举例：设置三个
光源，每个光源包含在一个圆锥体中，该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式（PUP 1），设置
光线数为200；使用三种不同颜色追迹三个光源的光线，追迹光线数为200，来绘制一个旋转实体图。
..g?po RLE
t kJw}W1@ ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
x&SG gl WAVL .6562700 .5875600 .4861300
.7|kxJq APS 1
*Fe GLOBAL
RZ#~^5DiO NOSEQUENTIAL
'4""G z UNITS MM
Ki DL]2 OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
(`
N@4w= 0 AIR
L 93&.d@m9 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
L&WhX3$u 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
_RHB ^y;- 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
ca}, tov & 1 CC -1.04500000
)Zcw G(o0 1 AIR
dfss_}R 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
W".: 1ov#B 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
B7 ^*xskH 2 AIR
GV1SKa END
I| 27%i X?'v FC RSOL 10 20 2 0 123
P 'dH* }H PLOT
?IWLH-fkP =/J{>S>(i BLUE
sfv{z!mo PUP 1 200
7vRFF@eq} r LU+-_ OBI INDEX 0 1
f ""+jc1 TRACE P 0 0 200
U;l!.mze "5+x6/9b OBI INDEX 0 0
/i${ [1 RED
NZ}DbA+g;| TRACE P 0 0 200
Z +qT Mm d1"%sI OBI INDEX 0 -1
:U M tknV GREEN
S8 { S b> PUPIL 1 200
x Ty[X"sJ TRACE P 0 0 200
eiNF?](3O END
R*v~jR/ 
YhVV~bvz* iL%Q@!ka 评估光线分布的方法：
?G48GxJ 1.查看在最终表面上的足迹图
Xlw8> .\ 在Edit Window中输入：
zO) >(E? OqaVp/, PUPIL 1 400
=sR]/XSK RED
w;RG*rv OBI IND 0 0
o]#M8)= PLOT 2 1 0 0
b R6g^Yf TRACE P 0 0 400
mr`Lxy9e OBI IND 0 1
3kl<~O|Fs BLUE
w }OJ2^ TRACE P 0 0 400
5iG+O4n% OBI IND 0 -1
^sWsP` DV GREEN
'q #$^ ='o TRACE P 0 0 400
{Q&@vbw' END
J^Dkx"1GD 
"I)*W8wTn jK[~d Y $6(,/}==0 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型，再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
/G zA89N( ]w3- No OBI INDEX 0 1
<`B4+:;w6 GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
1kiS."77x OBI INDEX 0 0
#hA] r. GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
YPjjSi:# OBI INDEX 0 -1
xHA6 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
* 5H \Bg;^6U FOR RECTANGLE
-|?I'~[#( SIZE 5 5
/ _N*6a~ VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
@E(_H$|E PLOT
7rc6 这里，为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
=Me94w>G3X 
F~NmLm }`O_ 3.使用另一个特性
照明模式（IPAT），它会绘制最终表面的照明图案，以便检查最终表面
光束的均匀性。
Z*Sa%yf 输入格式：
A]z~Dw3
'u \ my
