+ TRACE P 0 0 200
qTN30(x2 7`e<H 8g OBI INDEX 0 -1
)-h{0o GREEN
2wa'WEx PUPIL 1 200
umt`0m. : TRACE P 0 0 200
[Fv_~F491 END
kh8 M= ~qXwQ@ *$3p3- 评估光线分布的方法:
,c
0]r;u! 1.查看在最终表面上的足迹图
H%Z;Yt8^gt 在Edit Window中输入:
.EvP%A
m uJ8FzS>[V PUPIL 1 400
;9q$eK%d RED
$.31<@T7 OBI IND 0 0
x=X&b%09 PLOT 2 1 0 0
GIfs]zVr` TRACE P 0 0 400
[^XD@ OBI IND 0 1
FC BLUE
L0w2qF TRACE P 0 0 400
)6eFYt%c OBI IND 0 -1
R^]a<g, GREEN
[{#n?BT TRACE P 0 0 400
rDu?XJA END
g|h;* rB|4 d*=qqe
H k(v &+v 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
[E"3?p 6j!a*u:}" OBI INDEX 0 1
j^eMi GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
wM#l`I OBI INDEX 0 0
Ns#L9T# GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
C;#gy- OBI INDEX 0 -1
_@VKWU$$ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
A7eYKo
q uaxkGEXr FOR RECTANGLE
O2fFh_\ SIZE 5 5
"{d[V(lE" VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
l{VJaZ $M PLOT
lwo,D} 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
s?fEorG
NE3/>5 W .Al\!Gi 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
8%xiHPVg 输入格式:
u'gsIuRJ {UF|-VaG