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摘要 WpLZQ6wH AC.A'|"]i
P(>(K{v 1'4J[S\cM 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 zLD|/` >l+EJ3W 建模任务 sIl33kmv 5`<eKwls
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e2C<PGUUB do-c1;M 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ?v-1zCls ==cd>03()
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