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摘要 AR-&c 3o zLiFk<G@Xi
#{kwl|c ?R}a,k 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Sc zYL?w^ _ *O^|QbM 建模任务 ,D`iV| ( IA XoEBlMs
hs"=>(P) -C|1O%. 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ]D;X"2I2'b t:G67^<3
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