举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
7X(]r1-+ \ RLE
n* Vd<m;w ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
[+g@@\X4 WAVL .6562700 .5875600 .4861300
;YDF*~9u APS 1
hX m} d\ GLOBAL
y.p 6%E_` NOSEQUENTIAL
"<x~{BN ? UNITS MM
N?;o_^C OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
T-C#xmY( 0 AIR
X5Y
`(/V 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
).C! 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
R9h>I3F=c 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
JGcD{R U| 1 CC -1.04500000
WEtA4zCO 1 AIR
W@,p9=425 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
1G%PXrEj8 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
QO{=Wi- 2 AIR
9K':Fn2, END
]"Y%M' Eqbe$o`dd RSOL 10 20 2 0 123
H'{?aaK|t PLOT
`QdQ?9x{F <m,yFk BLUE
}b+QYSt PUP 1 200
K3:|Tc( f&}A!uLe4x OBI INDEX 0 1
.3<IOtD= TRACE P 0 0 200
~59`S#ax/l d:hL
)x OBI INDEX 0 0
^ Wfgwmh RED
<;cE/W}} TRACE P 0 0 200
yv)nW::D( Z .':&7Y OBI INDEX 0 -1
vA"niO GREEN
c~UAr k S PUPIL 1 200
D2</^]3Su TRACE P 0 0 200
^8NLe9~p3? END
F|?'9s*;6G 
q|o |/ O-{ O R<"LTCL 评估光线分布的方法：
OR\DTLIl 1.查看在最终表面上的足迹图
#M?F^u[ 在Edit Window中输入：
:X1cA3c ! ]hE +$sKd PUPIL 1 400
/3Nb RED
XD kS
^9 OBI IND 0 0
Q_aqX(ig PLOT 2 1 0 0
N3 g NOq& TRACE P 0 0 400
%,,`N I{ OBI IND 0 1
ZSPgci BLUE
(+ UmUx= TRACE P 0 0 400
+K;Y+
K&;2 OBI IND 0 -1
5U{4TeUH GREEN
sr+gD* @h TRACE P 0 0 400
_t|G@D{ END
-
LiPHHX< 
5,
-pBep< C NfJ:e2 drENkS=, 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
VJN/#
>wKu6-
]a OBI INDEX 0 1
o)tKH@`vE GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
2"leUur~rO OBI INDEX 0 0
19F ;oFp GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
3 +(yI 4 OBI INDEX 0 -1
goDV2 alC^ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
. Q XG"R /WgPXE B FOR RECTANGLE
- J"qrpZ^ SIZE 5 5
"Su
b4F` VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
&_9YLXtMi; PLOT
0{?: FQ# 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
^n&]HzT`y 
-,QKTxwo> \ fK47oV 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
ZD5 I5 输入格式：
d "B@c;dD 
g.I(WJX0
