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摘要 Fu/{*4 >_m4
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WER\04%D\m ;=ci7IT' 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 OD~TWT_ S^/:O.X)c, 建模任务 w?db~"T {W5D)
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H{4/~Z ?->&)oAh 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 j%Cr)'H? Hc"FW5R
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