举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
@) ]t8( RLE
$o::PDQ? ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
"URVX1#(r WAVL .6562700 .5875600 .4861300
"N]WL5$i APS 1
!-@SS> GLOBAL
5vl2yN NOSEQUENTIAL
F.&*D~f UNITS MM
PK9Qm'W b OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
4v i B=> 0 AIR
Xek E#?. 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
DwQp$l'NfW 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
<`b|L9 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
O/'f$ Zj36 1 CC -1.04500000
P}b Dn; 1 AIR
K T"h74@ 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
Oym]&SrbS 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
@)8NI[=6O 2 AIR
W>UjUq); END
8cequAD 8Na}Wp;|Gi RSOL 10 20 2 0 123
047*gn.b PLOT
yzODF>KJ i,^>uf BLUE
6YB-}>? PUP 1 200
8VKb* VN1#8{ OBI INDEX 0 1
"1E?3PFJ
TRACE P 0 0 200
vjY);aQ PP~CZ2Fze OBI INDEX 0 0
.kz(V5 RED
h6K!|-Gq. TRACE P 0 0 200
UEk|8yq DWHOSXA4 OBI INDEX 0 -1
NO%|c|B| GREEN
w`2_6[,9 PUPIL 1 200
i@sCMCu6 TRACE P 0 0 200
4"rb&$E END
)2
GA}hp% )[F46?$vrk 评估光线分布的方法:
=aX1:Z 1.查看在最终表面上的足迹图
Vu^Q4Z 在Edit Window中输入:
jTGS6{E g#pIMA#/ PUPIL 1 400
sf=%l10Fk# RED
0EF,uRb OBI IND 0 0
_&6juBb PLOT 2 1 0 0
R|d^M&K, TRACE P 0 0 400
~{kA) : OBI IND 0 1
}j]<&I} BLUE
y81#UD9[ TRACE P 0 0 400
6T5A31 Q OBI IND 0 -1
([z<TS#Md GREEN
Lcm~QF7cd TRACE P 0 0 400
E0WrpGZ END
C"V?yDy2~
|^>L`6uo @Wlwt+;fT yAZ.L/jyr 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
Z)b)v T% jjs OBI INDEX 0 1
Iltg0`
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
!]UU;8h~ OBI INDEX 0 0
.F=<r-0 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
4OB~h]Vc OBI INDEX 0 -1
'2i)#~YO< GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
!kjr>:)x oqQ? 2k<@ FOR RECTANGLE
'=@H2T6= SIZE 5 5
>8.v.;` VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
1GyA QHx, PLOT
8z3I~yL_`+ 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
a`GN@
8
d[qEP6B UlLM<33_) 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
v\r7.l:hf 输入格式:
UH.}B3H
8{U]ATx'(