|
摘要 KZ:hKY@q {D`T0qPT[
sen=0SB/ l=m(mf?QBg 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ^{yk[tHpS AMCyj`Ur 建模任务 nE W31 8 svhI3"r
Ey`h1Y gAbD7SE 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ,xi({{L* ]0j9>s2|Z
E/b"RUv}h
``K#}3 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 kU l A#y@`}]!'
YTaLjITG \?fI t? 文件信息 >{zk
qvsQ& zw@'vncc
@x&P9M0g v3[@1FQ" 0Q9T3X OjE`1h\ 6dqsFns}e 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
|