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摘要 Yx`n:0 ZWm6eD
;<4a*;IO &uVnZ@o42 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 uhq8 w&.aQGR# 建模任务 Z4bNV?OH "$vRMpW:
x.4m|f0; tX~w{|k 由于组件倾斜引起的干涉条纹 tpx2IE (^>J&[=
K:WDl;8(d tO&^>&;5 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 X5w$4Kj&4l q1ma%eiN
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