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摘要 -b)p6>G-C \2eYw.I=
K"-N:OV \ov>?5 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 K=`*cSU> Qyd3e O_ 建模任务 uz'beE 1`2lTkg
hw~cS7 '[\%P2c)Q 由于组件倾斜引起的干涉条纹 y7,~7f!N2 jGt'S{
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/xsa-F Z.<1,EKi= 文件信息 9h*$P:S;1v 6LvUi|~"<
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