摘要
$ReoIU^< rXgU*3RG 高
数值孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
S &N[@G X} <p|P+
6_1v~# 6d4)7PL 建模任务
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w% Vw*i6o 概述
cG{>[Lf ixJ%wnz •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
t{A/Lq9AM •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
R{N9'2l: P4H%pm{-
vK@t=d 1VRexp 光线追迹仿真
g<d#zzP"T ,-({m' •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
57PoJ+ •单击go!
Vm+e% •获得了3D光线追迹结果。
J)yNp,V =\u QGH
(4ueO~jb$ \l$gcFXb 光线追迹仿真
5ctH=t0 [3&Y* W •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
LNm{}VJ% •单击go!
YhpNeP{A •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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27S<Q CB&$tDi
t>]wWYy 7=Vs1TVc 场追迹仿真
ZMFV iE;8 ~x}/>-d •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
vbXZ Z •单击go!
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|gl~wG1@ i]sz*\P~ 场追迹仿真(相机探测器)
gA`x-` /d<"{\o •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
f[}N •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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<[N"W82p _4H}OGZI 场追迹仿真(电磁场探测器)
Ujw J}j •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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!%pY)69gv kB`t_`7f 场追迹仿真(电磁场探测器)
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