举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 j{`C|zg
RLE [#3*R_#8R
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE Ocp`6Fj
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 zT< P_l
APS 1 kLfk2A;' i
GLOBAL YTk"'q-
NOSEQUENTIAL *?o`90HHP[
UNITS MM
!VzbNJ&'
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 dln1JZ!
0 AIR oLh2:c
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 z5_#]:o&
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
A|90Ps
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR }iE!(
l
1 CC -1.04500000 3%0ShMFP@
1 AIR N+3]C9 2o
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 ?r}'0dW
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR ER'zjI>t@
2 AIR F3Y/Miw
END dU"ca|u
<8 ,,pOb
RSOL 10 20 2 0 123 p7{%0
PLOT .m^L,;+2
"rJJ~[Y
BLUE c*~/`lG
PUP 1 200 pFW^
(]}52%~
OBI INDEX 0 1 u;/5@ADW
TRACE P 0 0 200 tF&g3)D:NV
K
K_
OBI INDEX 0 0 6oA2"!u^w
RED ,'%wadOo
TRACE P 0 0 200 2Vwv#NAV k
(=eJceE!
OBI INDEX 0 -1 v{44`tR
GREEN ~B704i
PUPIL 1 200 mFa%d8Y
TRACE P 0 0 200 {S6:LsFfm
END dR|*VT\
+WTO_J7
TilCP"(6D
评估光线分布的方法: ,|lDR@
1.查看在最终表面上的足迹图 tSf$`4
在Edit Window中输入: z,+LPr
/qwl;_Jcf
PUPIL 1 400 rQLl[a
RED O+w82!<:
OBI IND 0 0 KM:k<pvi
PLOT 2 1 0 0 N7l`-y
TRACE P 0 0 400 a@v}j&
OBI IND 0 1 q,%lG$0v
BLUE /9o
gg
TRACE P 0 0 400 +!JTEKHKH
OBI IND 0 -1 _+*+,Vx
GREEN nb|KIW
TRACE P 0 0 400 \96aHOk<
END ~\]lMsk+
Iss)7I
TRJ5m?x
0n)99Osq(u
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 ~C31=\$
Zjq( ]y
OBI INDEX 0 1 g=)OcTd#
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS h( V:-D
OBI INDEX 0 0 CxbGL
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS HD~o]l=H
OBI INDEX 0 -1 ODFCA.
t
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS `iZ){JfAH
=#so[Pd
FOR RECTANGLE 3X:)r<
SIZE 5 5 R|g50Q
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 m3']/}xHO
PLOT my+2@ln
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 &peUC n
y3Qb2l
]*v[6 +
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 2AdO
输入格式: 'wT !X[jF
I3^}$#>