举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
TV<'8L RLE
V,mw[Hw ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
f({Ei`| WAVL .6562700 .5875600 .4861300
HW=C),*]cR APS 1
!zkZQ2{Wn GLOBAL
>64P6P;S NOSEQUENTIAL
xfpa]Z UNITS MM
_oHNkKQ OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
Fgp]l2* 0 AIR
"/3 db[ 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
byLft1 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
H=g`hF]` 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
)CuZDf@ 1 CC -1.04500000
jE}33" 1 AIR
CS@FYO 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
2>cGH7EBD 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
*]AdUEV? 2 AIR
%e-7ubW END
JBi*P.79^ eCqHvMp RSOL 10 20 2 0 123
i>D.!x PLOT
lBK}VU^ I(V!Mv8j BLUE
O_ChxX0KP PUP 1 200
{)BTR %t _J Hd9)[ OBI INDEX 0 1
f|B=_p80 TRACE P 0 0 200
;nodjbr,j {U1?Et# OBI INDEX 0 0
4Uphfzv3D RED
)6q,>whI] TRACE P 0 0 200
!ePr5On cd(GvX' OBI INDEX 0 -1
F({HP)9b GREEN
8zRP(+&W PUPIL 1 200
qAn! Rk A TRACE P 0 0 200
PmKeF} END
~io szX
PcA2/!a ^Pbk#|$rU 评估光线分布的方法:
vR s,zL$W 1.查看在最终表面上的足迹图
j6Yy6X] 在Edit Window中输入:
BQ=PW|[ E^vJ@O PUPIL 1 400
~$)2s7
O RED
F
P* lQRA OBI IND 0 0
!a7[8& PLOT 2 1 0 0
sE:M@`2L TRACE P 0 0 400
77\]B OBI IND 0 1
BI3@|,._N BLUE
;_rF;9z9 TRACE P 0 0 400
0`X]o'RxS OBI IND 0 -1
[H6hyG~ GREEN
v6>_ j
L TRACE P 0 0 400
L3@82yPo! END
fh](K'P#^
f"%{%M$K nEJY5Bz$ 8=NM|i 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
1JztFix [co% :xJu OBI INDEX 0 1
~GL]wF2# GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
%= fHu+ OBI INDEX 0 0
L&u$t}~) GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
c_vqL$Dl OBI INDEX 0 -1
xa <UM5eI GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
uTKD 4yig hw=
Ft4L FOR RECTANGLE
2zs73:z SIZE 5 5
J|~MC7#@q VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
j2QmxTa! PLOT
(O.d> 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
6)Y.7 XR
6YGubH7%_ yCVI\y\B 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
s'%R 输入格式:
LR".pH13
,*7 (%k^`