举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 >"[Nmx0;w
RLE QB#_Wn
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE sMcN[r
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 +J3Y}A4W3X
APS 1 2Yg\<PsN
GLOBAL LY2QKjgP
NOSEQUENTIAL B:6VD /qC
UNITS MM )v %tyU
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 <
49\B
0 AIR I+rLKGZC
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 }1|FES
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 zYEb#*Kar
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR &%4A3.qE
1 CC -1.04500000 EMf"rGXu(
1 AIR 7Mb-v}
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 sOm&7A?
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR {-51rAyi
2 AIR K1t>5zm
END X<d`!,bn@
\9 k3;zw
RSOL 10 20 2 0 123 g2 tM!IRQ
PLOT ?>q5Abp[
yc0_7Im?
BLUE _ .xicov
PUP 1 200 %JuT'7VB
[fg-"-+:M
OBI INDEX 0 1 Y{<SD-ibZ$
TRACE P 0 0 200 =QhK|C!$A
Jp(CBCG{F
OBI INDEX 0 0 c\VD8 :
RED O5ZR{f&
TRACE P 0 0 200 sV`p3L8pl
:`Xg0J+P
OBI INDEX 0 -1 0F<$Zbe2B
GREEN mA4]c
PUPIL 1 200 fz<GPw
TRACE P 0 0 200 u2cDSRrqT
END hlGrnL
{YEGy
gaR~K
评估光线分布的方法: :_kZkWD5
1.查看在最终表面上的足迹图 J#?z/ 3v(
在Edit Window中输入: |9]_<X[ic
|)%;B%
PUPIL 1 400 s ?|Hw|j
RED $j"BHpN
OBI IND 0 0 z)%]#QO
PLOT 2 1 0 0 Ag}P
TRACE P 0 0 400 U3|9a8^H
OBI IND 0 1 l a>H&
BLUE WT:ZT$W
TRACE P 0 0 400 G.>Ul)O:a
OBI IND 0 -1 EU.!/'<
GREEN n W:Bo#
TRACE P 0 0 400 4MP8t@z
END #O!gjZ,
!_>o2
e,T^8_>
!CR#Fyt+9
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 /.Jq]"
; - 8]
OBI INDEX 0 1 C'a#.LM
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS nTr{D&JS
OBI INDEX 0 0 KB8_yo{y
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS D/puK
OBI INDEX 0 -1 sv2XD}}
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS 6@Ir|o
9z7rv,
FOR RECTANGLE HH|N~pBJB
SIZE 5 5 |};-.}u^`h
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 1'b}Y8YO
PLOT tfVlIY<
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 hZ-?-F?*@
6/&|)gW',
nRcy`A%
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 ISg-?h/
输入格式: Z*YS7 ~
8BX9JoDi