[原创]非序列照明阵列 [复制链接]

举例：设置三个光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。 !2\ r LN  
RLE A$0H .F>  
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE                           2Q7R6*<N:  
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 &K_)#v`|  
APS     1 0Q,g7K<d  
GLOBAL v dbO(  
NOSEQUENTIAL M4LP$N  
UNITS MM ;rI@*An  
OBI  -5. 0.5  80.  14.  14.  1 3                                                       ',3HlOJ:  
  0 AIR B0$:b!  
  1 CAO      6.00000000       0.00000000       0.00000000 ^VW PdH/Fe  
  1 CAI      0.26400000       0.00000000       0.00000000 2I3h MD0  
  1 RAD      0.0020000000000   TH     100 AIR
hDP/JN8y  
  1 CC     -1.04500000 bUV >^d  
  1 AIR U/ V  
  2 RAO    200.00000000     100.00000000       0.00000000       0.00000000  %R#L  
  2 CV      0.0000000000000   TH      0.00000000 AIR NqHy%'R  
  2 AIR 5wB =>  
END 8bK|:B#6,  
Sgim3):Z  
RSOL 10 20 2 0 123                                                                         +;BAV  
PLOT r0t^g9K0  
                                                                                     .LVQx  
BLUE                                                                                       3P~o"a>  
PUP 1 200 2n><RZ/9  
eg<bi@C1|  
OBI INDEX 0 1                                                                             kh~'Cn "O  
TRACE P 0 0 200 V6$xcAE"</  
0tISXu-  
OBI INDEX 0 0 D.D$#O_n.S  
RED 'K@|3R  
TRACE P 0 0 200 m^'uipa\  
#Lsnr.80  
OBI INDEX 0 -1 UX-&/eScN  
GREEN kp?w2+rz  
PUPIL 1 200 dca;'$  
TRACE P 0 0 200                                                                         CO-_ea U(  
END dpQG[vXe  
Gir#"5F  
NW~z&8L  
评估光线分布的方法： DU%w1+u  
1.查看在最终表面上的足迹图 Ze<K=Q%(i  
在Edit Window中输入： IJTtqo  
ZZQG?("S'  
PUPIL 1 400 W{z.?$SH  
RED $,I q;*7N  
OBI IND 0 0                                                                               {NpM.;  
PLOT 2 1 0 0                                                                             !-s!f
&_  
TRACE P 0 0 400 *"9><lJ-!  
OBI IND 0 1 &aM7T_h8  
BLUE FYs)MO  
TRACE P 0 0 400 PcB_oG g  
OBI IND 0 -1 01!s"wjf  
GREEN -(#I3h;I  
TRACE P 0 0 400                                                                           xI,2LGO  
END '65LKD  
IUR<.Y`  
vVGDDDz/  
HM>lg`S  
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 "5cM54Z0  
wf,7==  
OBI INDEX 0 1 f%5zBYCgC  
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS G!4(BGx&  
OBI INDEX 0 0 Gm*X'[\DD  
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS Y
*_)h\f  
OBI INDEX 0 -1 A+@&"  
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS $R<Me  
0G!]=  
FOR RECTANGLE I ZQHu h  
SIZE 5 5 FP[!BUOf"  
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 E.1J2Ne  
PLOT a^,(v  
这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 keRE==(D  
4Llo`K4  
"~TA SX_?  
3.使用另一个特性 照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面光束的均匀性。 KfF!{g f  
输入格式： U%0Ty|$Y  
1+?^0%AC