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摘要 moQ><>/ ,/.U'{
KFCL|9P o<`)cb } 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 `O-LM e E"ju<q/Q 建模任务 :n3)vK +39Vxe:Oy
G)(\!0pNZ ],*^wQ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 _":yUa0D Cdjh/+!f
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32_{nLV$[ 4X2XSK4 文件信息 y(pHt c65_E<5Z
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