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摘要 ezgP\ct /*B-y$WQk
d [6[3B )Gh"(]-< 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 oGu-:X=`9 Z9E[RD 建模任务 ~K&ko8 +pkX$yz
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F]0ju 由于组件倾斜引起的干涉条纹 S bc T;-&3
iqRk\yq< ^M0e 0 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 dmgoVF_qR ]N!8U_U3
\L($;8`\ 6F(;=iY8 文件信息 #/=s74.b
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om@GH0o+ BGh1hyJ8d g\[?U9qN |:7O )*}2L_5] 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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