举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 GezMqt;2
RLE ;e$YM;;d
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE 3,1HD_
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 t"P:}ps{?
APS 1 fndbGbl8p
GLOBAL v(p<88.!m
NOSEQUENTIAL QypUBf
UNITS MM 7sU,<Z/D
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 a"^rOiXR{
0 AIR U\-=|gQ'
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 2YK2t<EO
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 +mC?.B2D
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR }#6~/
W
1 CC -1.04500000 CI=M0
1 AIR \|CuTb;0
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 |q
c <C&O
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR U04&z 91"
2 AIR gv,1 CK
END dUv(Pu(.#
u{S"NEc
RSOL 10 20 2 0 123 1vdG\$
PLOT p3V?n[/}
f dJ<(i]7W
BLUE Z29aRi
PUP 1 200 O]KQ]zN
]I\9S{?
OBI INDEX 0 1 vbfQy2q
TRACE P 0 0 200 3sp-0tUE
`%*`rtZ+H.
OBI INDEX 0 0 w<Bw2c
RED ZFs
xsg^r
TRACE P 0 0 200 b4Pa5w
Y]DC; ,
OBI INDEX 0 -1 C8D`:k
GREEN V3ExS1fNf
PUPIL 1 200 iXL?ic
TRACE P 0 0 200 nH B
END +'wO:E1( w
e xkPu-[W
Kl<NAv%j
评估光线分布的方法: }ld^zyL
1.查看在最终表面上的足迹图 T3@34}*
在Edit Window中输入: Yr[&*>S
ZEso2|
PUPIL 1 400 =MT'e,T
RED GP;N1/=
OBI IND 0 0 k 7:Z\RGy
PLOT 2 1 0 0 {W HK|l
TRACE P 0 0 400 J$lfI^^
OBI IND 0 1 qg:EN~E#
BLUE 3,n" d-
TRACE P 0 0 400 C[5dhFZ
OBI IND 0 -1 T3I{D@+0
GREEN ]CPF7Hf
TRACE P 0 0 400 Hbn78,~.
END yCN?kHG
;]@Pm<f
?!O4ia3nFk
Jt0U`_
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 }Rw6+;
J 5xMA-
OBI INDEX 0 1 BWNI|pq)v
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS J57; X=M
OBI INDEX 0 0 pw`'q(ad
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS UZ#oaD8H6
OBI INDEX 0 -1 _07$TC1
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS *eX/ZCn
|(AFU3~
FOR RECTANGLE IR#BSfBZ
SIZE 5 5 XUnw*3tPJ
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 \+=`o .2
PLOT i<):%[Q)>
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 *+nw%gZG
@DF7j|]tV
%ZX9YuXQ
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 DEbMb6)U
输入格式: FBbaLqgVF{
sN2m?`?"G