|
|
摘要 t4/ye>P &
0(:SEiz6s
 K :~tZ BOq9\g`5s 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 cGdYfi
a'dlA da 建模任务 -)}Z
$;1a
N@}h
 \x]\W#C 5$N#=i `V 由于组件倾斜引起的干涉条纹 V %D1Q}X
n \JI7A}
 kw]?/s` #d-zH:uq 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 [A"=!e$< ar}-~~h 5
 =y )K er IOdxMzF`m 文件信息 ,u PcQ
nw%`CnzT
 f% )9!qeW 0< vJ *z|_ y1Z>{SDiq
{+E]c:{ oZ d 3H 购买与相关软件试用请联系QQ：1824712522
|
