摘要
"Y4glomR[ ;+#Nb/M 高
数值孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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p&)d]oV> cnw+^8 建模任务
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ab.B?bx 概述
9HlWoHuC $e,r>tgD •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
QP%Hwt]+ •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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8;JvCz 光线追迹仿真
N[fwd=$\# +9pock •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
kg7bZ •单击go!
WSv%Rxr8L •获得了3D光线追迹结果。
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rl$"~/ oz s1#A0%gx 光线追迹仿真
I3'UrKKO jt9- v- •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
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}L •单击go!
'$'a .q1q9 •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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G!G:YVWXP !y>up+cRjl 场追迹仿真
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pj(" •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
UugR •单击go!
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:PY6J}: ?,+&NX3m 场追迹仿真(相机探测器)
=PNkzFUo G-K{ •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
D]rYg' •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
B.;@i;7L 0 z]H=
a^E>LJL ocMTTVo 场追迹仿真(电磁场探测器)
;3xi.^=B •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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*QIYq v6[VdWOx5 场追迹仿真(电磁场探测器)
8O60pB;4 i_*. •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer f&$;iE -
Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination &(l.jgqg& \*qradgx$ (来源:讯技光电)