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摘要 xF ,J[Aj bFTWuM
ad"&c*m[ `*~:nvU 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 OixQlAb{ 31_5k./ 建模任务 XjX<?W #<?j784
s{CSU3vYmi e0hT 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ;`xu)08a lh5k@\X
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Jw86P= Ak1f*HGl| 文件信息 xXyzzr1[ 7g=Ze~aq
D}_\oE/n `HHbQXB hup]Jk &'(:xjN TM"i9a? ; 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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