举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
Nu.
(viQ} RLE
b{HhS6<K? ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
9A*rE.B+W WAVL .6562700 .5875600 .4861300
Dm4B APS 1
"8t\MKt( GLOBAL
o4'v> b NOSEQUENTIAL
s-5wbi.C UNITS MM
$eCGez<E OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
/Su)|[/' 0 AIR
^n71'MW 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
5&|5 a} 8 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
Riq|w+Q 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
xvO 3BU~2 1 CC -1.04500000
|J?:91
1 AIR
AgI > 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
y1Z1=U*! 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
zW)gC9_|m- 2 AIR
w@-b END
O"QHb|j CSH`pU RSOL 10 20 2 0 123
B$DZ]/< PLOT
l qXc ,7I},sZj BLUE
2|s<[V3rP- PUP 1 200
_y-B";Vmm
xtsL8-u f OBI INDEX 0 1
0k.v0a7% TRACE P 0 0 200
mLULd} g/o To^#
0 OBI INDEX 0 0
1(#RN9 RED
CnQg *+ TRACE P 0 0 200
U%n,XOJ p~FQcW'a~ OBI INDEX 0 -1
9[,s4sxH GREEN
9IOGc} PUPIL 1 200
qTS@D TRACE P 0 0 200
fo;6huz END
dWjx"7^
'Y ,1OK Gb?g,>C 评估光线分布的方法:
&h\CS8nT% 1.查看在最终表面上的足迹图
0 S2v"(_T 在Edit Window中输入:
a0{[P$$ $(XgKq&xWZ PUPIL 1 400
#_{0Ndp2 RED
jwq\stjD OBI IND 0 0
DQMPAj. PLOT 2 1 0 0
_2#zeT5 TRACE P 0 0 400
OZa88& OBI IND 0 1
PE|PwqX BLUE
/=q.tDH=I TRACE P 0 0 400
UDVf@[[hN OBI IND 0 -1
Hw y5G; GREEN
xl3zy~;M TRACE P 0 0 400
jp%+n END
ia_Z\q
Q%I#{+OT rNZO.qijz f.J9) lfb 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
"bPCOJ[v9 yAAG2c4( OBI INDEX 0 1
&adY GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
,%[LwmET OBI INDEX 0 0
)
b/n)%6 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
mF}c-
D OBI INDEX 0 -1
Z@}sCZ=#A GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
WN$R[N 6zv;lx0<D& FOR RECTANGLE
_O"L1Let SIZE 5 5
{x7=;- VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
F OeVRq:# PLOT
sr;:Dvx~ 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
;*W=c
0r0c|*[+4z hHCzj*5 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
Hw\([j* 输入格式:
<{E;s)hD?
Wgav>7!9