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摘要 -$;H_B+. mBc;^8I?23
?7G?uk]3,@ [8Ub#<]] 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 =KNg "| e~J% NU '& 建模任务 H7"I+qE-G '2z o
XPzwT2_E `a:@[0r0U 由于组件倾斜引起的干涉条纹 FqsG#6|x .x6*9z#q
ZcX%:ebKS VYf$0oo\4 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 jD_(im5 Gyy:.]>&
-O~WHi5} Rjo6Pd{d< 文件信息 P%pB]d.qpi 'm}~
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