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摘要 ~D)!zQkD 6Q._zk
~agzp`!M yw%5W=< 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 'MHbXFM +89s+4Jn 建模任务 ;_lEu" - zW_V)UNe
ji[O? ,rp-`E5ap 由于组件倾斜引起的干涉条纹 eswsxJ/! 0NB6S&lI^k
'V5^D<1P ?N,'1I 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 _Z|s!~wdz ^ )Lh5
e%'$Vx0kA D/w4u;E@ 文件信息 tZ]|3wp e4V4%Qw
Ne<"o]_M ,Z;z}{.hq 6s833Tmb&r FBM 73D@` ->oQ,ezB 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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