举例:设置三个
光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双
曲面。声明该
系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置
光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。
B0Xn9Tvk RLE
vERsrg;( ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE
Fc 5g~T WAVL .6562700 .5875600 .4861300
t?YGGu^ APS 1
l}:9)nXA{ GLOBAL
Dc #iM0 NOSEQUENTIAL
sNS!/ UNITS MM
{U-VInu OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3
BuK 82 0 AIR
el+euOV 1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000
LL kAA?P 1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000
NrS1y"#d9 1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR
lFI"U^xC 1 CC -1.04500000
{#>@h7 1 AIR
)9L1WOGi 2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000
+de.!oY 2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR
P9X/yZ42 2 AIR
~w4aA<2Uq END
V1#/+~ <(s+ RSOL 10 20 2 0 123
IE'OK PLOT
1wGd5>GDA Ao?H.=#y BLUE
1Voo($q. PUP 1 200
4y%N(^ f8'&(- OBI INDEX 0 1
8c]\4iau TRACE P 0 0 200
9Z7o?S"; SGjaH8z OBI INDEX 0 0
GW.s\8w RED
ed>_=i TRACE P 0 0 200
%"+FN2nbm s)xfTr_$ OBI INDEX 0 -1
63-`3R?; GREEN
{7B$%G' PUPIL 1 200
4.CLTy3W TRACE P 0 0 200
3lA<{m;V END
kTs)u\r.
T5W r;a ;) (qRZd6 评估光线分布的方法:
qXP)R/~OZ 1.查看在最终表面上的足迹图
w;r -TLf 在Edit Window中输入:
stoBjDS %Ljc#AVg PUPIL 1 400
Tje =vI RED
X+bLLW>& OBI IND 0 0
/c__{?go PLOT 2 1 0 0
6mMJ$FY+ TRACE P 0 0 400
`=%[ OBI IND 0 1
*C's7O{O BLUE
*"j_3vAx TRACE P 0 0 400
o"QpV
>x OBI IND 0 -1
Q.M3rRh GREEN
.R biF TRACE P 0 0 400
&AOw(?2 END
P|_?{1eO2
u+th?KO` Y6^lKw fgTvwOSk 2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像
模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。
[9aaHf@' E62VuX OBI INDEX 0 1
R/<
/g= GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS
+S0A`rL OBI INDEX 0 0
i!YZF$| GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
`C_#EU- OBI INDEX 0 -1
{&w%3 GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS
J6NQ5S\ 988aF/c FOR RECTANGLE
V/>SjUNq SIZE 5 5
e0>@Yp[Kd VARY Y POSITION FROM -50 TO 50
CcAsJX~_ PLOT
Yg2z=&p-{" 这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形
探测器从下到上对其进行检查。
vk;>#yoox
}[ux4cd8Y wrGd40 3.使用另一个特性
照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面
光束的均匀性。
&WvJg#f 输入格式:
'>'h7F=tY
d'Gv \i&e