举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
e^N}(Kpy RLE
p ^)3p5w ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
h1$75E?, WAVL .6562700 .5875600 .4861300
zT>BC}~.b APS 1
mgb+HNH%q\ GLOBAL
c/l^;6O/!\ NOSEQUENTIAL
ss`Sl$ UNITS MM
)kYDN_W OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
z00,Vr^m 0 AIR
=}Yz[-I 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
HKVtO%& 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
}q,d JE 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
f*Os~@K 1 CC -1.04500000
oFsV0 {x%) 1 AIR
~"8r=8| 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
hV
fANbs 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
mrig5{ 2 AIR
aYc^ 9*7 END
2G_]Y8 N686~ RSOL 10 20 2 0 123
HumL(S'm PLOT
d)d0,fi?- h-DHIk3/ BLUE
,E"n 7*6mr PUP 1 200
*JZlG%z 3^-\=taN<m OBI INDEX 0 1
|OuIQhoE TRACE P 0 0 200
`^|l+TJG pnXwE-c_ OBI INDEX 0 0
m>*~tP RED
7R5+Q\W TRACE P 0 0 200
]<S{3F= (O&HCT| OBI INDEX 0 -1
:#D~j]pP GREEN
oVW>PEgB- PUPIL 1 200
[2!C^\t TRACE P 0 0 200
69`*u<{PC END
Rr}m(e=
&=XK:+ tYhcoV 评估光线分布的方法:
Pc<0kQg 1.查看在最终表面上的足迹图
\s!x;nw[ 在Edit Window中输入:
bD-OEB 5=R]1YI~$ PUPIL 1 400
)KGz -!1c RED
Pz0TAb OBI IND 0 0
{d.K)8\ PLOT 2 1 0 0
nj1PR`AE TRACE P 0 0 400
<j3|Mh_(I OBI IND 0 1
>]uu?!PU BLUE
}daU/ TRACE P 0 0 400
0
ZSn r+ OBI IND 0 -1
=ADOf_n} GREEN
@uanej0q7 TRACE P 0 0 400
C~C`K%7 END
+O.qYX
:}-?X\|\ mu5r4W47 O 0$V+fE 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
-!K&\hEjj X~SNkM OBI INDEX 0 1
F!p;]B GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
zg$ag4%Qgg OBI INDEX 0 0
]wi0qc2{ GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
1g j GaC OBI INDEX 0 -1
5=%KK3 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
{'z$5<| 7|GSs= FOR RECTANGLE
)PW|RW SIZE 5 5
CxSh.$l VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
A;dD'Kgl PLOT
X4Pm&ol 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
+L@\/=;G
ZOpKi:\ #=;vg 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
UtQCTNjC{ 输入格式:
@^o7UzS4z
E0yx
@Vx