举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 c^bA]l^a
RLE 5G!X4%a
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE z N
t7DK
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 )T4L^^`
APS 1 #E ~FF@a
GLOBAL %bimcRX#W
NOSEQUENTIAL 0)/214^&
UNITS MM )F~_KD)7jJ
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 gRFC n6Q
0 AIR Ym6ec|9;
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 /F4:1
}
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 eyE&<:F#J
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR <G&v
1 CC -1.04500000 7d<v\=J}
1 AIR ]u,~/Gy
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 kDz.{Ih
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR oby*.61?5l
2 AIR ]SPB c
END ~H$XSNPi
OM.^>=
RSOL 10 20 2 0 123 PWmz7*/
PLOT v]J# SlF
o2|(0uN'
BLUE D#$gdjZ
PUP 1 200 4tC_W!?$t
K@i*Nl
OBI INDEX 0 1 L!p|RKz9X
TRACE P 0 0 200 j*zK"n
N:<O
OBI INDEX 0 0 <2Q@^
RED Ocb2XEF
TRACE P 0 0 200 ,,J3 h
n=&c5!
OBI INDEX 0 -1 VZ,T`8"
GREEN w|HZI,~
PUPIL 1 200 br;G5^j3?
TRACE P 0 0 200 ZFON]$Zk
END vh HMxOZ;
i#lo?\PO>
}"-r;i
评估光线分布的方法: j[fQs,efK
1.查看在最终表面上的足迹图 V!P3CNK
在Edit Window中输入: _y9P]@Q7%
1+jYpYEQW
PUPIL 1 400 2{CSH_"Z7
RED *I67SBt
OBI IND 0 0 zFn&~lFB
PLOT 2 1 0 0 hkJZqUA
TRACE P 0 0 400 eqR#`
OBI IND 0 1 R
u5&xIQ
BLUE W,~1KUTc
TRACE P 0 0 400 ~D5MAEazS
OBI IND 0 -1 #H`y1zm
GREEN a%!XLyq
TRACE P 0 0 400 RV`j>1
END 62jA
:#}`uR,D/
vR$5ItnT
?~.&Y
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 ?nW#qy!R
,*[LnR
OBI INDEX 0 1 "o3"1s>d{
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS ,7P^]V1
OBI INDEX 0 0 ~-`02
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS :Y>]6
OBI INDEX 0 -1 tTH%YtG
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS QNXxpoS#
zfb _ )
FOR RECTANGLE S=p u
SIZE 5 5 (OB8vTRXP
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 ]5fM?: <l
PLOT }yw;L(3
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 h<;[P?z
~C/KA6H
~ fEs!hl
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 ok[=1gA#h
输入格式: 1fv~r@6s
]?(F'&