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摘要 Bq~?!~\?. 1`2lq~=GV b"(bT6XO! .Fx-$Yqy 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 :!w;Y;L:+ o4H' 建模任务 H<Zs2DP` U]Fnf?( _N"c,P0 &; [0.:; 由于组件倾斜引起的干涉条纹 Tffdm MZt&HbD- NKYHJf2?x +7Qj%x\ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Ai~d JqK-vvI 2{01i)2 y Y'?{yx{ 文件信息 3J[ 5^ TUi< ug?#Oa e0g>.P@6 =k2"1f~e pAH9 i}kMo@ 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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