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摘要 $2 0*&4y^ `SWK(=' \)hmg ruVm8BO 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 UF4QPPH4 i7_BnJJX{B 建模任务 xk9]jQ7 mc$dR,
H0 &Jz%L^ h2y@xnn 由于组件倾斜引起的干涉条纹 %* 8QLI nr }H;wB hLF@'ln [@)|j=:i: 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 BScysoeD aj:+"X-; SU^/qF%8 <W1!n$V ] 文件信息 SVJ3!1B, r mhB!Lo :&]%E/ &' Ch[Wo]H #"jWPe,d %u#pl=k} ]yyfE7{q 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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