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摘要 4'QX1p fyQOF ItM
Pn,I^Ej . &8$v~ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 )qy?x7 __=53]jGE 建模任务 (/:m*x*6 @KQ>DBWQM
'=dQ$fs %8*:VR 由于组件倾斜引起的干涉条纹 A`7(i'i5] ddQ+EY@!
"&6vFm r DU^.5f 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Kg%9&l 64B.7S88
VZ9 p " ZHTi4JY 文件信息 ~?\U];l f,G*e367:
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