举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 mOsp~|d
RLE a,c!#iyl3
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE rm,`M
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 0+* NHiH
APS 1
>Q\Kc=Q|
GLOBAL Kf[d@L
NOSEQUENTIAL PC#^L$cg}
UNITS MM IT_I.5*A2
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 Go)$LC0Mi
0 AIR 9qB0F_xl
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 I4X9RYB6c
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 dz] 5s
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR Icnhet4
1 CC -1.04500000 FQDf?d5
1 AIR 6:7[>|okQ
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 Cku"vVw,
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR N>!:bF
2 AIR _qxI9Q}<"
END L=4+rshl!_
cQU;PH]
RSOL 10 20 2 0 123 W&?Qs=@
PLOT lT^su'+bk
r!mRUw'u
BLUE JL1ajlm~
PUP 1 200 hJ}i+[~be
F)LbH&Kn
OBI INDEX 0 1 2X?GEO]/4
TRACE P 0 0 200 'u7-Qetj
faDSyBLo
OBI INDEX 0 0 d#g))f;
RED "jFf}"
TRACE P 0 0 200 ]%' AZ`8
P=QxfX0B
OBI INDEX 0 -1 2*|T)OA`m,
GREEN hH8&g%{2
PUPIL 1 200 E7:xPNU
TRACE P 0 0 200 _v,0"_"
END
Q.g/
!GqFX+!Ju
i}) s4%a
评估光线分布的方法: )>iOj50n3
1.查看在最终表面上的足迹图 /T w{JO#Q
在Edit Window中输入: v`HER6
Z[oF4 z
PUPIL 1 400 H3A$YkK [
RED h:
' |)O
OBI IND 0 0 f!9i6
PLOT 2 1 0 0 b(Nv`'O
TRACE P 0 0 400 w&p+mJL.
OBI IND 0 1 jf~](TK
BLUE WAa45G
TRACE P 0 0 400 q&3
;e4
OBI IND 0 -1 VI0wul~M
GREEN [FO4x`
TRACE P 0 0 400 D|:'|7l W
END /eF@a!
-*C
WF|<G
Kxr@!m"
`2mddx8
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 v@_1V
C= ~c`V5>r
OBI INDEX 0 1 *]$B 9zVs!
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS XB)D".\
OBI INDEX 0 0 ar3L|MN
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS XUqorE
OBI INDEX 0 -1 (bsx|8[
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS m=dNJF
QJ|@Y(KV0
FOR RECTANGLE f9.?+.^_
SIZE 5 5 !J$r|IX5
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 sh<Q2X
PLOT $DbnPZ2$
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 mMAN*}`O
k# [!; <
#-/W?kD
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 %5o2I_Cjz
输入格式: w'S,{GW
F9K%f&0 a