|
|
摘要 \o !
=BQM(mal
 I\DmVc\l BM=`zGh" 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Z
l.}=
~E-YXl9 建模任务 EJ{Z0R{{
IK5FSN]s/
 6l&m+!i :kh l}| 由于组件倾斜引起的干涉条纹 @Tb
T
9 \i;zpN\
 Q1EY !AV8 -
{<`Z 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 6la# 0U23 u\=gps/Z
 /tRzb8` _?>!Bz
m 文件信息 K:yS24\ %
l=D E|:
 u{0+w\xH\ 9XWF&6w6yf xb\(>7M6Y
A Ntp7ad H6E@C}cyM 购买与相关软件试用请联系QQ：1824712522
|
