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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    离线xunjigd
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 Sd}fse  
    SlsMMD  
    高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 -N*g|1rpa  
    7| IW\  
    7zpwP  
    EGU? 54  
    建模任务 Yb414K  
    4jO~kcad  
    a]$KI$)e  
    概述 cXtL3T+  
    ;/ >~|@  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 ^:LF  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 0nG& LL5  
    $;"@;Lj%,  
    `Fu|50_@V  
    Koahd =  
    光线追迹仿真 5|Vb)QBv%  
    eBtkTWx5[/  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 H;Z{R@kf  
    •单击go! <&b ~(f  
    •获得了3D光线追迹结果。 @q[-,EA9  
    l AE$HP'o  
    [Zi\L>PHO  
    sRt|G  
    光线追迹仿真 tE<L4;t  
    g oWD~'\  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 Ff%m.A8d,4  
    •单击go! V ;"?='vVe  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 eAm7*2  
    (f $Y0;v>}  
    Z/:( *FC  
    />.&  
    场追迹仿真 m <aMb  
    /8J2,8vZ  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 3J%jD  
    •单击go! Qt]nlui~  
    ~F uD6f  
    # |w,^tV  
    /.7x[Yc  
    场追迹仿真(相机探测器) [Z~>7ayF+)  
     //K]zu  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 :8yrtbf$  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 m6+2r D  
    tJ2l_M^  
    KDg!Y(m{  
    |'Ve75 W6u  
    场追迹仿真(电磁场探测器) \`|,wLgH  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 7o0e j#  
    *l_1T4]S  
    F2 >o"j2  
    T*|?]k 8@*  
    场追迹仿真(电磁场探测器) )u3<lpoTy  
    ;2#HM^Mu  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 r$G;^  
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    文件信息 q\d'}:kfu  
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    pd>EUdbrp&  
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    更多阅读 [<8<+lH=P  
    )k0bP1oGS  
    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer !\+SE"ml  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination WoesE:NiR  
    |hOqz2|  
    (来源:讯技光电)
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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