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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 ` |Z}2vo;j  
    }WLh8i?_  
    数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 F'RUel_%  
    [I*! lbt  
    )(M7lq.e7  
    /u<nLj1  
    建模任务 OW;tT=ql  
    gk0.zz([  
    bzpFbfb  
    概述 9=l.T/?sf  
    A;XOT6jv?  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 p zw8T  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Nh?| RE0t  
    uYI@ 9U  
    f>jwN@(  
    Wzq>JNn y  
    光线追迹仿真 } l 667N  
    kh$_!BT  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 {2d_"lHBt  
    •单击go! n 1b(\PA  
    •获得了3D光线追迹结果。 IXLO>>`  
    @exey  
    &7mW9]  
    ff? t[GS  
    光线追迹仿真 TA18 gq  
    'fV%Z  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 gO?44^hMe  
    •单击go! NR%Y+8^M  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 }Nj97 R  
    d;[u8t  
    W[bmzvJ_X  
    +>^7vq-\'  
    场追迹仿真 |iYg >  
    +]xFoH  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 &$FvWFRh#  
    •单击go! 6(&Y(/  
    Lz9#A.  
    JNI>VP[c  
    FVsj;  
    场追迹仿真(相机探测器) +Lm4kA+aE5  
    "bQ[CD  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 fG LG$b  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 or*HC&c7  
    t !`Jse>  
    b8KsR=]4I  
    & -l8n^  
    场追迹仿真(电磁场探测器) km5~Gc}  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 I+ l%Sn#\  
    GOy%^:Xd  
    7Ey#u4Q  
    mdih-u(T|  
    场追迹仿真(电磁场探测器) u^W2UE\  
    .\3`2  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 eJ8]g49mD6  
    * A|-KKo\  
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    PaB!,<A  
    文件信息 yoe}$f4  
    e&q?}Ho  
    ws/63 d*  
    f&@BKx  
    更多阅读 v`[Eb27W.  
    >RI>J.~  
    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer <G8w[hs  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination :,pSWfK H  
    )vB2!H/  
    (来源:讯技光电
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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