举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
aq8./^ RLE
}+G5i_a ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
H9_iTGBQ WAVL .6562700 .5875600 .4861300
ZfH>UHft APS 1
1K<} GLOBAL
9__B!vw: NOSEQUENTIAL
;UM(y@ UNITS MM
5pe)CjE: OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
D GcpYA.7' 0 AIR
;<B 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
'SoBB: 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
wytMoG\ 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
/4 OmnE; 1 CC -1.04500000
\Cj3jg 1 AIR
.%e>>U>F 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
q5= ,\S3= 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
(a8iCci: 2 AIR
r|DIf28MIq END
SA&(%f1d L6fbR-&Lt RSOL 10 20 2 0 123
eOF*|9 PLOT
.5o~^ W;2J~V!c BLUE
F[yofRN PUP 1 200
nKS*y* 6Aq]I$ OBI INDEX 0 1
zow8 Q6f TRACE P 0 0 200
,d38TN 0XCAnMVo OBI INDEX 0 0
Z|Rc54Ct RED
`[(XZhN TRACE P 0 0 200
&Tuj`DL &*ocr & OBI INDEX 0 -1
@48!e-W GREEN
`PL}8ydZ PUPIL 1 200
f_[dFKoX TRACE P 0 0 200
Fpn*]x END
8b~
yq k8)\p ,52 IR[I<T 评估光线分布的方法:
~mXzQbe
p 1.查看在最终表面上的足迹图
GdNhEv 在Edit Window中输入:
dVj2x-R) 8tQL$CbO PUPIL 1 400
WPNw")t! RED
Fj~suZ` OBI IND 0 0
'@hUmrl PLOT 2 1 0 0
k?&GL!? TRACE P 0 0 400
c1s& OBI IND 0 1
2p\xgAW? BLUE
_.V5-iN TRACE P 0 0 400
e1h7~ j OBI IND 0 -1
E>tHKNyVTp GREEN
6)*fr'P TRACE P 0 0 400
(?R!y - END
QY&c=bWAX"
{R(CGrI oo &|(+"O_ d]O:VghY\ 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
gveJ1P Aipm=C8 OBI INDEX 0 1
;5[OS8 GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
m!w|~Rk OBI INDEX 0 0
(XmmbAbVom GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
0 {z8pNrc OBI INDEX 0 -1
3w"JzC@ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
='b)6R O{~Xp!QQt FOR RECTANGLE
|6bvUFr SIZE 5 5
>zX^*T# VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
z=U+FHdh/- PLOT
?rQ .nN 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
^U5N!"6R
2DFsMT>X xCXsyZ2h 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
'#3FEo 输入格式:
"X2'k@s`
!"qT2<A