举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
vWU%ST RLE
>`7OcjLg ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
7qP4B9S
WAVL .6562700 .5875600 .4861300
(2z%U APS 1
atY*8I| GLOBAL
/Hv*K&}M NOSEQUENTIAL
J3;Tm~KJ_ UNITS MM
g1ZV&X=2 OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
^|wT_k\ 0 AIR
f}[H
`OF 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
@Ex;9F,Q 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
cz2,",+~ 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
2)wAFO6u 1 CC -1.04500000
Gn]d;5P= 1 AIR
LthGZ|> 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
)xB$LJM8 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
LZ~2=Y<
U( 2 AIR
7p)N_cJD END
`Kh]x9Z .Y!;xB/ RSOL 10 20 2 0 123
4|nQ=bIau PLOT
}0QN[$H! _yj1:TtCNT BLUE
!\CG,E k PUP 1 200
3 brb*gI_b G%a] j OBI INDEX 0 1
.i$,}wtw TRACE P 0 0 200
16I&7=S, UqN{JG:#. OBI INDEX 0 0
np\st7&f6 RED
tXt:HVN TRACE P 0 0 200
u7HvdLql /D0RC OBI INDEX 0 -1
<EtUnj:qK8 GREEN
<B!'3C(P PUPIL 1 200
H+a~o=/cR TRACE P 0 0 200
&vCeLh:s END
&K>cW$h=a
- %|P F\5X7ditD 评估光线分布的方法:
& g:%*>7P 1.查看在最终表面上的足迹图
aqF+zPKs6 在Edit Window中输入:
SSE3tcRRl u?F (1iN= PUPIL 1 400
^|#>zCt^ RED
.(|+oHg< OBI IND 0 0
+0J@y1 PLOT 2 1 0 0
%tV32l= TRACE P 0 0 400
/|GT\X4o OBI IND 0 1
M#xQW`-` BLUE
pTWg
m\h TRACE P 0 0 400
8h|M!/&2 OBI IND 0 -1
Sk\n;mL: GREEN
q +R*Hi TRACE P 0 0 400
4U?<vby END
;K_}A4K
PL@~Ys0 vt.P*Z5 9JPEj-3`g 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
}X]\VSF{ j$Nf%V 6Y OBI INDEX 0 1
mQ}Gh_'ps GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
{)xWD% OBI INDEX 0 0
03EV%Vc GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
/v|Onq1Y4 OBI INDEX 0 -1
II;Te7~ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
"(,2L,Zh k#C
f}) FOR RECTANGLE
gfde#T)S SIZE 5 5
gWOt]D/ VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
1a$IrQE PLOT
DtWx r 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
56DoO'
BC! 6O/kr Z~p!C/B 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
#op:/j 输入格式:
'^iUx,,ZQ
R)oB!$k