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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 "pl[(rc+u  
    N~0$x,bR  
    数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 ":z@c,  
    uRs9}dzv  
    ZS|Z98  
    N6f%>3%1|.  
    建模任务 >4#tkv>S.  
    tTE3H_   
    8Q)y%7 {6  
    概述 Mof)2Hbd:  
    Mj,2\ijNM  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。  !zF4 G,W  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Dt (:u,%  
    }]Qmt5'NI  
    ~F=#}6kg_  
    IcO9V<Q|  
    光线追迹仿真 sCL/pb]  
    :v''"+\  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 =/M$ <+  
    •单击go! XC 57];-  
    •获得了3D光线追迹结果。 Qdh"X^^  
    moZ)|y  
    %y!   
    56VE[G  
    光线追迹仿真 [%7IQ4`{  
    Z={UM/6w  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 $Cut  
    •单击go! .[]{ Q  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 |~Htj4K/  
    X*43!\  
    Cv gPIrl  
    F<H`8*q9  
    场追迹仿真 bEEJVF0  
    cob9hj#&7  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 Sj,4=a  
    •单击go! qYQUr8{  
    la!1[VeL  
    O1l4gduN|i  
    c4FOfH|  
    场追迹仿真(相机探测器) >Lo6='G  
    #mi0x06  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 P6.)P|n7=  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 6kgCS{MZ  
    '33Yl+h  
    ,APGPE}I[  
    z{7,.S u  
    场追迹仿真(电磁场探测器) 7"h=MB_  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 UEx(~>  
    rPrEEWS0)  
    )dUd`g  
    B' P,?`  
    场追迹仿真(电磁场探测器) z+5u/t  
    ,3g]= f  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 WzNG<rG  
    NzwGc+\7}  
    Ae,2Xi  
    Cf WK6>  
    文件信息 #! K~_DL  
    :BC<+T=  
    61t-  
    -wG[>Y  
    更多阅读 FC jYTGA  
    ~7eUt^SD;  
    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer 'Sb6 w+  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination  A[wxa  
    g,{Ei]$>I  
    (来源:讯技光电
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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