|
摘要 Z;:u'= IHJ=i- ENGg
~D V`bi&1?6\ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 -Xxqm%([71 Axe8n1*y 建模任务 rzh#CnL3 bpKZ3}U nij!1z|M `eIenA 由于组件倾斜引起的干涉条纹 m6',SY9T
?sMP~RHQ Bh=u|8yxc fp[|M 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ,]+z)
Y0_),OaY ++V=s\d7 i1>-QDYnJ 文件信息 u"d~!j1 ? P(
ZA :&:JTa1cv mw='dFt :j]vf8ec r9
!Tug*>m 6bBB/yd 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
|