举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
[(lW^- RLE
<P_-s*b ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
`c$V$/IT WAVL .6562700 .5875600 .4861300
2>%=U~5 APS 1
F^:3?JA_ GLOBAL
2,b$7xaf NOSEQUENTIAL
B+`g>h UNITS MM
6gDN`e,@ OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
*.[.
{qG( 0 AIR
yG{TH0tq 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
Pq$n5fZC! 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
jP.dDYc 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
XiWmV ? 1 CC -1.04500000
:ws<-Qy 1 AIR
?@x/E& 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
gSj,E8-g 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
Vurqt_nb 2 AIR
$`8wJf9@w END
]SEZaT #'`{Qv0,
RSOL 10 20 2 0 123
;_=&-mz PLOT
HzsdHH(J [-w%/D%@ BLUE
%]i15;{X PUP 1 200
h";L c71y'hnT OBI INDEX 0 1
V;=cwy)I TRACE P 0 0 200
hy!3yB@ x+]" OBI INDEX 0 0
2~V*5~fb RED
Fr-SvsNFB TRACE P 0 0 200
uY*L,j^) U<XG{<2 OBI INDEX 0 -1
zt%Mx>V@ GREEN
zbiL P83 PUPIL 1 200
zQ PQ TRACE P 0 0 200
1Y,Z
%d END
,esmV-
I/N *gy?* XWw804ir 评估光线分布的方法:
n6v6K1 1.查看在最终表面上的足迹图
\=o- 在Edit Window中输入:
b.938#3, "@ n%Z PUPIL 1 400
,!9zrYi} RED
`D9$v(Ztr OBI IND 0 0
b,@/!ia PLOT 2 1 0 0
jEwIn1 TRACE P 0 0 400
h+,@G,|D OBI IND 0 1
!R$`+wZ62 BLUE
F0#
'WfM# TRACE P 0 0 400
w-jVC^C] OBI IND 0 -1
~LC-[&$ GREEN
Ys7]B9/1O TRACE P 0 0 400
p
ll)Y END
$cgcX
,x $,l a'T;x`b8U, dN6?c'iN?2 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
wC*X4 ' <3
uNl OBI INDEX 0 1
X3&
Jb2c2 GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
d-%hjy3N OBI INDEX 0 0
y`Z\N
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
TA\vZGJ(' OBI INDEX 0 -1
c@Is2
9t* GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
xD 7]C|8o +T+#q@ FOR RECTANGLE
76SXJ9@x SIZE 5 5
JGZBL{8 VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
rM SZ" PLOT
`0svy} 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
$VR{q6[0S?
CN?gq^ ,: ^u-b| 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
A}w/OA97RO 输入格式:
%2h>-.tY
b2*TgnRq