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    [分享]VirtualLab:分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2019-11-25
    摘要 TiF+rA{t  
    P$Oj3HD LM  
    数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 k61mRO  
    e<*qaUI  
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    建模任务 Ow.DBL)x'>  
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    ?c+$9  
    概述 jM @N<k  
    .g1x$cQ1<  
    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 T\g+w\N  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 841y"@*BY  
    e([>sAx!1  
    iy_Y!wZ{  
    zBu@a:E%H  
    光线追迹仿真 p$qk\efv*4  
    OM{^F=Ap  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 m C`*#[  
    •单击go! (CY D]n  
    •获得了3D光线追迹结果。 CtV|oeJ  
    r-TrA$k  
    x^EW'-a  
    T&+3Xi:  
    光线追迹仿真 ! |UX4  
    {Dk!<w I)  
    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 s\pukpf@  
    •单击go! 6ulx0$[  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 =y_KL  
    nc\`y,>l8  
    Dmr*Lh~  
    RL/y7M1j  
    场追迹仿真 s1[&WDedM  
    jC4>%!{m  
    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 u~ipB*Zf  
    •单击go! M\a{2f7'n  
    o{`x:  
    yF? O+9R A  
    PfRA\  
    场追迹仿真(相机探测器) @uCi0Pt  
    1n[)({OQ  
    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Nr~!5XO  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 z<%bNnSO  
    z!O;s ep?/  
    \fiy[W/k  
    ^4+NPk  
    场追迹仿真(电磁场探测器) hTzj{}w  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 wT\BA'VQ  
    " nCK%w=  
    *$BUow/>  
    G}g;<,g~  
    场追迹仿真(电磁场探测器) Um{) ?1  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 7@\.()  
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    文件信息 g9|OhymB  
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    更多阅读 2Ax"X12{6  
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    -Optical System for Inspection of Micro Structured Wafer ?Y3i-jY  
    -Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination 4@3\Ihv  
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    (来源:讯技光电
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-11-26
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