摘要
"pl[(rc+u N~0$x,bR 高
数值孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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ZS|Z98 N6f%>3%1|. 建模任务
>4#tkv>S. tTE3H_
8Q)y%7{6 概述
Mof)2Hbd: Mj,2\ijNM •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
!zF4 G,W •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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(:u,% }]Qmt5'NI
~F=#}6kg_ IcO9V<Q| 光线追迹仿真
sCL/pb] :v''"+\ •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
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<+ •单击go!
XC57];- •获得了3D光线追迹结果。
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%y! 56VE[G 光线追迹仿真
[%7IQ4`{ Z={UM/6w •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
$Cut •单击go!
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Q •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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CvgPIrl F<H`8*q9 场追迹仿真
bEEJV F0 cob9hj#&7 •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
Sj,4=a •单击go!
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O1l4gduN|i c4FOfH| 场追迹仿真(相机探测器)
>Lo6='G #mi0x06 •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
P6.) P|n7= •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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u 场追迹仿真(电磁场探测器)
7"h=MB_ •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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)dUd `g B'P,?` 场追迹仿真(电磁场探测器)
z+5u/t ,3g]=f •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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