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摘要 ^'Lp<YJs6
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 &S.p%Qe" w#9. U7@. 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 1<x5{/CZ
kN 2mPD/ 建模任务 {C`M<2W]
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 ~jKIuO/ q#O tp\f 由于组件倾斜引起的干涉条纹 5Zc
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 2pHR $GZ2 b^i$2$9_ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Q +hOW- 9i #,V @
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QN;NuDHN jMWTNZ 购买与相关软件试用请联系QQ：1824712522
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