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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 ,#L=v]  
    -bSSP!f  
    高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ]]oI#*c  
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    t3&LO~Ye  
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    建模任务 u (em&M  
    'U\<IL#U  
    YTexv;VNb|  
    概述 QT>`^/]d  
    `CgaS#  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 'gTbA?+@5  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 2 -C!jAfd  
    BA%pY|"Q  
    o1h={ao  
    Vp3ZwS  
    光线追迹仿真 5yzv|mrx  
    urMG*7i <c  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 M>i9i -dU  
    •单击go! /Q2mMSK1h  
    •获得了3D光线追迹结果。 Z(ACc9k6:'  
     ng_^  
    L.jh   
    /oR<A  
    光线追迹仿真 S'_-G;g.  
    ~s]iy9i  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 A.EbXo/  
    •单击go! }L#_\  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 jO1r)hw N>  
    FMClSeO7  
    OVhE??#  
    .MJofE;Jn  
    场追迹仿真 -wSg2'b4E  
    /iJ4{p   
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 /$'AjIg4:&  
    •单击go! V9dF1Hj  
    ) `A3M)  
    b/{t|io{  
    ^ml'?  
    场追迹仿真(相机探测器) o8-^cP1  
    QUQu^p  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 @++.FEf  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 Bhp-jq'!B  
    wT:b\km:!  
    -< &D  
    }7 c[Q($K  
    场追迹仿真(电磁场探测器)  .5y+fL  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 gm[z[~X@  
    }#Qc \eud  
    LkK~%tY  
    twlk-2yT!  
    场追迹仿真(电磁场探测器) .b6VQCS~9  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 &qr;IL7'  
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    文件信息 NwG= <U*  
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    更多阅读 )Hk3A$6(  
    mM-8+H?~b  
    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer 1PP $XJtyD  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination }XSfst5-H  
    kT!9`S\  
    (来源:讯技光电)
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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