举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
C{Fo^-3 RLE
e' Zg F~ ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
a-W&/ WAVL .6562700 .5875600 .4861300
#y?z2! APS 1
B<)(7GTv7" GLOBAL
6hZhD1lDG^ NOSEQUENTIAL
/; _"A)0 UNITS MM
emHi=[!i OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
X[|>r@Aa! 0 AIR
ovHbs^H% 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
":Q70*xSm 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
qj|GAGrQ2 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
+V) (,f1 1 CC -1.04500000
$lv
g.u 1 AIR
WgIVhj 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
YONg1.^!( 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
l`1ZS8 [. 2 AIR
Cr&ua|%F END
!b7H "}!vYr RSOL 10 20 2 0 123
b/ynCf8X PLOT
rUyT5Vf iCHZ{<k BLUE
l"-D@]" PUP 1 200
~(^[TuJC /eE P^)h OBI INDEX 0 1
V +hV&|= TRACE P 0 0 200
B<oi,S 4jXyA/F9V OBI INDEX 0 0
IuTTMAt RED
=?}'\
>G " TRACE P 0 0 200
snK/,lm. :S%|^QAN OBI INDEX 0 -1
aw,8'N) GREEN
H'Po PUPIL 1 200
7(oxmv}#Q TRACE P 0 0 200
8-m"] o3 END
rg
$71Ir
K<t(HK#[ 2Zl65 评估光线分布的方法:
Mn=_lhWK 1.查看在最终表面上的足迹图
OZ-F+#d 在Edit Window中输入:
?{FxbDp> :O{ :;X) PUPIL 1 400
E{FN sa RED
Ao,lEjN I OBI IND 0 0
6L4B$'&KQZ PLOT 2 1 0 0
H<qR^a TRACE P 0 0 400
u-? &~WA OBI IND 0 1
-?GYW81Q BLUE
{d3r>Ub)7d TRACE P 0 0 400
f5O*Njl OBI IND 0 -1
#3qkG) GREEN
2Gj&7A3b TRACE P 0 0 400
4iKT END
5tf/VT
.Wr7?'D1M Qdtfi1_Y1 m.2 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
HezCRtxRcc *zmbo >{( OBI INDEX 0 1
_{A($/~c? GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
Hv%a\WNS1 OBI INDEX 0 0
\zKVgywR GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
[6c{t OBI INDEX 0 -1
M+ H$Jjcs GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
rm2TWM|
Gjzhgz-- FOR RECTANGLE
H6~QSe0l SIZE 5 5
,CCIg9Pt VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
[H"Ods~_` PLOT
q'W`t>2T 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
+tuC845
F[J;u/Z mxXQBmW 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
f'}23\> 输入格式:
&^z~wJ,]
DB?[h<^m