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摘要 $-;x8O]u 4&'_~ qU oLz9mqp2% uc-Go
6W 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 $,#,yl ol ~ZXAW~a} 建模任务 B)L;ja Cd51.Sk(l TM?7F2 5"8R|NU:\0 由于组件倾斜引起的干涉条纹 |4u?Q+k%% %QKRl5RM- Trwk9 + G?QU|<mj< 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 t4CI +fqy B#9T6|2 &yQM8J~ mB]Y;R< 文件信息 }^ G&n';J Q W1d&Gb.( 6mbHfL>cO (VA:`pstP SK_i 3? 7]6HXR @ g w`}eA$ 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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