举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
64cmv}d _ RLE
#(G&%I A|; ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
f
#14%?/ WAVL .6562700 .5875600 .4861300
1lM0pl6M APS 1
Uyh #g^r GLOBAL
sa($3`d NOSEQUENTIAL
dE~ns
,+ UNITS MM
u ""= 9>0 OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
<R $|J| 0 AIR
"-oC,;yq 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
J0k~% 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
[z9i v~ 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
7Fx 8&Z 1 CC -1.04500000
;K!Or 1 AIR
pOXEM1"2A 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
*W
l{2& 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
|9h[Q[m 2 AIR
jEad VM 9 END
&}ow-u9c3 g`1i[ Iu2 RSOL 10 20 2 0 123
[iD! !{6 + PLOT
Fk\xq`3'c TV}SKv u BLUE
m,b<b91 PUP 1 200
?5D7n "jY rm7UFMCR6i OBI INDEX 0 1
xnTky1zq TRACE P 0 0 200
s] q fLC Wi l +"[Ge OBI INDEX 0 0
G[mYx[BTz RED
M E.LS2'n TRACE P 0 0 200
NZ#z{JI =+ F&Gb[Q&a8 OBI INDEX 0 -1
{ !w]t?h GREEN
Ni`qU(I'| PUPIL 1 200
`'/8ifKz TRACE P 0 0 200
b#F3,T__`Y END
?$ ?Ni)Z 
"](~ VF[J8 j'W)Nyw$[ 评估光线分布的方法：
t9kgACo/M 1.查看在最终表面上的足迹图
`fH6E8N 在Edit Window中输入：
B?]^}r v{9eEk1 PUPIL 1 400
pd| s7 RED
yC
-4wn* OBI IND 0 0
q&vr;f B2 PLOT 2 1 0 0
CAX U
# TRACE P 0 0 400
o{qbbJBC OBI IND 0 1
ojaZC,} BLUE
}\@*A1*X2 TRACE P 0 0 400
"}n]0 >J OBI IND 0 -1
m4EkL GREEN
5b&'gd^d TRACE P 0 0 400
TCVJ[LbJ END
\oi=fu=}* 
uwbj`lpf `
p) #! h:|aQJG5 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
d-Sm<XHu. U@9n 7 F OBI INDEX 0 1
6wGf47 GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
*ce h
]v OBI INDEX 0 0
fE(rDQI GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
xd* kNY OBI INDEX 0 -1
@A:Xct GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
<+6)E@Y rIXAn4,dTv FOR RECTANGLE
WPPmh~: SIZE 5 5
Eq|_> f@@8 VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
Z@ 1rs# PLOT
9N9;EY -U 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
t ({:TQ 
k @[Bx> hE>Mo$Q( 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
us/x.qPy2 输入格式：
B"G;"X 
smSUo /
