|
摘要 dK.R[aQ )1f+ld%R
cC%j!8! 3 > |uF 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 {"m0)G,G &]< 3~6n 建模任务 xP{-19s1] 1}!L][(
Z:@6Lv?CN MiJ6 n[iv 由于组件倾斜引起的干涉条纹 WL l_'2h &~#iIk~%
:a.0hes mc
ZGg;3 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 "jR]MZ ]#zZWg
zv
*|YU]b;W rjUBLY1( 文件信息 p0M=t- ,r=re!QI7
LkBZlh_ FXahZW~Ol 5 y Ox qguT, zAs&%OjG 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
|