举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 )#8}xAjV
RLE xXlx}C
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE p:V1VHT,
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 =~ k}XB
APS 1 ~b@"ir+g4
GLOBAL w3;{z ,,T
NOSEQUENTIAL ^5Zka!'X2Z
UNITS MM ~ mz X1[
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 Id1de>:;
0 AIR ^WF_IH&
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 Oy b0t|do+
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 osc A\r
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR pk`5RDBu
1 CC -1.04500000 X.sOZb?$
1 AIR \l%##7DRp]
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 V-3;7
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR AZf69z
2 AIR YYL3a=;`a
END c/^l2CJ0
+koW3>
RSOL 10 20 2 0 123 ht#,v5oG>f
PLOT O0;mXH
3?D{iMRM
BLUE
`n@;%*6/
PUP 1 200 * =*\w\
te
gF`hlYD
OBI INDEX 0 1 `6RccEm
TRACE P 0 0 200 V>`9ey!U
^q`RaX)
OBI INDEX 0 0 [kTckZv
RED [+8*}03
TRACE P 0 0 200 wwv+s ~(0
yY{
OBI INDEX 0 -1 EI)2c.A
GREEN ~!M"
PUPIL 1 200 %mIdQQ,
TRACE P 0 0 200 =J"c'Z>.
END 5(G Vwv
#3tC"2MZ
| #b/EA9
评估光线分布的方法: Al]*iw{
1.查看在最终表面上的足迹图 cltx(C>
在Edit Window中输入: sy-#Eo#3
~1aM5Ba{
PUPIL 1 400 :sw@1
RED <Ql2+ev6
OBI IND 0 0 C9_[ke[1D
PLOT 2 1 0 0 ^x$1Nf
TRACE P 0 0 400 9Fw NX
OBI IND 0 1 +=d=
BLUE .|Yn[?(
TRACE P 0 0 400 j<6+p
r
OBI IND 0 -1 XL9-N?(@
GREEN H:
;XU
TRACE P 0 0 400 ggrkj0
END d^v.tYM$N
`~_H\_JpO
^w&!}f+
2kk; z0f
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 o?cNH
o\PHs4Ws'7
OBI INDEX 0 1 rg=Ym.
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS F@#p
OBI INDEX 0 0 ;.rY`<|
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS ]>ndFE6kl
OBI INDEX 0 -1 :."6 g)T
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS mB6%. "
/{P-WRz>
FOR RECTANGLE "c?31$6
SIZE 5 5 E$&bl
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 7TU xdI
PLOT /1D.Ud^
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 $dWYu"2CD
(i?9/8I
FD~
UF;VQ
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 1~},}S]id
输入格式: yjq|8.L[
G
RTDplv; ]