举例:设置三个光源,每个光源包含在一个圆锥体中,该圆锥体被建模为一个半径非常短的双曲面。声明该系统为NOSEQUENTIAL,因此可以看到在圆锥体内发生多次反射。使用默认光瞳模式(PUP 1),设置光线数为200;使用三种不同颜色追迹三个光源的光线,追迹光线数为200,来绘制一个旋转实体图。 TZT1nj"n
RLE Kw%n;GFl'
ID NONSEQUENTIAL OBI EXAMPLE O6LuFT.
WAVL .6562700 .5875600 .4861300 Ax=k0%M[&
APS 1 -`mHb
GLOBAL uqhNi!;
NOSEQUENTIAL !$:lv)y
UNITS MM A.!V*1h{
OBI -5. 0.5 80. 14. 14. 1 3 Z2yZz:.'
0 AIR 0 ttM_]#q
1 CAO 6.00000000 0.00000000 0.00000000 PXZZPW/
1 CAI 0.26400000 0.00000000 0.00000000 1k5o?'3&
1 RAD 0.0020000000000 TH 100 AIR *Ge2P3
1 CC -1.04500000 VQr)VU=jb
1 AIR ( aGwe@AS
2 RAO 200.00000000 100.00000000 0.00000000 0.00000000 pq"3)+3:
2 CV 0.0000000000000 TH 0.00000000 AIR Z /-!-
2 AIR 8+Y+\XZG
END rUX1Iu7
!<wM?Q:
RSOL 10 20 2 0 123 H!y%Fa Ti
PLOT R"S,&
$J>J@4
BLUE Nw`}iR0i
PUP 1 200 ;:JTb2xbb
KJ
Gh)
OBI INDEX 0 1 FK
MuRy|
TRACE P 0 0 200 wG1A]OJl1
o(,u"c/Or
OBI INDEX 0 0 /dU-$}>ZI
RED sv<U$M~)X
TRACE P 0 0 200 QRs!B!Fn0
C:77~f-+rQ
OBI INDEX 0 -1 ~.;S>o[
GREEN (fc
/"B-
PUPIL 1 200 P
+U=/$o
TRACE P 0 0 200 %&L]k>n^
END ^^[MDjNy@
>&K1+FSmyJ
[vuqH:Ln
评估光线分布的方法: ,Db+c3
1.查看在最终表面上的足迹图 )q?z"F|
在Edit Window中输入: hadGF%> O6
'Ldlo+*|5
PUPIL 1 400 \de824
RED Zy BN o]
OBI IND 0 0 IS;F9{
PLOT 2 1 0 0 ,LjB%f[
TRACE P 0 0 400 *I0{1cST
OBI IND 0 1 XG
fLi
BLUE s2t'jIB
TRACE P 0 0 400 ^c1%$@H
OBI IND 0 -1 ;<Dou7=
GREEN :IFTiq5a;
TRACE P 0 0 400 6Sh0%Fs
END n>F1G
MX
Las4ux[_
AP=mj
9Wng(ef6G
2.查看光线密度随位置的变化。必须首先使用GMODEL或DMODEL创建图像模型,再使用FOR...PLOT程序进行图像分割。 `3!ERQU
(\
`knsE!
OBI INDEX 0 1 KsM2?aqwf_
GMODEL P 0 9000 1 0 0 AXIS sy+o{] N
OBI INDEX 0 0 $QQv$
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS .aWEXJ
OBI INDEX 0 -1 )Yvf9dl
GMODEL P 0 9000 1 0 ADD AXIS _@3?yv~ D
,^MA,"8
FOR RECTANGLE ^E&':6(
SIZE 5 5 KDP7u
VARY Y POSITION FROM -50 TO 50 Ic4>kKh
PLOT MIPmsEdBi
这里,为每个光源创建了一个光线图的复合几何模型。然后通过一个尺寸为5x5的矩形探测器从下到上对其进行检查。 0Y#S2ty
s8T}ah!
CybHr#LBc
3.使用另一个特性 照明模式(IPAT),它会绘制最终表面的照明图案,以便检查最终表面光束的均匀性。 /[YH
W]
输入格式: AY['!&T
9.R)iA