|
摘要 0O[q6!&] m(9E{;
i^
1P6B wLW!_D,/R 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 +^`c"qJo !I:6L7HdwB 建模任务 !]W6i]p xe}"0'g
z.7 UfLV9 %uQ^mK 由于组件倾斜引起的干涉条纹 N!hp^V<7 IUwY/R9Q
yfYAA*S!z 5Pn$@3 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 R D)dw bE0cW'6r
xJ,V!N SdN|-'qf 文件信息 .0Cpqn,[ jMg Ni@
+i{&"o4} cJL>,Z<|% V[CS{Hy' QRx'BY$5 9Lv`3J^~ 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
|