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摘要 Q kEvw< ]6(N@RC
=[cS0Sy dJeNbVd 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 "U>JM@0DNm aeFe!`F 建模任务 eg\v0Y!rI Ce9|=Jx!
([T>.s }Jy8.<Gd^ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 1PVtxL?1P &C,'x4c"
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