举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 m\xlSNW'q
RLE GT3?)g{Z
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE T=D|jt
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 #Rx|oSc}
APS 1 K]s*rPT/,
GLOBAL ~4'AnoD1w
NOSEQUENTIAL o b,%); m
UNITS MM ?X5Y8n]y\h
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 M#a1ev
0 AIR >Ndck2@
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 %UnL,V9)
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 SE;Yb'
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR unZYFA}(
1 CC -1.04500000 8{ooLdpX7
1 AIR g*%z{w
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 Z:3SI$tO
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR /CfgxPo
2 AIR N:nhS3N<L
END "2
"gTS
DJ.n8hne
RSOL 10 20 2 0 123 rwh,RI)
)g
PLOT KYN{Dh]-}
h#o?O k
BLUE G>f2E49BXt
PUP 1 200 Q-7C'|
8AgKK=C=
OBI INDEX 0 1 D_2~
6
TRACE P 0 0 200 Fh0cOp(
e$=UA%
OBI INDEX 0 0 !wNj;ST*
RED 7 S6@[-E
TRACE P 0 0 200 `j)S7KN
Fx6]x$3
OBI INDEX 0 -1 O4lHR6M2
GREEN E=eK(t(8
PUPIL 1 200 yNU.<d 5
TRACE P 0 0 200 {>rGe#Vu
END Al-;-t#Dc
pS6p}S=1]
o +KDK{MD
评估光线分布的方法: n4%ZR~9WH
1.查看在最终表面上的足迹图 Ae[Na:G+
在Edit Window中输入: K0xka[x=(
9?J
3G,&
PUPIL 1 400 Y5,[udF:O
RED 05PRlz*x=
OBI IND 0 0 |0N6]%r
PLOT 2 1 0 0 8urX]#
TRACE P 0 0 400 d.Im{-S
OBI IND 0 1 e:uk``\
BLUE SR8)4:aKW
TRACE P 0 0 400 K~6,xZlDWM
OBI IND 0 -1 bbe$6x wi
GREEN 1r?hRJ:'
TRACE P 0 0 400 ]/ffA|"U`
END XV %DhR=
?_V&~?r
b<bj5m4fz>
s:ZYiZ-
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 Q}6!t$Vk
@]F1J
OBI INDEX 0 1 j0`)m R}
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS w 8BSY
OBI INDEX 0 0 /?*GJN#
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS =`pH2SJT
OBI INDEX 0 -1 I 6-.;)McO
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS 9Rd&Jq^
$~c
wB
FOR RECTANGLE 6 @A'N(I=O
SIZE 5 5 ?DrA@;IB
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 JEh(A=Eu>
PLOT dtx3;d<NsJ
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 Nbvs_>N
j[Q9_0R~lR
r?2EJE2{V
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 !*G%vOa
输入格式: N5d)&a
7?
RIdh],-