举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
A2`QlhZ RLE
/S]W<8d ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
=A6/D WAVL .6562700 .5875600 .4861300
x 5u.D^ APS 1
<JA`e+Bi GLOBAL
@G
vDl=. NOSEQUENTIAL
9`8\<a'rU UNITS MM
$ {$XJs4 OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
u}QB-oU 0 AIR
$jYwV0 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
zS Yh ?NB5 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
Jmb [d\ /D 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
#]s> 1 CC -1.04500000
Z\=].[,w4 1 AIR
jafq(t 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
wz*QB6QtU 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
H=vrF - # 2 AIR
{cF7h)j END
i<g|+}I }2Lh'0 xY RSOL 10 20 2 0 123
S9Fg0E+J PLOT
Ae,-.xJ (~oUd4 BLUE
-aiQp@^/J PUP 1 200
n:?fv=9n 8Ek<J+&|I OBI INDEX 0 1
,jBd3GdlZ TRACE P 0 0 200
w5l:^^zF( 2,nKbE9* OBI INDEX 0 0
]McLace& RED
9.|+KIRb TRACE P 0 0 200
NyD[9R? y2V9! OBI INDEX 0 -1
a1p:~;f}[ GREEN
iTU8WWY< PUPIL 1 200
4BG6C'`% TRACE P 0 0 200
Z*d8b END
,\;;1Kq
8<$6ufvOv [L1pDICoy 评估光线分布的方法:
09"C&X~ 1.查看在最终表面上的足迹图
4Vj|k\vE4 在Edit Window中输入:
^*C+^l&J! ?H7*? HV PUPIL 1 400
rE"`q1b# RED
c/ wzV OBI IND 0 0
<@n/[ +3 PLOT 2 1 0 0
v*5n$UFV TRACE P 0 0 400
-6MgC9] OBI IND 0 1
: j&M&+ BLUE
t=iSMe TRACE P 0 0 400
]Ff"o7gT OBI IND 0 -1
59";{"sw GREEN
m~9Qx`fi` TRACE P 0 0 400
p_Fc:%j> END
$]4^ENkI
CzxU
@ St&xe_:^< p5^,3& 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
a
+Q9kh 9^J8V]X OBI INDEX 0 1
]{Vq; GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
)J8dm'wH92 OBI INDEX 0 0
W-%oj.BMA GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
V\@h<%{^%7 OBI INDEX 0 -1
KzZ!
CB\ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
:(?joLA s;q]:+#7g FOR RECTANGLE
E;~gQ6vAI SIZE 5 5
qIK"@i[
uq VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
6%NX|4_ PLOT
.MuS"R{y 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
DW@PPvfs
jcQ{,9
H`l `pzp(\lc 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
pt;E~_ 输入格式:
Mjq1qEi"B
%\=5,9A\