摘要
Sd}fse SlsMMD 高
数值孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
-N*g|1rpa 7|IW\ 7zpwP EGU?54 建模任务
Yb414 K 4jO~kcad a]$KI$)e 概述
cXtL3T+ ;/>~|@ •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
^:LF •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
0nG&
LL5 $;"@;Lj%, `Fu|50_@V Koahd= 光线追迹仿真
5|Vb)QBv% eBtkTWx5[/ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
H;Z{R@kf •单击go!
<&b ~(f •获得了3D光线追迹结果。
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AE$HP'o [Zi\L>PHO sRt|G 光线追迹仿真
tE<L4;t goWD~'\ •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
Ff%m.A8d,4 •单击go!
V ;"?='vVe •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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$Y0;v>} Z/:(*F C />.& 场追迹仿真
m <aMb /8J2,8vZ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
3J%jD •单击go!
Qt]nlu i~ ~F
uD6f # |w,^tV /.7x[Yc 场追迹仿真(相机探测器)
[Z~>7ayF+) //K]zu •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
:8yrtbf$ •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
m6+2rD tJ2l_M^ KDg!Y(m{ |'Ve75 W6u 场追迹仿真(电磁场探测器)
\`|,wLgH •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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8@* 场追迹仿真(电磁场探测器)
)u3<lpoTy ;2#H M^Mu •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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