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摘要 GXwQ
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M $Tn b4CXif 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 X<uH [ X=[`+= 建模任务 uiq;{!dop rW[7
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I@uin|X ksV^Y=] 由于组件倾斜引起的干涉条纹 Wl{wY,u N#8$pE
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_))--+cL H1 e^/JD) 文件信息 `_E@cZ4 $`txU5#vs
x<>In"QV (@cZmU, 84y#L[ J72YZrc =~ ="# 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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