举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
0.PG]K6 RLE
1NTx?J JfW ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
x U{0rM" WAVL .6562700 .5875600 .4861300
2cS94h APS 1
D;48VK/Q GLOBAL
>#;_Ebl@ NOSEQUENTIAL
L*p7|rq$" UNITS MM
zLxuxf~4@ OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
&{# 6Z 0 AIR
e< 8KZ 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
cN2Pl%7 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
GVf[H2%H 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
VgY6M_V 1 CC -1.04500000
(Xz q(Q V 1 AIR
9)[)0 7 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
t"~X6o|R 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
%k"hzjXAw 2 AIR
bz,"TG[ END
<
uV@/fn< :YLYCVi| RSOL 10 20 2 0 123
*. A-UoHa PLOT
YO fYa z)eN M}cF BLUE
<)J@7@!P PUP 1 200
XfEp_.~JM
Du-Q~I6 OBI INDEX 0 1
i$:yq. DW TRACE P 0 0 200
/ 7a3* a m< ;MOS OBI INDEX 0 0
uzp\<\d-t RED
TL -AL tG TRACE P 0 0 200
Mx 3f T>? #!m^EqF1_ OBI INDEX 0 -1
iH dX GREEN
:a=]<_*x PUPIL 1 200
3EA _-? TRACE P 0 0 200
=8]Ru(#Ig END
<8h3 )$ 
;?-{Uk p lzwk>b_ 评估光线分布的方法：
t`Xx\ 1.查看在最终表面上的足迹图
|\ C. il7 在Edit Window中输入：
hA`9 [58/ &u) qw } PUPIL 1 400
jC-`u-_'j RED
SM<qb0 OBI IND 0 0
r $ LU$F PLOT 2 1 0 0
mkgL/h* TRACE P 0 0 400
S4E@w Li OBI IND 0 1
pUgas?e& BLUE
0'zjPE# TRACE P 0 0 400
J|z ' <W OBI IND 0 -1
~ihi!u%~} GREEN
&Ci_wDJ TRACE P 0 0 400
-H 5-6w$ END
o
7 V&HJ[ 
G+3uY25y Aq$o&t 09iD| $~ 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
'Rv.6>xqc
sBE@{w% OBI INDEX 0 1
+xr;X 9 GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
] )zpx- OBI INDEX 0 0
|g\CS 4$ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
a=[|"J<M OBI INDEX 0 -1
@d ^MaXp_P GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
? J"Y4,{ ^<aj~0v FOR RECTANGLE
OJ7y SIZE 5 5
grDz7\i: VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
)9!J
$q PLOT
$K 1)2WG 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
n8&x=Z}Xs 
Z~"8C Kz gg Hl{cl) 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
1fh6A`c 输入格式：
fa/p 
NE@P8pQ>
